自动化检测机台制造技术

本实用新型专利技术提供一种自动化检测机台，用于自动检测至少一电子装置，电子装置承载于一承载装置，自动化检测机台至少包括一自动取料装置以及一点亮检测装置。自动取料装置自承载装置取出电子装置。点亮检测装置邻设于自动取料装置，并具有一检测平台，电子装置被自动移动到检测平台上，且点亮检测装置对电子装置进行自动化点亮检测。通过本实用新型专利技术的自动化检测机台，至少可自动化进行电子装置的点亮检测工作，可提高检测效率、降低工艺成本及工站时间，以提高产品的竞争力。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供一种自动化检测机台，用于自动检测至少一电子装置，电子装置承载于一承载装置，自动化检测机台至少包括一自动取料装置以及一点亮检测装置。自动取料装置自承载装置取出电子装置。点亮检测装置邻设于自动取料装置，并具有一检测平台，电子装置被自动移动到检测平台上，且点亮检测装置对电子装置进行自动化点亮检测。通过本技术的自动化检测机台，至少可自动化进行电子装置的点亮检测工作，可提高检测效率、降低工艺成本及工站时间，以提高产品的竞争力。【专利说明】自动化检测机台
本技术是关于一种检测机台，特别是关于一种自动化检测机台。
技术介绍
随着科技的进步，平面显示装置已经广泛的被运用在各种领域，尤其是液晶显示装置，因具有体型轻薄、低功率消耗及无辐射等优越特性，已经渐渐地取代传统阴极射线管显示装置，而应用至许多种类的电子产品中，例如移动电话、便携式多媒体装置、笔记本电脑、液晶电视及液晶屏眷等等。 平面显示装置是一种相当精密的装置，其由相当多的零件所组成，因此于出厂前需对不同工艺的不同阶段进行的一系列的检测工作，例如检测面板的光学特性(是否有Mura)、IC驱动是否正常、外观是否有缺角或刮痕等等，以保证出厂的品质；举例而言，在面板的点亮检测中，现有技术是利用人工将欲检测的面板置放于点亮检测装置的检测平台后，操作点亮检测装置进行检测，当检测完毕后再利用人工自检测平台上取下面板，再移到下一工站进行后续工艺或进行另一项的检测，因此，这种人工移动、检测的方式不仅大量浪费人力及时间成本，而且其检测效率也不高。 因此，如何提供一种自动化检测机台，可提高检测效率、降低工艺成本及工站时间，以提高产品的竞争力，已成为重要课题之一。
技术实现思路
有鉴于上述课题，本技术的目的为提供一种可提高检测效率、降低工艺成本及工站时间，以提高产品的竞争力的自动化检测机台。 为达上述目的，依本技术的一种自动化检测机台，可用于自动检测至少一电子装置，电子装置承载于一承载装置，而自动化检测机台至少包括一自动取料装置以及一点亮检测装置。自动取料装置自承载装置取出电子装置。点亮检测装置邻设于自动取料装置，并具有一检测平台，电子装置被自动移动到检测平台上，且点亮检测装置对电子装置进行自动化点亮检测。 承上所述，因依据本技术的自动化检测机台中，自动化检测机台至少包括一自动取料装置以及一点亮检测装置，其中，自动取料装置可自承载装置取出电子装置，而点亮检测装置具有一检测平台，且电子装置可被自动移动到检测平台上，使得点亮检测装置对电子装置进行自动化点亮检测。藉此，相较于现有以人工上料、下料而言，自动化检测机台至少可自动化进行电子装置的点亮检测工作，故可提高检测效率、降低工艺成本及工站时间，以提高产品的竞争力。 【专利附图】【附图说明】 图1A为本技术第一实施例的一种自动化检测机台的方块示意图； 图1B为第一实施例的自动化检测机台的俯视示意图； 图2A为本技术第二实施例的一种自动化检测机台的方块示意图； 图2B及图2C分别为第二实施例的自动化检测机台的俯视示意图及侧视示意图； 图3A为本技术第三实施例的一种自动化检测机台的方块示意图； 图3B及图3C分别为第三实施例的自动化检测机台的俯视示意图及侧视示意图。 【具体实施方式】 以下将参照相关图式，说明依本技术较佳实施例的自动化检测机台，其中相同的元件将以相同的元件符号加以说明。 请参照图1A及图1B所示，其中，图1A为本技术第一实施例的一种自动化检测机台A的方块示意图，而图1B为第一实施例的自动化检测机台A的俯视示意图。 自动化检测机台A可用于自动化检测至少一电子装置。本实施例的自动化检测机台A为一自动画面检查(Automatic Picture Inspect1n, API)。另外，电子装置例如为平面显示面板、模块或装置的至少一部分，特别是液晶显示面板、模块或装置的至少一部分，且自动化检测机台A可例如用以进行电子装置的光学检测、点灯检测或外观检测，或其他检测，或其组合等，并不限定。其中，电子装置可承载于一承载装置D。承载装置D可为一卡匣(cassette,—个卡匣例如可放置60片面板)、一托盘(一个托盘例如可同时存放12片面板)，或一输送带(或称流水线)，而电子装置可包含至少一面板。在本实施例中，承载装置D例如为一卡匣，而电子装置为一面板，且一个卡匣(承载装置D)可同时存放60片的面板。另外，这里所谓的面板为“素面板”，“素面板”是由薄膜晶体管基板、液晶层及彩色滤光基板所构成，并不包含上、下偏光板及对应的控制电路。 如图1A及图1B所示，自动化检测机台A至少包括一自动取料装置Al以及一点亮检测装置A4。另外，本实施例的自动化检测机台A更包括一定位除尘装置A2、一移载装置A3及一下料装置A5。 自动取料装置Al可自承载装置D中取出电子装置。在本实施例中，自动取料装置Al可为一四轴或六轴的机械手臂，并不限定，且自动取料装置Al (机械手臂)是以吸取方式由承载装置D (卡匣)移动面板至自动化检测机台A内，以自动化进行面板的点亮检测。 定位除尘装置A2与自动取料装置Al连接，自动取料装置Al可将面板由承载装置D自动移动至定位除尘装置A2，且定位除尘装置A2可对面板进行自动化除尘与定位。在本实施例中，是利用机械手臂拿取面板，并将面板移动至定位除尘装置A2的一定位平台A21上进行定位后，再通过吹嘴A22(图1A未标示)对面板吹气，之后，利用粘尘滚轮A23(图1A未标示)对面板进行除尘工作(一次可进行两片面板的定位、吹气及除尘工作)。 移载装置A3分别与定位除尘装置A2及点亮检测装置A4连接，移载装置A3可将已除尘及定位后的面板移到点亮检测装置A4的检测平台A41上，且移载装置A3更将检测完成的面板移出检测平台A41。其中，移载装置A3可例如包含吸嘴、电机、连杆及线轨等元件。另外，点亮检测装置A4邻设于自动取料装置Al、定位除尘装置A2及移载装置A3。点亮检测装置A4具有一检测平台A41，而电子装置被移载装置A3移动到检测平台A41上，且点亮检测装置A4可对电子装置进行自动化点亮检测。在本实施例中，通过移载装置A3的吸嘴(具有两组吸嘴，未标示)可将面板吸取、移动(电机A31驱动而移动)到点亮检测装置A4的检测平台A41上定位(一次可吸取两片面板，并由一电机A31移动至定位除尘装置A2，同时将定位除尘装置A2上的两片面板由另一电机A31移动至点亮检测装置A4)。于点亮检测装置A4的检测平台A41上定位后，可利用例如导电探针电连接该些面板，以点亮该些面板后以光学镜头(例如CCD)拍摄点亮的面板，以确定面板是有缺陷，例如点亮面板后，面板是否有R、G、B的缺陷、是否有亮暗条纹(Mura)等等。要注意的是，在点亮检测装置A4的点亮检测中，该些面板并未偏贴偏光板，因此，于点亮该些面板并以光学镜头拍摄时，需使用偏光板(未标示)对应遮住该些面板。 其中，当该些面板的检测为正常时，则再通过移载装置A3将检测正常的该些面板移动至一正常区。另外，当该些面板的检测为不正常时，则通过移载装置A3将检测不正常的该些面板移动至一待本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动化检测机台，用于自动检测至少一电子装置，所述电子装置承载于一承载装置，其特征在于，所述自动化检测机台至少包括：一自动取料装置，自所述承载装置中取出所述电子装置；以及一点亮检测装置，邻设于所述自动取料装置，所述点亮检测装置具有一检测平台，所述电子装置被自动移动到所述检测平台上，且所述点亮检测装置对所述电子装置进行自动化点亮检测。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王敏政，顾刚涛，
申请(专利权)人：群创光电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71