在一种多个集成电路装置的云端测试及远程监视的系统及方法中，一个电脑化测试平台经由一个通信网路传送一个测试要求给一个存储多个测试程序的云端服务器单元，所述测试程序分别对应多个相异的测试项目，该测试要求包括集成电路装置各自的装置代码、电脑化测试平台的测试平台代码及其中一或多个测试项目。该云端服务器单元传送一个测试回应给该电脑化测试平台，该测试回应包括对应前述测试项目的其中一(多)个测试程序。该电脑化测试平台执行所述测试程序而产生对应所述集成电路装置的所述装置代码的测试数据。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试一个集成电路装置，特别是涉及在同一测试装置上的集成电路装 置的云端测试及远程监视的系统及方法。
技术介绍
-般而言，集成电路（1C)装置在贩售及使用前会经过精密的测试。各集成电路装 置经过测试以测定是否符合某些由制造业者为该类装置所设定的规格。 举例而言，一个记忆体装置（或一个记忆体模块）对于一个个人电脑的作业系统 的运作的稳定度及可靠度而言是一个关键器件。因此，记忆体装置在贩卖前，制造业者需要 完成电脑系统中的记忆体装置的相容性及可靠度测试。目前的测试软体程序是对记忆体进 行一般性的测试，经由手动操作专用的测试介面执行各测试程序而产生书面记录的测试结 果。此种手动测试的操作，可能发生非故意的人为疏失，且需要较高的测试成本及较长的测 试时间。 为了克服前述缺点，相关业者提出一种自动化测试设备（例如King Tiger Technology Inc.提供的测试系统）以自动地完成记忆体装置及模块的相容性及可靠度测 试。然而，此种自动化测试设备较为复杂，且具有有限的生产量（throughput)及较昂贵的 价格（约一百万美元）。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种能克服前述先前技术缺点的集成电路装置的云端测 试及远程监视的系统及方法。本专利技术针对多个集成电路装置进行云端测试及远程监视的系 统，各该集成电路装置具有一个专有的装置代码，该系统包含： 一个测试装置，包括： -个电脑化测试平台，具有一个专有的测试平台代码， -个多介面连接器单元，该多介面连接器单元用于连接所述集成电路装置，及 一个网路介面单元；及 一个云端服务器单元，连接于一个通信网路，该云端服务器单元包括一个用于存 储多个测试程序的数据库，所述测试程序分别对应于多个相异的测试项目； 其中，当该测试装置借由使用该网路介面单元而通过该通信网路与该云端服务器 单元建立一个通信连结时，该测试装置能经由该通信连结传送一个测试要求给该云端服务 器单元，该测试要求包括连接于该电脑化测试平台的所述集成电路装置的所述装置代码、 该电脑化测试平台的该测试平台代码，及所述测试项目中相关于所述集成电路装置的至少 一者， 该云端服务器单元于接收到来自该测试装置的该测试要求时，能经由该通信连结 传送一个测试回应给该测试装置，该测试回应包括存储于该数据库的所述测试程序中的至 少一者，且所述测试程序中的至少一者对应于所述测试项目中的至少一者， 该电脑化测试平台于接收到来自该云端服务器单元的该测试回应时能执行所述 测试程序中的至少一者，而产生对应所述集成电路装置的所述装置代码的测试数据。 本专利技术针对多个集成电路装置使用一个系统进行云端测试及远程监视的方法，该 系统包括一个测试装置及一个连接于一个通信网路的云端服务器单元，该测试装置包括一 个电脑化测试平台，该电脑化测试平台具有一个专有的测试平台代码且连接于所述集成电 路装置，各该集成电路装置具有一个专有的装置代码，该云端服务器单元存储多个测试程 序，所述测试程序分别对应于多个相异的测试项目，该方法包含： (A)当该测试装置通过该通信网路与该云端服务器单元建立一个通信连结时，该 测试装置的该电脑化测试平台经由该通信连结传送一个测试要求给该云端服务器单元，该 测试要求包括所述集成电路装置的所述装置代码、该电脑化测试平台的该测试平台代码， 及所述测试项目中相关于所述集成电路装置的至少一者； (B)于接收到来自该电脑化测试平台的该测试要求时，该云端服务器单元经由该 通信连结传送一个测试回应给该电脑化测试平台，该测试回应包括所述测试程序中的至少 一者，且所述测试程序中的至少一者对应于所述测试项目中的至少一者；及 (C)该电脑化测试平台执行所述测试程序中的至少一者，以产生对应所述集成电 路装置的所述装置代码的测试数据。 本专利技术的有益效果在于：借由使用云端服务器单元使建构针对测试装置的测试环 境更容易，且更容易达成测试装置的远程监视。再者，借由各测试装置的电脑化测试平台自 动执行测试程序，各测试装置的测试效率能提升，而避免意外的人员操作错误，且缩短测试 装置的测试时间。再者，测试装置的构造较简单、制造成本较低且体积较小，借由增加测试 装置的数目能轻易的达到高生产量。【附图说明】 图1是本专利技术针对多个集成电路装置进行云端测试及远程监视的系统的较佳实 施例的一个方块图； 图2是所述集成电路装置的一个立体图； 图3是该系统的较佳实施例的一个测试装置的一个方块图； 图4是该系统的较佳实施例的该测试装置的一个立体图；及 图5是本专利技术针对所述集成电路装置进行云端测试及远程监视的方法的较佳实 施例的一个流程图，说明该方法的较佳实施例如何使用图1的系统实施。【具体实施方式】 下面结合附图及实施例对本专利技术进行详细说明： 参阅图1，本专利技术针对多个集成电路装置5进行云端测试及远程监视的系统的较 佳实施例包括至少一个测试装置1、一个主服务器2及一个云端服务器单元3,本实施例中 测试装置1以多个为例来说明。各集成电路装置5具有一个专有的装置代码。在本实施 例中，集成电路装置5可以是一个记忆体模块，如记忆卡或固态硬盘（solid state disk ; SSD)，但不以此为限。当集成电路装置5为记忆体模块或固态硬盘，则以产品序号作为该专 有的装置代码。此外，参阅图2,集成电路装置5可以是一个集成电路配件（assembly)，该集 成电路配件包括一个测试设备51，及多个可分离地设置于测试设备51内的记忆体集成电 路52,所述记忆体集成电路52可以是第二代双倍数据速率同步动态随机存取记忆体（DDR2 SDRAMs)、第三代双倍数据速率同步动态随机存取记忆体（DDR3 SDRAMs)或第四代双倍数据 速率同步动态随机存取记忆体（DDR4 SDRAMs)。测试设备51具有该专有的装置代码并包括 一个基座本体及多个盖体513,基座本体具有一个连接介面511且形成有多个分别用于容 置所述记忆体集成电路52的集成电路设置座512,各该盖体513能覆盖对应的集成电路设 置座512,使所述盖体513分别将所述记忆体集成电路52固定于所述集成电路设置座512 内，并使记忆体集成电路52电连接于连接介面511。需要说明的是，在本实施例中，测试设 备51的连接介面511设计成与记忆体模块的连接介面相同。 进一步参阅图3及图4,各测试装置1包括一个壳体10、一个电脑化测试平台11、 一个网路介面单元12、一个设置于电脑化测试平台11上的多介面连接器单元13、一个指示 器控制器14、一个指示器15、一个加热器控制器16、一个加热器17及一个温度感测器18。 壳体10包括一个中空的座体101及一个枢接于座体101的透明盖体102,透明盖 体102与座体101共同界定一个用于容置电脑化测试平台11及集成电路装置5的测试腔 室 100。 电脑化测试平台11可以包括一个主机板、两个中央处理单元、芯片组等（图未 示），其中，主机板的基本输入输出系统（BIOS)包含有一个用于识别电脑化测试平台11或 测试装置1的专有的测试平台代码。 网路介面单元12举例而言可以是一个网路介面卡，且有线地连接于电脑化测试 平台11。借此，电脑化测试平台11能使用网路介面单元12与一本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种针对多个集成电路装置进行云端测试及远程监视的系统，各该集成电路装置具有一个专有的装置代码；其特征在于：该系统包含：一个测试装置，包括：一个电脑化测试平台，具有一个专有的测试平台代码，一个多介面连接器单元，该多介面连接器单元用于连接所述集成电路装置，及一个网路介面单元；及一个云端服务器单元，连接于一个通信网路，该云端服务器单元包括一个用于存储多个测试程序的数据库，所述测试程序分别对应于多个相异的测试项目；其中，当该测试装置借由使用该网路介面单元而通过该通信网路与该云端服务器单元建立一个通信连结时，该测试装置能经由该通信连结传送一个测试要求给该云端服务器单元，该测试要求包括连接于该电脑化测试平台的所述集成电路装置的所述装置代码、该电脑化测试平台的该测试平台代码，及所述测试项目中相关于所述集成电路装置的至少一者，该云端服务器单元于接收到来自该测试装置的该测试要求时，能经由该通信连结传送一个测试回应给该测试装置，该测试回应包括存储于该数据库的所述测试程序中的至少一者，且所述测试程序中的至少一者对应于所述测试项目中的至少一者，该电脑化测试平台于接收到来自该云端服务器单元的该测试回应时能执行所述测试程序中的至少一者，而产生对应所述集成电路装置的所述装置代码的测试数据。...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：林熙方，曾昱傑，叶沛龙，林义傑，庄哲诚，
申请(专利权)人：优力勤股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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