透镜单元及摄像装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种透镜单元及摄像装置，其能够进一步抑制来自包含快门单元的光限制单元的磁影响对抖动校正单元的磁传感器的影响。在从沿光轴(OA)的方向观察时，在从旋转磁铁(67)的中心(C1)延伸的基准线(L1)伴随旋转磁铁(67)的旋转而通过的区域(AR1)内配置Y方向检测霍尔元件(磁传感器52)，从而能够抑制光限制单元(40)的第一促动器(71)对抖动校正单元(30)的Y方向检测霍尔元件(磁传感器52)带来的磁影响，能够进行高性能的位置检测。另外，能够将第一促动器(71)和Y方向检测霍尔元件(磁传感器)52配置在附近，能够使透镜单元(100)和具有其的摄像装置(1000)小型化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种具有能够遮光的快门等并且具有光学地校正像抖动的机构的透镜单元及具有其的摄像装置。
技术介绍
以往以来，公知具有如下结构的像抖动校正单元:为了防止在手持拍摄时容易产生手抖动等而导致像抖动，使用磁传感器的抖动检测装置来检测相机的抖动状况，与其检测结果对应地使像抖动校正透镜或摄像元件沿与光轴正交的方向位移移动。在具有这样的像抖动校正单元的相机中，因小型化或光学系统设计上的制约，在抖动校正单元的附近配置有搭载了快门或光圈的快门单元。在这样的情况下，驱动快门或光圈时从促动器产生的磁对磁传感器带来影响，存在不能进行准确的抖动校正的问题。对于这样的问题，作为现有技术，公开了规定驱动快门或光圈的促动器和磁传感器的配置的结构(参照专利文献I)。但是，即使在实施现有技术所示的对策的情况下，根据快门单元侧的促动器和像抖动校正单元侧的磁传感器的配置，存在从促动器产生的磁对抖动校正单元的位置检测带来不良影响的问题、以及因从磁传感器至快门单元的距离的制约而损害设计自由度的问题。这是因为，从促动器产生的磁具有指向性，并且无论是否需要独立地考虑从构成促动器的线圈和旋转磁铁分别产生的磁影响，都没有充分地研究。专利文献1:日本特开2008 - 216877号公报
技术实现思路
本专利技术是鉴于上述
技术介绍
而研发的，其目的在于，提供一种能够进一步抑制例如来自包含快门单元的光限制单元的磁影响对抖动校正单元的磁传感器带来影响的透镜单元及具有其的摄像装置。为了实现上述目的，本专利技术的第一透镜单元具有:抖动校正部(抖动校正单元)，其进行摄像时的像抖动的校正；光限制部(光限制单元)，其限制入射的光的至少一部分，所述抖动校正部具有:移动框，其保持校正用透镜及摄像元件的任一方；固定框，其支承移动框；驱动部，其驱动移动框并使其相对于固定框位移；磁传感器，其检测移动框的位置，光限制部具有:快门及光圈中的至少一方；促动器，其具有开闭驱动线圈及旋转磁铁，并且驱动快门或光圈，开闭驱动线圈将该开闭驱动线圈的卷绕中心线配置在与磁传感器的磁检测方向大致垂直的方向，通过使旋转磁铁以与光学系统的光轴大致平行的轴为中心旋转，能够使快门或光圈成为打开状态和关闭状态，在从沿光轴的方向观察时，在穿过旋转磁铁的中心且表示旋转磁铁的磁性方向的基准线伴随旋转磁铁的旋转而通过的区域内，配置所述磁传感器。根据上述透镜单元，在从沿光轴的方向观察时，在穿过旋转磁铁的中心且表示旋转磁铁的磁性方向的基准线伴随旋转磁铁的旋转而通过的区域内，即，在从旋转磁铁产生的磁的指向性弱(变化量小)的区域内，配置磁传感器，因此能够抑制光限制部的促动器对抖动校正部的磁传感器所带来的磁影响，能够进行高性能的位置检测。另外，能够将促动器和磁传感器配置在附近，并且能够使透镜单元和具有其的摄像装置小型化。根据本专利技术的具体方式，在上述第一透镜单元中，旋转磁铁的旋转角度为±30°以下。根据本专利技术的另一方式，在从沿光轴的方向观察时，在相对于穿过开闭驱动线圈的卷绕中心且与卷绕中心线垂直的横截线成45°以下的范围内，配置磁传感器。作为对磁传感器带来影响的磁的发生源，不仅考虑到构成促动器的旋转磁铁，还考虑到来自线圈的影响，由于旋转磁铁和开闭驱动线圈的磁分别存在指向性，所以不仅考虑与旋转磁铁之间的位置关系，开闭驱动线圈和磁传感器的位置关系也采用上述结构，从而能够进一步抑制对磁传感器带来的磁影响，能够进行高性能的位置检测。此外，在从沿光轴的方向观察时，更优选在相对于穿过开闭驱动线圈的卷绕中心且与卷绕中心线垂直的横截线的30°以下的范围内配置磁传感器。根据本专利技术的另一方式，在从沿光轴的方向观察时，在穿过开闭驱动线圈的卷绕中心且与卷绕中心线垂直的横截线上配置磁传感器。在该情况下，能够缩小磁影响大的范围，能够提高促动器和磁传感器的配置自由度。根据本专利技术的另一方式，由于能够减少对磁传感器带来的磁影响，所以在开闭驱动线圈的卷绕中心和磁传感器的中心之间的关于沿光轴的方向的距离为3?15mm时，即使是容易对磁传感器产生磁影响的位置关系，也能够进行高性能的位置检测。此外，上述距离更优选为5?10mm。为了实现上述目的，本专利技术的第二透镜单元具有:抖动校正部，其进行时的像抖动的校正；光限制部，其限制入射的光的至少一部分，抖动校正部具有:移动框，其保持校正用透镜及摄像元件的任一方；固定框，其支承移动框；驱动部，其驱动移动框并使其相对于固定框位移；磁传感器，其检测移动框的位置；被检测磁铁，其固定在移动框，光限制部具有:快门及光圈中的至少一方；促动器，其具有开闭驱动线圈及旋转磁铁，并驱动快门或光圈，开闭驱动线圈将该开闭驱动线圈的卷绕中心线配置在与磁传感器的磁检测方向大致垂直的方向配置，通过使旋转磁铁以与光学系统的光轴大致平行的轴为中心旋转，能够使快门或光圈成为打开状态和关闭状态，在将从促动器产生的磁影响所导致的磁传感器上的与光轴平行的Z方向的磁通变化量设为A，将通过被检测磁铁和磁传感器相对位移而产生的磁传感器上的单位移动量的Z方向的磁通变化量设为B，将摄像面上的像的移动量相对于移动框的移动量的比率设为D时，值A/BXD相当于摄像元件的5像素(画像相当)以下。根据上述透镜单元，由于上述值A/BXD相当于摄像元件的5像素以下，所以能够抑制光限制部的促动器对抖动校正部的磁传感器带来影响而对移动框施加不希望的位移，能够进行高性能的位置检测。另外，能够将促动器和磁传感器配置在附近，能够使具有透镜单元的摄像装置小型化。优选的是，值A/BXD相当于3像素以下，更优选的是，相当于I像素以下。根据本专利技术的另一方式，在上述第一或第二透镜单元中，光限制部至少包含所述快门，所述促动器驱动所述快门开闭。在该情况下，光限制部至少作为快门单元而起作用，能够防止在快门驱动时促动器对抖动校正部的磁传感器带来影响而使像抖动的校正精度降低。这里，从快门的促动器产生的磁影响与从光圈的促动器产生的磁影响相比，对摄影结果也就是说图像取入直接带来影响的可能性高。这是因为，光圈的驱动没有在通过摄像元件取得摄影图像的时刻进行。另一方面，快门的驱动是在通过摄像元件取得摄影图像的时刻进行，因此对摄影图像直接带来影响的可能性高。因此，从该观点出发，特别是，将霍尔元件(磁传感器)相对于快门的促动器的配置设定成难以产生磁影响的结构很重要，优选与霍尔元件相对于光圈的促动器的配置关系相比，更为优先考虑霍尔元件相对于快门的促动器的配置。为了实现上述目的，本专利技术的摄像装置具有上述透镜单元。本专利技术的摄像装置能够进行高精度的抖动的校正的同时，实现小型化。【附图说明】图1是实施方式的相机主体的立体图。图2是实施方式的透镜单元的立体图。图3是表示从透镜单元的透镜镜筒取出的状态下的内置可动部的立体图。图4是内置可动部的分解立体图。图5是从像侧观察从内置可动部拆下上框和柔性印刷基板的内部的图。图6是用于说明快门单元内的促动器、快门叶片等的配置的图。图7是概念性地说明内置可动部200的结构和构成要素的配置关系的剖视图。图8A是设置在快门单元的第一促动器的主视图，图8B是第一促动器的立体图。图9A?9C是用于说明第一促动器和抖动校正用的磁传感器的配置关系的图。图1OA是从旋转磁铁产生的磁影响的实验结果的等高线图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种透镜单元，其特征在于，具有：抖动校正部，其进行摄像时的像抖动的校正；光限制部，其限制入射的光的至少一部分，所述抖动校正部具有：移动框，其保持校正用透镜及摄像元件的任一方；固定框，其支承所述移动框；驱动部，其驱动所述移动框并使其相对于所述固定框位移；磁传感器，其检测所述移动框的位置，所述光限制部具有：快门及光圈中的至少一方；促动器，其具有开闭驱动线圈及旋转磁铁，并且驱动所述快门或所述光圈，所述开闭驱动线圈将该开闭驱动线圈的卷绕中心线配置在与所述磁传感器的磁检测方向大致垂直的方向，通过使所述旋转磁铁以与光学系统的光轴大致平行的轴为中心旋转，能够使所述快门或所述光圈成为打开状态和关闭状态，在从沿所述光轴的方向观察时，在穿过所述旋转磁铁的中心且表示所述旋转磁铁的磁性方向的基准线伴随所述旋转磁铁的旋转而通过的区域内，配置所述磁传感器。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：铃木裕介，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP