一种用于核磁分析的样品检测分析仪和方法技术

本发明专利技术公开了一种用于核磁分析的样品检测分析仪和方法，包括：气体电离器、离子流发生器、离子流汇集器、粒子质量过滤器、光学透镜器、进样器、粒子束控制器、光信号传导器、电场分析器、粒子能量分析器、信号折射器、运动磁场分解器、粒子传导器、信号汇集器、粒子电场控制器、粒子通道板、荧光显示屏、信号观测器、粒子摄像器、视频信号传导器、粒子倍增器、计算机；所述的气体电离器通过聚醚醚酮氯苯肼的复合材料导管与离子流汇集器相连接，气体电离器含有高频电离管，高频电离管外绕有管网线圈和M型电极，管网线圈位于电离管外的中间部位，M型电极位于电离管外的两端部位。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及样品检测分析仪和方法，特别是一种用于核磁分析的样品检测分析仪 和方法。
技术介绍
用于核磁分析的样品检测分析原理是基于磁矩不为零的原子核，在外磁场作用下 自旋能级发生塞曼分裂，共振吸收某一定频率的射频辐射的物理过程。核磁分析是光谱学 的一个分支，其共振频率在射频波段，相应的跃迀是核自旋在核塞曼能级上的跃迀。如今使 用的核磁分析技术往往采用CW-NMR分析技术，该技术方案虽然价格低廉，温度，易操作，但 是灵敏度差，需要样品量大，且只能测定如1H/19F/31P之类天然丰度很高的核，对诸如13C 之类低丰度的核则无法测定。因此，有必要针对现有技术方案的加以改进和完善。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，为克服现有技术再对样品进行检测分析过程中的核磁分析灵 敏度差，需要样品量大，且只能测定天然丰度很高的核，对低丰度的核则无法测定的缺陷， 从而提供。 为达到上述目的，本专利技术提供了一种用于核磁分析的样品检测分析仪，其特征在 于，包括：气体电离器，其高频电离管的中段缠绕有管网线圈，且其一端设有正极M型电极， 另一端设有负极M型电极； 离子流汇集器，其通过离子流导管分别与所述气体电离器、离子流发生器和粒子 质量过滤器相连接；所述离子流发生器位于所述气体电离器的下方，且其包括正升压器和 负升压器；所述粒子质量过滤器与光学透镜器相连接； 所述光学透镜分别与粒子束控制器和光信号传导器相连接，且通过光电传感器与 进样器相连接，所述光信号传导器还与电场分析器相连接，所述电场分析器还与粒子能量 分析器相连接，且其内设有粒子筛选板； 所述粒子束控制器包括设于其前端的粒子轰击板，以及由前至后依次设于其中部 的阴离子电极、控制电极和阳离子电极； 所述粒子能量分析器与信号折射器相连接，所述信号折射器还与运动磁场分解器 相连接，所述运动磁场分解器与粒子传导器相连接，所述粒子传导器还与信号汇集器相连 接； 所述信号汇集器与粒子电场控制器相连接，所述粒子电场控制器分别与粒子通道 板和粒子倍增器相连接；所述粒子通道板与荧光显示屏相连接，所述荧光显示屏分别与信 号观测器、粒子摄像器和视频信号传导器相连接；所述粒子倍增器还与计算机相连接。 优选地，所述光信号传导器包括第一层光电转换薄膜和第二层光电转换薄膜；所 述第一层光电转换薄膜的厚度为3. 66微米-5. 89微米，所述第二层光电转换薄膜的厚度为 8. 67微米-11. 76微米； 优选地，所述离子流导管设置于所述负极M型电极的下方，且其为聚醚酮乙酰腈 唑酯复合材料管。 优选地，所述气体电离器的正极M型电极的左侧具有引出电极，且其右侧具有放 电电极。 优选地，所述粒子筛选板上开设有三个圆孔，且三个所述圆孔呈直线排列，由上至 下，三个所述圆孔的直径分别为：5nm，8nm, 12nm。 本专利技术还提供一种用于核磁分析的样品检测分析方法，包括以下步骤： 1)待测样品通过气体电离器气化完成后进行高频放电使样品气体电离，产生低电 荷态正离子；然后在气体电离器的高频电场中，带电离子与样品原子和分子碰撞，使样品分 子电离，带电粒子倍增形成无极放电，产生大量样品带电离子； 2)在步骤1)中，带电离子通过离子流发生器内含有的正升压器和负升压器配合 产生不同电荷比例的正负离子，然后离子流发生器将产生的正负离子通过离子流导管传输 到离子流汇集器； 3)离子流汇集器接受来自气体电离器、离子流发生器的离子流，然后将汇集之后 的离子流传输到粒子质量过滤器； 4)粒子质量过滤器接受离子流汇集器传输的离子流后，按照离子质量和离子电荷 的不同进行筛选过滤，并将筛选后的离子信号转换为光信号传输到光学透镜器； 5)光学透镜器接受粒子质量过滤器传输的光信号，同时接受来自进样器引进的 样品分析测试信号以及粒子束控制器对粒子束方向和强度的控制信号，进行光信号转换传 输，然后再将信号传输到光信号传导器； 6)光信号传导器接受光学透镜传送的信号，并将接受到的信号传输到电场分析器 中； 7)电场分析器接受光信号传导器传输的信号，并将处理后的信号传送到粒子能量 分析器中； 8)粒子能量分析器接受电场分析器的传输信号，筛选不同能量大小的粒子，然后 将分析后的粒子传输给信号折射器；9)信号折射器接受来自粒子能量分析器的粒子，控制光信号传导方向的改变，并 将处理后的粒子信号和粒子传送到运动磁场分解器中； 10)运动磁场分解器接受来自信号折射器的粒子信号和粒子，通过磁场引导粒子 的运动轨迹，然后将粒子信号和粒子传输到粒子传导器； 11)粒子传导器接受运动磁场分解器的粒子信号和粒子，控制粒子传输通道的传 导路径长度，然后将粒子传导信号和粒子传输到信号汇集器； 12)信号汇集器接受来自粒子传导器的粒子传导信号和粒子，控制信号和粒子稳 定，然后将汇集后的粒子信号和粒子传输到粒子电场控制器； 13)粒子电场控制器接受来自信号汇集器的粒子信号和粒子，通过静电场控制粒 子运行状态，然后将粒子传输到粒子通道板，将粒子和粒子信号传输给粒子倍增器； 14)粒子倍增器接受来自粒子电场控制器传输的粒子和粒子信号，调整和控制粒 子的运动状态，然后将粒子分析信号传输到计算机； 15)计算机接受来自粒子倍增器的粒子分析信号，分析样品粒子检测数据，保存检 测结果。 进一步地，所述粒子束控制器将粒子束方向和强度的控制信号传输给光学透镜 器。 进一步地，所述的进样器将样品的测试信号传输给光学透镜器。 进一步地，所述的粒子通道板接受来自粒子电场控制器传输的粒子，限制粒子束 的形状，增强粒子能量，使高速碰撞在内壁通道上的粒子增加，进行粒子增流，然后将粒子 传输到荧光显示屏； 荧光显示屏接受来自粒子通道板的传输粒子，将粒子检测信号转换的图像信号， 在接收端以亮度变化的形式重现在荧光屏上，并将粒子信号传输到信号观测器、粒子摄像 器、视频信号传导器； 信号观测器接受来自荧光显示屏的粒子信号，观测样品粒子分析信号；粒子摄像 器接受来自荧光显示屏的粒子信号，记录粒子分析信号；视频信号传导器接受来自荧光显 示屏的粒子信号，传导粒子分析信号。【附图说明】 图1为一种用于核磁分析的样品检测分析仪的结构示意图； 图2为样品1的分子结构图A; 图3为样品1的分子结构图B; 图4为样品1通过一种用于核磁分析的样品检测分析仪的检测结果； 图5为样品2的分子结构图A; 图6为样品2的分子结构图B; 图7为样品2通过一种用于核磁分析的样品检测分析仪的检测结果。 附图标记说明： 1、气体电离器2、离子流发生器3、离子流汇集器4、粒子质量过滤器5、光学透 镜器6、进样器7、粒子束控制器8、光信号传导器9、电场分析器10、粒子能量分析器 11、信号折射器12、运动磁场分解器13、粒子传导器14、信号汇集器15、粒子电场控制器 16、粒子通道板17、荧光显示屏18、信号观测器19、粒子摄像器20、视频信号传导器21、 粒子倍增器22、计算机【具体实施方式】 下面将结合附图以及进一步的详细说明来举例说明本专利技术。需要指出的是，以下 说明仅仅是对本专利技术要求保护的技术方案的举例说明，并非对这些技术方案的任何限制。 本专利技术的保护范围以所附权利要求书记载的内容为准。 如图1所示，本专利技术所提供的样品检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于核磁分析的样品检测分析仪，其特征在于，包括：气体电离器，其高频电离管的中段缠绕有管网线圈，且其一端设有正极M型电极，另一端设有负极M型电极；离子流汇集器，其通过离子流导管分别与所述气体电离器、离子流发生器和粒子质量过滤器相连接；所述离子流发生器位于所述气体电离器的下方，且其包括正升压器和负升压器；所述粒子质量过滤器与光学透镜器相连接；所述光学透镜分别与粒子束控制器和光信号传导器相连接，且通过光电传感器与进样器相连接，所述光信号传导器还与电场分析器相连接，所述电场分析器还与粒子能量分析器相连接，且其内设有粒子筛选板；所述粒子束控制器包括设于其前端的粒子轰击板，以及由前至后依次设于其中部的阴离子电极、控制电极和阳离子电极；所述粒子能量分析器与信号折射器相连接，所述信号折射器还与运动磁场分解器相连接，所述运动磁场分解器与粒子传导器相连接，所述粒子传导器还与信号汇集器相连接；所述信号汇集器与粒子电场控制器相连接，所述粒子电场控制器分别与粒子通道板和粒子倍增器相连接；所述粒子通道板与荧光显示屏相连接，所述荧光显示屏分别与信号观测器、粒子摄像器和视频信号传导器相连接；所述粒子倍增器还与计算机相连接。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：储冬红，彭飞，
申请(专利权)人：成都千叶龙华石油工程技术咨询有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51