半导体器件及其操作方法技术

一种半导体器件包括设置成彼此分开的第一电路和第二电路。第一电路可以包括：计数单元，适于产生计数码，计数码的每个比特循环地变化，其中，计数码包括以预设频率触发的采样信号的触发次数，表示采样信号在第一电路和第二电路之间的单个往返的距离；以及脉冲发生单元，适于根据表示距离的计数码来产生测量脉冲，其中，脉冲发生单元根据距离来确定测量信号的脉冲宽度。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】相关申请的交叉引用本申请要求2014年2月24日提交的申请号为10-2014-0021062和2014年6月26日提交的申请号为10-2014-0078946的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。
本专利技术的各种示例性实施例涉及一种半导体设计技术，且更具体而言，涉及一种包括物理上彼此分开的两个或更多个电路的。
技术介绍
单个半导体器件可以包括物理上分开且能够执行独立操作的多个电路。半导体器件电路可以共享公共信号传输线。公共信号传输线贯穿器件来传送信号。这些信号可以包括公共的命令和数据信号。然而，由于从信号源(可以是内部的或外部的)至每个电路的物理距离可能不同，所以公共信号通常不同时到达这些电路。换言之，信号到达时间不同步。图1是图示现有的半导体器件的框图。参见图1，在现有的半导体器件中，第一电路10和第二电路20物理上彼此分开。第一电路10包括操作信号发生单元14和内部电路12。第二电路20包括内部电路22。第一电路10的内部电路12和第二电路20的内部电路22具有到达操作信号发生单元14的单独的路径A和B，并且信号所必须行径的距离不同。具体地，如图1中所示，第一电路10中包括的内部电路12与操作信号发生单元14之间的路径A比内部电路13与操作信号发生单元14之间的路径B更短。操作信号发生单元14经由为不同距离的路径A和B来同时地传送操作信号OPSIG至第一电路10的内部电路12和第二电路20的内部电路22。但是如所讨论的，操作信号OPSIG在内部电路12和22中的每个的输入时刻由于路径A和B的不同长度而不同。因为内部电路12和22具有不同的信号输入时刻，这导致内部电路12和22的响应于操作信号OPSIG的操作定时不同。当内部电路12和22需要响应于操作信号OPSIG来执行同步操作时，解决这个问题是重要的。图2是图示另一个现有的半导体器件的框图。参见图2中所示的现有的半导体器件，其包括具有较短的路径A的延迟部216以同步内部电路12和22的操作定时。当操作信号OPSIG从操作信号发生单元14输出至第一电路10的内部电路12和第二电路20的内部电路22时，操作信号OPSIG被延迟部216延迟，以防止内部电路12和22之间的定时问题。延迟部216的延迟考虑操作信号OPSIG在路径A和B的每个上的行径时间来设计。当操作信号OPSIG在路径A上的行径时间和延迟部216的延迟之和与操作信号OPSIG在路径B上的行径时间相同时，操作信号OPSIG在内部电路12和22的输入时刻相同。这是现有技术解决这个问题的方式。然而，由于各种因素、例如在大批量生产中出现的路径A和B的长度上的非预期变化，延迟部216的延迟可能不能将操作信号OPSIG在内部电路12和22的输入时刻同步，这转而可能影响操作定时。简单地说，现有技术解决这个问题的方式上存在改进的空间。如果这个问题是在一批半导体器件的大批量生产之后发现的，则几乎不可能进行修复，并且可能导致大量投资损失。这种定时问题不仅适用于已经讨论的情况，还可在公共信号发送至不同位置的任何时间发生。例如，当半导体器件具有单独的功能模块时，或者当半导体系统中多个器件被分组时。
技术实现思路
