缺陷位置修正方法技术

该缺陷位置修正方法具有：使粘贴着导体带的检查对象物的表面产生超声波振动的工序；检测上述超声波振动的F回波及B回波的工序；基于上述F回波及上述B回波的检测值检测由上述导体带带来的伪缺陷的工序；取得上述伪缺陷的位置信息的工序；基于上述伪缺陷的位置信息取得上述伪缺陷的位置信息的差的工序；以及基于上述差将内部缺陷的位置信息修正的工序。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】缺陷位置修正方法
本专利技术涉及缺陷位置修正方法。本申请基于2013年1月22日在日本提出申请的特愿2013－009360号主张优先权，这里引用其内容。
技术介绍
最近，通过使用超声波来非接触地检测钢铁材料等的内部缺陷(夹杂物、内部破裂、氢类缺陷等)的电磁超声波探头是周知的。例如，在专利文献1中，记载有具备永久磁铁和适合于探伤脉冲的形成及反射脉冲的接收的电感线圈的电磁超声波探头(EMAT)。此外，在专利文献2中，记载有具备用来对被检体施加偏磁场的磁化器、和用来将超声波向被检体发送并接收由被检体反射的超声波的多个传感器线圈的阵列型电磁超声波探头(EMAT)。专利文献1：日本特许4842922号公报专利文献2：日本特开2005－214686号公报在使用这样的电磁超声波探头(EMAT)检查钢铁材料等的内部缺陷的情况下，将电磁超声波探头沿着检查对象物的输送方向配置为多个列。此时，在各列之间存在规定的间隔(例如0.5～1.5m)。在各列中检测出的内部缺陷的输送方向上的位置与将输送方向上的检查对象物的长度进行测量的测量辊的值有关联地决定。因此，在各列中检测出的内部缺陷的输送方向上的位置有时因测量误差、数据转送的延迟及输送速度的变化等的原因而不一定一致。在这样的情况下，即使在检查对象物中发生了1个重缺陷，检查的结果也被识别为是多个轻缺陷，所以有不能正确地进行内部缺陷的检查(评价)的问题。在因上述原因而在电磁超声波探头的各列中检测出的内部缺陷的输送方向上的位置偏差的情况下，需要修正该位置偏差。所以，例如可以考虑对人工缺陷加工而设置的人工缺陷板进行探伤、通过该人工缺陷板的人工缺陷和由电磁超声波探头检测出的人工缺陷的比较来修正该位置偏差的方法。但是，在使用该人工缺陷板的方法中，有需要用来制作人工缺陷板的成本、需要设置人工缺陷板的空间的课题。进而，在该方法中，需要将人工缺陷板载置到检查线上的作业。并且，由于该作业需要几小时，所以有在此期间需要将检查线停止的课题。
技术实现思路
所以，本专利技术是鉴于上述问题而做出的，目的是提供一种能够提高由电磁超声波探头检测的内部缺陷的位置信息的精度、使检查的可靠性提高的缺陷位置修正方法。为了解决上述课题，本专利技术采用以下的技术方案。(1)有关本专利技术的第1技术方案的缺陷位置修正方法具有如下工序：对沿着检查对象物的输送方向呈多个列配置的电磁超声波探头赋予高频信号，使沿着与上述输送方向正交的方向且以跨越多个上述电磁超声波探头的方式粘贴着导体带的上述检查对象物的表面产生超声波振动；用各列的上述电磁超声波探头检测上述超声波振动的F回波及B回波；基于上述F回波及上述B回波的检测值检测由上述导体带带来的伪缺陷；按照各列中的每个列取得上述伪缺陷的位置信息；基于按照各列中的每个列得到的上述伪缺陷的位置信息对相邻的列取得上述伪缺陷的位置信息的差；以及基于上述差修正由各列的上述电磁超声波探头检测的内部缺陷的位置信息的工序。(2)在上述(1)的技术方案中，也可以是，上述缺陷位置修正方法还具有在上述导体带穿过各列的上述电磁超声波探头时使上述检查对象物的输送速度变化的工序。(3)上述(1)或(2)的技术方案中，也可以是，上述导体带的导电率比上述检查对象物的导电率大。上述导体带相对于上述检查对象物的宽度方向以0°到60°的范围粘贴在上述检查对象物上。(4)上述(1)或(2)的技术方案中，上述导体带的材质也可以是铝或铜，上述检查对象物也可以是铁。(5)在上述(1)～(4)的任一技术方案中，上述导体带相对于上述检查对象物的宽度方向以0°到60°的范围粘贴在上述检查对象物上。根据上述各技术方案，能够提高由电磁超声波探头检测的内部缺陷的位置信息的精度，结果，能够使内部缺陷的检查(评价)的可靠性提高。附图说明图1是表示有关本专利技术的一实施方式的电磁超声波探伤装置的结构的示意图。图2是表示电磁超声波探伤装置的结构的示意图，是从图1的Y方向观察的示意图。图3A是表示钢板的探伤位置和电磁超声波探头检测出的信号强度(F回波、B回波)的特性图。图3B是表示钢板的探伤位置和电磁超声波探头检测出的信号强度(F/B比)的特性图。图4是表示钢板的缺陷图的示意图。图5是示意地表示设在电磁超声波探伤装置中的信号处理装置的结构的图。图6是表示信号处理装置的控制装置的动作的时间图。