本实用新型专利技术涉及柱层析实验技术，特别涉及一种柱层析干法样品加样器，所述加样器包括内腔相通、由上至下连接的盛胶器、硅胶管和加样管，所述盛胶器上端开口；所述的硅胶管的上端靠近盛胶器处设置旋转阀；所述的硅胶管的下端靠近加样管处设置旋转阀；所述加样管下端可拆卸连接中空的直行加样管、中空的弯形加样管或刮样板。本实用新型专利技术防止样品洒落、控制上样流量并上样均匀，防止基质表面变形，保证分离效果。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及柱层析实验技术，特别涉及一种柱层析干法样品加样器。
技术介绍
柱层析是物质分离纯化的重要方法和手段。柱层析操作时，先在圆柱形层析柱中填充不溶性基质，形成一个固定相；将样品加到基质顶端，用特殊溶剂洗脱，溶剂组成流动相。在样品从柱子上洗脱下来的过程中，根据样品混合物中各组分在固定相和流动相中分配系数不同，经多次反复分配将组分分离。一般柱层析上样方法分为干法上样和湿法上样，干法上样的优点是可以得到较薄和平整的样品层，这对层析分离效果十分重要，但是较繁琐，要把待分离的样品用少量溶剂溶解后，再加入少量硅胶，拌匀后旋去溶剂，如此得到的粉末再小心加到柱子的顶层。上样前柱子基质上端要敲平，样品和硅胶加入后也要平整，否则样品拖尾，多个点的话交叉严重。干法上样的基本过程是:将层析柱以干法或湿法装柱，上端敲平；将样品以少量有机溶剂溶解，拌入适量硅胶；旋去溶剂，得到干粉状样品；将样品用漏斗或者纸卷加入层析柱，使其分布在基质顶端，用玻璃棒等尽量弄平样品表面；开始层析。现有技术的缺点是:用漏斗或者纸卷加样时，样品会直接砸在层析柱的基质表面，通常会把基质表面砸个坑，造成基质不平整，样品也不平整，层析后易拖尾或降低分离效果；加入的样品一般堆积在柱子中央，四周较少，不均匀；用玻璃棒等进行平整样品的时候也是十分不均匀，总是凹凸不平，影响分离效果；如果样品不多，装太多基质容易吸附损失很多，或者没有适当规格的层析柱，柱子较粗较长，基质不能装满层析柱，基质表面距层析柱顶端较远，这种情况下更加增加了干法加样的难度，更容易砸坏基质表面，不易将样品铺平整。
技术实现思路
本技术针对现有技术之缺陷和不足，提供一种柱层析干法样品加样器。本技术的技术方案是:一种柱层析干法样品加样器，所述加样器包括内腔相通、由上至下连接的盛胶器、硅胶管和加样管，所述盛胶器上端开口 ；所述的硅胶管的上端靠近盛胶器处设置旋转阀；所述的硅胶管的下端靠近加样管处设置旋转阀；所述加样管下端可拆卸连接中空的直行加样管、中空的弯形加样管或刮样板。优选的，所述盛胶器为漏斗形容器。优选的，所述旋转阀和旋转阀之间的硅胶管上设置刻度。优选的，所述的弯形加样管的弯曲弧度为90度，弯曲半径略小于层析柱半径。本技术的有益效果是:一般柱层析干法加样时用漏斗或者纸卷，用漏斗加样时，由于不能控制加样量，往往样品下去的过多将层析柱基质表面砸个坑，尤其是层析柱里基质相对较少时，样品下落的力量更大，影响分离效果，而且只能加样在层析柱中央，四周没有样品，还需要用玻璃棒等往四周转移样品，样品不均匀，而用纸卷加样除了存在上述问题外，还容易把样品洒出来。应用本技术所述的加样器后，将样品置于加样器的盛样器内，能防止样品洒落；用上阀门和下阀门控制每次的上样量，防止一次上样太多，砸坏基质表面；可以用直形加样管，先将样品加在柱子中央，再换弯形加样管向层析柱四周加样，最后用刮样板将样品刮平，这样能有效使样品添加均匀，成一薄层，这对柱层析的分离效果有着十分重要的作用；在盛样器和加样管之间连接一段硅胶管，可以根据柱子顶端与基质表面的距离进行适当调整，尽量缩小样品与基质表面的距离，防治基质表面变形，它是柱层析分离效果好坏的重要保证。总之，本技术防止样品洒落、控制上样流量并上样均匀，防止基质表面变形，保证分离效果。【附图说明】附图1为本技术的结构示意图；附图2为本技术所述的弯形加样管结构示意图；附图3为本技术所述的刮样板结构示意图。【具体实施方式】为了能进一步了解本技术的结构、特征及其它目的，现结合所附较佳实施例详细说明如下，所说明的较佳实施例仅用于说明本技术的技术方案，并非限定本技术。本技术的【具体实施方式】如下:如图1-3所示，一种柱层析干法样品加样器，所述加样器包括内腔相通、由上至下连接的盛胶器1、硅胶管2和加样管3，所述盛胶器I上端开口 ；所述的硅胶管2的上端靠近盛胶器I处设置旋转阀4 ;所述的硅胶管2的下端靠近加样管3处设置旋转阀5 ;所述加样管3下端可拆卸连接中空的直行加样管31、中空的弯形加样管32或刮样板33。所述盛胶器I为漏斗形容器。所述旋转阀4和旋转阀5之间的硅胶管2上设置刻度。其中，直形加样管31为一圆柱形管，可以将样品直接加在层析柱基质的中央，弯形加样管32为一弧形管，弧度为90度，弯曲半径略小于层析柱半径，可以通过旋转加样器体向层析柱四周加样刮样板33，上端圆柱形与硅胶管2相连，下端为一平板状结构，板长略小于层析柱半径，可以通过旋转加样器将固体样品上层刮平，保持样品平薄的特点，使样品在层析过程中不拖尾，分离效果好。本技术的柱层析干法样品加样器的使用方法如下:先根据层析柱顶端和基质表面的距离调节硅胶管2的长度，使加样器的加样管3连接直形加样管31后略高于基质表面；以硅胶管2连接盛样器I和加样管3 ;将处理好的固体样品装在盛样器I上部的漏斗中；打开旋转阀4，输出一定量的样品，关闭旋转阀4 ;打开旋转阀5向基质表面加样，先用直形加样管31向层析柱中央加样，再用弯形加样管32向层析柱四周加样；加样一定量后，换上刮样板33刮平样品表面；再继续依照上法加样，直到样品全部加完，最后用刮样板33将样品表面彻底刮平；洗脱。可以根据实际需求制作不同大小尺寸的加样管，同时刮样板33的长度也可以调整。【主权项】1.一种柱层析干法样品加样器，其特征在于，所述加样器包括内腔相通、由上至下连接的盛胶器(1)、硅胶管(2)和加样管(3)，所述盛胶器(I)上端开口 ；所述的硅胶管(2)的上端靠近盛胶器(I)处设置旋转阀(4);所述的硅胶管(2)的下端靠近加样管(3)处设置旋转阀(5);所述加样管(3)下端可拆卸连接中空的直行加样管(31)、中空的弯形加样管(32)或刮样板(33) ο2.根据权利要求1所述的柱层析干法样品加样器，其特征在于:所述盛胶器(I)为漏斗形容器。3.根据权利要求1所述的柱层析干法样品加样器，其特征在于:所述旋转阀(4)和旋转阀(5)之间的硅胶管(2)上设置刻度。4.根据权利要求1所述的柱层析干法样品加样器，其特征在于:所述的弯形加样管(32)的弯曲弧度为90度，弯曲半径略小于层析柱半径。【专利摘要】本技术涉及柱层析实验技术，特别涉及一种柱层析干法样品加样器，所述加样器包括内腔相通、由上至下连接的盛胶器、硅胶管和加样管，所述盛胶器上端开口；所述的硅胶管的上端靠近盛胶器处设置旋转阀；所述的硅胶管的下端靠近加样管处设置旋转阀；所述加样管下端可拆卸连接中空的直行加样管、中空的弯形加样管或刮样板。本技术防止样品洒落、控制上样流量并上样均匀，防止基质表面变形，保证分离效果。【IPC分类】B01D15-14【公开号】CN204563675【申请号】CN201520185841【专利技术人】刘润进, 唐超 【申请人】青岛农业大学【公开日】2015年8月19日【申请日】2015年3月31日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种柱层析干法样品加样器，其特征在于，所述加样器包括内腔相通、由上至下连接的盛胶器(1)、硅胶管(2)和加样管(3)，所述盛胶器(1)上端开口；所述的硅胶管(2)的上端靠近盛胶器(1)处设置旋转阀(4)；所述的硅胶管(2)的下端靠近加样管(3)处设置旋转阀(5)；所述加样管(3)下端可拆卸连接中空的直行加样管(31)、中空的弯形加样管(32)或刮样板(33)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘润进，唐超，
申请(专利权)人：青岛农业大学，
类型：新型
国别省市：山东;37
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