磁体磁通和表场复合测量制具和测量设备制造技术

提供一种磁体磁通和表场复合测量制具和测量设备。所述测量制具包括基板(6)，在所述基板的一个表面形成有凹槽(8)，所述凹槽从所述基板的边缘延伸到所述基板的中央，在所述基板的与所述一个表面相反侧的另一个表面形成有环形槽。本实用新型专利技术的磁体磁通和表场复合测量制具和测量设备，只需将待测磁体放在测量制具上这一个动作，即可同时完成测量磁通和表场两个参数，既提高了测量效率，又提高了测量精度。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量制具和测量设备，能够同时测量磁体的磁通和表场。
技术介绍
对于磁体，例如钕铁硼磁体，有时需要测量其磁通和表场。以往在测量这两个参数时，分先后顺序分别进行测量。测量这两个参数时进行的操作比较相似。当测量磁通时，需要将待测磁体放在磁通测量设备的单线圈上。当测量表场时，需要将待测磁体放在表场测量设备的霍尔探头上。即，测量这两个参数都需要将待测磁体固定位置。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提供一种磁体磁通和表场复合测量制具和测量设备，使得只需将待测磁体放在测量制具上这一个动作，即可同时完成测量磁通和表场两个参数。为了实现上述目的，本技术提供一种磁体磁通和表场复合测量制具，包括基板(6)，在所述基板的一个表面形成有凹槽(8)，所述凹槽从所述基板的边缘延伸到所述基板的中央，在所述基板的与所述一个表面相反侧的另一个表面形成有环形槽。本技术的磁体磁通和表场复合测量制具，在所述基板的所述一个表面固定有定位块(5)。本技术的磁体磁通和表场复合测量制具，所述定位块从所述基板的所述一个表面沿与所述一个表面垂直的方向延伸。本技术的磁体磁通和表场复合测量制具，所述定位块通过嵌合的方式安装在所述基板。本技术的磁体磁通和表场复合测量制具，还包括底板，所述底板嵌在所述基板的所述一个表面。为了实现上述目的，本技术还提供一种磁体磁通和表场复合测量设备，包括:本技术的测量制具；单线圈(3)，安装在所述测量制具的所述环形槽；霍尔探头(4)，安装在所述测量制具的所述凹槽；磁通计(I)，连接到所述单线圈；以及高斯计(2)，连接到所述霍尔探头。本技术的磁体磁通和表场复合测量制具和测量设备，只需将待测磁体放在测量制具上这一个动作，即可同时完成测量磁通和表场两个参数，既提高了测量效率，又提高了测量精度。【附图说明】图1示出根据本技术一个实施方式的测量制具和测量设备。图2是从背面看图1所示的测量制具的透视图。【具体实施方式】以下参照附图来详细说明本技术的测量制具和测量设备。图1示出根据本技术一个实施方式的测量制具和测量设备。图2是从背面看图1所示的测量制具的透视图。如图1、图2所示，测量制具7包括在水平方向上延伸的平板状的基板6。在基板6的上表面，形成有凹槽8。凹槽8呈直线状，从基板6的边缘延伸到基板6的中心位置。凹槽8用于放置霍尔探头4 (后述)，使得当将待测磁体放在基板6的上表面上时，霍尔探头4位于待测磁体的下方。如图2所示，在基板6的背面，形成有环形槽。在环形槽中，安装有单线圈3。单线圈3由铜质导线制成，用于测量待测磁体的磁通。磁通计I连接到单线圈3，用于测量磁通。高斯计2连接到霍尔探头4，用于测量表场。在基板6的上表面，固定有定位块5。定位块5从基板6的上表面竖直向上延伸。定位块5例如呈俯视时大体L字形，通过使待测磁体的两条边抵接定位块5，相对于霍尔探头4和单线圈3将待测磁体定位在适当位置。定位块5可以通过嵌合的方式安装在基板6，从而能从基板6卸下。这样，当定位块5磨损时，可以进行更换。当使用本技术的测量制具和测量设备测量磁体的磁通和表场时，将单线圈3嵌入基板6背面的环形槽，将霍尔探头4固定在基板6上表面的凹槽8。然后，分别连接磁通计I和高斯计2。将待测磁体放在基板6的上表面，使其抵接定位块5，磁通计I给出磁通测量结果，同时，高斯计2给出表场测量结果。本技术的测量制具和测量设备，能够消除测量磁通和表场时的相互干扰，能够同时测量磁通和表场，既提高了工作效率，又提高了测量精度。可选地，测量制具7还可以具有底板(图未示)。底板嵌在基板6的上表面，从而能够相对于基板6卸下。这样，当测量制具7长期使用时，如果底板由于与待测磁体频繁接触而磨损，可以进行更换。【主权项】1.一种磁体磁通和表场复合测量制具，其特征在于，包括基板(6)，在所述基板的一个表面形成有凹槽(8)，所述凹槽从所述基板的边缘延伸到所述基板的中央，在所述基板的与所述一个表面相反侧的另一个表面形成有环形槽。2.根据权利要求1所述的磁体磁通和表场复合测量制具，其特征在于，在所述基板的所述一个表面固定有定位块(5)。3.根据权利要求2所述的磁体磁通和表场复合测量制具，其特征在于，所述定位块从所述基板的所述一个表面沿与所述一个表面垂直的方向延伸。4.根据权利要求2所述的磁体磁通和表场复合测量制具，其特征在于，所述定位块通过嵌合的方式安装在所述基板。5.根据权利要求1所述的磁体磁通和表场复合测量制具，其特征在于，还包括底板，所述底板嵌在所述基板的所述一个表面。6.一种磁体磁通和表场复合测量设备，其特征在于，包括: 根据权利要求1?5中任一项所述的测量制具； 单线圈(3)，安装在所述测量制具的所述环形槽； 霍尔探头(4)，安装在所述测量制具的所述凹槽； 磁通计(I)，连接到所述单线圈；以及 高斯计(2)，连接到所述霍尔探头。【专利摘要】提供一种磁体磁通和表场复合测量制具和测量设备。所述测量制具包括基板(6)，在所述基板的一个表面形成有凹槽(8)，所述凹槽从所述基板的边缘延伸到所述基板的中央，在所述基板的与所述一个表面相反侧的另一个表面形成有环形槽。本技术的磁体磁通和表场复合测量制具和测量设备，只需将待测磁体放在测量制具上这一个动作，即可同时完成测量磁通和表场两个参数，既提高了测量效率，又提高了测量精度。【IPC分类】G01R33-12【公开号】CN204359920【申请号】CN201420807747【专利技术人】苏福亮 【申请人】天津三环乐喜新材料有限公司【公开日】2015年5月27日【申请日】2014年12月18日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁体磁通和表场复合测量制具，其特征在于，包括基板(6)，在所述基板的一个表面形成有凹槽(8)，所述凹槽从所述基板的边缘延伸到所述基板的中央，在所述基板的与所述一个表面相反侧的另一个表面形成有环形槽。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：苏福亮，
申请(专利权)人：天津三环乐喜新材料有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12