各种示例性实施例针对一种能够允许物理上分开的内部元件的同步操作的。根据本专利技术的一个实施例，一种半导体器件可以包括被设置成彼此分开的第一电路和第二电路。第一电路可以包括:计数单元，其适于产生计数码，计数码的每个比特循环地变化，其中，计数码包括以预设频率触发的采样信号的触发次数，表示采样信号在第一电路和第二电路之间的单个往返的距离；以及脉冲发生单元，其适于根据表示距离的计数码来产生测量脉冲，其中，脉冲发生单元根据所述距离来确定测量脉冲的脉冲宽度。第一电路还可以包括:操作信号发生单元，其适于在测量脉冲的下降沿产生操作信号并且将操作信号传送至第一电路，以及在测量脉冲的上升沿产生操作信号并且将操作信号传送至第二电路。脉冲发生单元可以包括:操作控制部，其适于产生操作控制信号，操作控制信号在采样信号在第一电路和第二电路之间的单个往返期间被激活；计算部，其适于响应于操作控制信号的去激活来产生距离码，距离码具有与计数码的值的一半相对应的值；采样部，其适于通过在计数码中的除了最高有效比特之外的比特的每一个周期对计数码中的除了最高有效比特之外的比特的第一单位脉冲采样来产生多个采样脉冲；脉冲选择部，其适于根据距离码来选择多个采样脉冲之中的一个或更多个；以及脉冲组合部，其适于产生测量脉冲，测量脉冲具有与通过脉冲选择部选中的采样脉冲的激活时段的总和相对应的激活时段。计算部可以包括移位部分，其适于通过将计数码中的除了最低有效比特之外的每个比特沿朝向更低有效电平的位置的方向移位来产生距离码。脉冲选择部可以选择多个采样脉冲之中的与距离码的值相对应的一个或更多个。在本专利技术的另一个实施例中，一种用于操作半导体器件的方法，所述半导体器件包括被设置成彼此分开的第一电路和第二电路，所述方法可以包括:在第一电路中，产生以预设频率触发的采样信号并且将采样信号输出至第二电路，以及接收从第二电路返回的采样信号；在第一电路中，产生计数码，计数码的每个比特循环地变化，其中，计数码包括采样信号的触发次数，表示采样信号在第一电路和第二电路之间的单个往返的距离；以及在第一电路中，根据表示距离的计数码来产生测量脉冲，其中，测量脉冲的产生根据所述距离来确定测量脉冲的脉冲宽度。所述方法还可以包括:在第一电路中，在测量脉冲的下降沿产生操作信号并且将操作信号传送至第一电路，以及在测量脉冲的上升沿产生操作信号并且将操作信号传送至第二电路。测量脉冲的产生可以包括:在第一电路处，产生米样信号在第一电路和第二电路之间的单个往返期间被激活的操作控制信号；在第一电路中，响应于操作控制信号的去激活来产生具有与计数码的值的一半相对应的值；在第一电路中，通过在计数码中的除了最高有效比特之外的比特的每一个周期对计数码中的除了最高有效比特之外的比特的第一单位脉冲采样来产生多个采样脉冲；在第一电路中，根据距离码来选择多个采样脉冲之中的一个或更多个；以及在第一电路中，产生测量脉冲，测量脉冲具有与通过选择部选中的采样脉冲的激活时段的总和相对应的激活时段。距离码的产生可以包括将计数码中的除了最低有效比特之外的每个比特沿朝向更低有效电平的位置的方向移位。选择可以是选择多个采样脉冲之中的与距离码的值相对应的一个或更多个。在本专利技术的另一个实施例中，一种半导体系统可以包括:信号部分，其适于传送操作信号；第一部分，其适于响应于从第一路径传送的操作信号来执行操作；以及第二部分，其适于响应于经由第二路径传送的操作信号来执行操作，第二路径的长度与第一路径的长度不同。信号部分可以测量第二路径相对于第一路径的长度，并且以与第二路径的测量距离相对应的时间间隔来经由第二路径和第一路径顺序地传送操作信号，用于第一部分和第二部分的同步操作。第一路径可以具有与第二路径的长度相比可忽略的长度。所述半导体系统还可以包括:源部分，其适于产生行径信号并且经由第二路径来输出行径信号；以及计数部分，其适于通过响应于行径信号从源部分的输出来对时钟计数而产生计数码，其中，第二部分接收行径信号并且将行径信号经本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体器件，包括：第一电路和第二电路，被设置成彼此分开，其中，所述第一电路包括：计数单元，适于产生具有比特的计数码，所述计数码的每个比特循环地变化，其中，所述计数码包括具有预设频率的采样信号的触发次数，表示所述采样信号在所述第一电路和所述第二电路之间的单个往返的距离；以及脉冲发生单元，适于根据表示所述距离的所述计数码来产生测量脉冲，其中，所述脉冲发生单元根据所述距离来确定所述测量脉冲的脉冲宽度。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：贾东润，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR