本发明专利技术公开了一种互感器综合测试仪,包括液晶显示屏、外端设备、MCU、控制器、调压器、升流器、采样器、电流采样回路、电压采样回路、电流校正回路和电压校正回路,所述液晶显示屏与MCU连接，所述MCU与控制器连接，所述采样器与MCU连接，所述采样器与调压器连接，所述采样器与升流器连接，所述采样器与电流采样回路连接，所述采样器与电压采样回路连接。本发明专利技术器的操作使用简单方便，对于测试记录还能随机存储和即时打印。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电工
，具体为一种互感器综合测试仪。
技术介绍
目前互感器需要进行多个项目的测试，如CT伏安特性试验、PT伏安特性试验，CT极性试验、PT极性试验，CT变比极性试验和PT变比极性试验，自动计算CT的任意点误差曲线，CT/PT变比比差。所有这些测试项目只有单个地进行，非常麻烦，不利于生产。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种互感器综合测试仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案:一种互感器综合测试仪，包括液晶显示屏、外端设备、MCU、控制器、调压器、升流器、采样器、电流采样回路、电压采样回路、电流校正回路和电压校正回路，所述液晶显示屏与MCU连接，所述MCU与控制器连接，所述采样器与MCU连接，所述采样器与调压器连接，所述采样器与升流器连接，所述采样器与电流采样回路连接，所述采样器与电压采样回路连接。优选的，所述外端设备与MCU连接。优选的，所述控制器与调压器连接。优选的，所述控制器与升流器连接。优选的，所述调压器与升流器连接。优选的，电流采样回路与电压校正回路连接。优选的，电压采样回路与电压校正回路连接。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是:该互感器综合测试仪的操作使用简单方便，对于测试记录还能随机存储和即时打印。【附图说明】图1为本专利技术结构示意图。图中:1、液晶显示屏，2、外端设备，3、MCU，4、控制器，5、调压器，6、升流器，7、采样器，8、电流采样回路，9、电压采样回路，10、电流校正回路和11、电压校正回路。【具体实施方式】下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1，本专利技术提供一种技术方案:一种互感器综合测试仪，包括液晶显示屏1、外端设备2、MCU3、控制器4、调压器5、升流器6、采样器7、电流采样回路8、电压采样回路9、电流校正回路10和电压校正回路11，所述液晶显示屏I与M⑶3连接，所述MCU3与控制器4连接，所述采样器7与MCU3连接，所述采样器7与调压器5连接，所述采样器7与升流器6连接，所述采样器7与电流采样回路8连接，所述采样器7与电压采样回路9连接。工作原理:使用时，采样器7工作，控制电流采样回路8和电压采样回路9采样，电流校正回路10和电压校正回路11进行校正，调压器5和升流器6进行二次调节，传送给MCU3进彳T最后调节。尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本专利技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本专利技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。【主权项】1.一种互感器综合测试仪，包括液晶显示屏(I)、外端设备(2)、MCU (3)、控制器(4)、调压器(5)、升流器￠)、采样器(7)、电流采样回路(8)、电压采样回路(9)、电流校正回路(10)和电压校正回路(11)，其特征在于:所述液晶显示屏⑴与MCU(3)连接，所述MCU(3)与控制器(4)连接，所述采样器(7)与MCU(3)连接，所述采样器(7)与调压器(5)连接，所述采样器(7)与升流器(6)连接，所述采样器(7)与电流采样回路(8)连接，所述采样器(7)与电压采样回路(9)连接。2.根据权利要求1所述的一种互感器综合测试仪，其特征在于:所述外端设备(2)与MCU (3)连接。3.根据权利要求1所述的一种互感器综合测试仪，其特征在于:所述控制器(4)与调压器(5)连接。4.根据权利要求1所述的一种互感器综合测试仪，其特征在于:所述控制器(4)与升流器(6)连接。5.根据权利要求1所述的一种互感器综合测试仪，其特征在于:所述调压器(5)与升流器(6)连接。6.根据权利要求1所述的一种互感器综合测试仪，其特征在于:电流采样回路(8)与电压校正回路(11)连接。7.根据权利要求1所述的一种互感器综合测试仪，其特征在于:电压采样回路(9)与电压校正回路(11)连接。【专利摘要】本专利技术公开了一种互感器综合测试仪,包括液晶显示屏、外端设备、MCU、控制器、调压器、升流器、采样器、电流采样回路、电压采样回路、电流校正回路和电压校正回路,所述液晶显示屏与MCU连接，所述MCU与控制器连接，所述采样器与MCU连接，所述采样器与调压器连接，所述采样器与升流器连接，所述采样器与电流采样回路连接，所述采样器与电压采样回路连接。本专利技术器的操作使用简单方便，对于测试记录还能随机存储和即时打印。【IPC分类】G01R35-02【公开号】CN104880687【申请号】CN201510255918【专利技术人】顾华, 李宏, 刘协昱 【申请人】苏州市华安普电力工程有限公司【公开日】2015年9月2日【申请日】2015年5月19日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种互感器综合测试仪,包括液晶显示屏(1)、外端设备(2)、MCU(3)、控制器(4)、调压器(5)、升流器(6)、采样器(7)、电流采样回路(8)、电压采样回路(9)、电流校正回路(10)和电压校正回路(11),其特征在于：所述液晶显示屏(1)与MCU(3)连接，所述MCU(3)与控制器(4)连接，所述采样器(7)与MCU(3)连接，所述采样器(7)与调压器(5)连接，所述采样器(7)与升流器(6)连接，所述采样器(7)与电流采样回路(8)连接，所述采样器(7)与电压采样回路(9)连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：顾华，李宏，刘协昱，
申请(专利权)人：苏州市华安普电力工程有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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