图7是示意地表示信号处理装置的A/D转换控制装置的动作的第1图。图8是示意地表示信号处理装置的A/D转换控制装置的动作的第2图。图9是示意地表示信号处理装置的运算装置的动作的第1图。图10是示意地表示信号处理装置的运算装置的动作的第2图。图11是示意地表示信号处理装置的运算装置的动作的第3图。图12是示意地表示信号处理装置的运算装置的动作的第4图。图13是示意地表示信号处理装置的运算装置的动作的第5图。图14是示意地表示信号处理装置的运算装置的动作的第6图。图15是示意地表示信号处理装置的运算装置的动作的第7图。图16是表示钢板的缺陷图的示意图，是表示在钢板的长度(输送)方向上发生了偏差的内部缺陷的示意图。图17是表示为了检查而使用的人工缺陷板的示意图。图18是表示在钢板的表面上粘贴着导体带的状态的示意图。图19是表示电磁超声波探头使钢板的表面产生超声波振动的状态的示意图，是表示在钢板的表面上没有粘贴导体带的状态的示意图。图20是图19的放大图，并且是表示在钢板的表面上粘贴着导体带的状态的图。图21是表示为了实现有关本实施方式的缺陷图的修正方法而需要的运算装置的结构的图。图22是表示修正缺陷图的方法的流程图。图23是表示导体带以与钢板宽度方向为平行的方式粘贴在钢板上的状态的图。图24是表示导体带以相对于钢板宽度方向倾斜的方式粘贴在钢板上的状态的图。图25A是示意地表示在导体带的倾斜角为0°的情况下当进行钢板的加减速时得到的导体带的缺陷评价结果(相当于在缺陷图中出现的导体带的伪缺陷)的图。图25B是示意地表示在导体带的倾斜角为45°的情况下当进行钢板的加减速时得到的导体带的缺陷评价结果的图。图25C是示意地表示在导体带的倾斜角为70°的情况下当进行钢板的加减速时得到的导体带的缺陷评价结果的图。图26是表示电磁超声波探头被配置在钢板的上部的状态的示意图。具体实施方式以下，参照附图对本专利技术的优选的实施方式详细地说明。另外，在本说明书及附图中，关于具有实质上相同的功能结构的构成要素赋予相同的附图标记而省略重复说明。(电磁超声波探伤装置的结构例)首先，参照图1及图2，对有关本专利技术的一实施方式的电磁超声波探伤装置(缺陷检查装置)100的结构进行说明。图1是表示电磁超声波探伤装置100的结构的示意图。如图1所示，电磁超声波探伤装置100具备电磁超声波探头102、放大器104(在图1中未图示)、测量辊106、前端检测传感器108、信号处理装置110、显示装置120及警报装置130。作为检查对象物的钢板200被载置到板通过台(未图示)上，通过板通过台的辊的驱动而被向图1的X方向输送(板通过)。在钢板200的上部，沿着宽度方向Y(与输送方向X正交的方向：参照图1)配置有多个电磁超声波探头102，电磁超声波探头102检测钢板200的内部缺陷202。此外，如图1所示，电磁超声波探头102在钢板200的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种缺陷位置修正方法，其特征在于，该缺陷位置修正方法具有如下工序：对沿着检查对象物的输送方向呈多个列配置的电磁超声波探头赋予高频信号，使沿着与上述输送方向正交的方向且以跨越多个上述电磁超声波探头的方式粘贴着导体带的上述检查对象物的表面产生超声波振动；用各列的上述电磁超声波探头检测上述超声波振动的F回波及B回波；基于上述F回波及上述B回波的检测值检测由上述导体带带来的伪缺陷；按照各列中的每个列取得上述伪缺陷的位置信息；基于按照各列中的每个列得到的上述伪缺陷的位置信息对相邻的列取得上述伪缺陷的位置信息的差；以及基于上述差修正由各列的上述电磁超声波探头检测的内部缺陷的位置信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.01.22 JP 2013-0093601.一种缺陷位置修正方法，其特征在于，该缺陷位置修正方法具有如下工序：在利用多个电磁超声波探头使检查对象物的表面产生超声波振动时，成为使上述多个电磁超声波探头沿与上述检查对象物的输送方向正交的方向排列、并且该电磁超声波探头的列以沿上述输送方向形成多列的方式配置的状态，在上述检查对象物上，以跨越沿与上述输送方向正交的方向排列的上述多个电磁超声波探头彼此之间的方式粘贴着导体带，对上述电磁超声波探头赋予高频信号，使上述检查对象物的表面产生超声波振动；用各列的上述电磁超声波探头检测上述超声波振动的F回波及B回波；基于上述F回波及上述B回波的检测值检测由上述导体带带来的伪缺陷；按照上述电磁超声波探头的各列中的每个列取得上述伪缺陷的上述输送...

【专利技术属性】
技术研发人员：田坂隆弘，饭星允规，池田佳士郎，小野田繁，
申请(专利权)人：新日铁住金株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP