一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法技术

一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法，通过对带EDAC功能SRAM存储器进行全面的功能性能验证来检验带EDAC功能SRAM存储器是否满足于宇航应用要求，验证内容包括带EDAC功能SRAM存储器在EDAC开启和关闭情况下的March C算法验证、1bit注错验证和2bit注错验证。该方法将March C算法的数据背景扩展为32位字定向的算法，同时增加数据保持故障的验证；结合故障注入的EDAC测试程序作为宇航用带EDAC功能SRAM存储器的验证方法。

【技术实现步骤摘要】
一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法
本专利技术涉及一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法，属于宇航元器件应用验证

技术介绍
受宇宙空间中辐射的影响，航天器上的静态随机存储器(StaticRandomAccessMemory，SRAM)可能会发生单粒子翻转效应(SignalEventUpset，SEU)。SEU可能会造成存储器某一位的数据从一个稳态变化到另一个稳态，而存储器的数据变化又会使星载计算机系统的指令或是数据出错，严重时可能导致整个星载计算机系统的崩溃。因此，需要寻找一种办法来纠错或是容错。实现星载计算机SRAM容错或纠错的办法有很多，采用带EDAC功能的SRAM存储器是最直接的办法。随着工艺尺寸的不断缩小，存储容量的不断扩大，SRAM存储器的测试复杂度越来越大，为提供合格的存储器产品，必须针对各种电路故障，优化测试向量，提高产品的测试覆盖率。带EDAC功能的SRAM存储器是一种新型的存储器，目前已有的功能验证方法都是针对不带EDAC功能的SRAM存储器设计的。本专利技术即在此背景下，为了实现对带EDAC功能的SRAM存储器全面有效的验证，提出了相应的功能验证方法。
技术实现思路
本专利技术的技术解决问题是：克服现有技术的不足，提供了一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法。本专利技术的技术解决方案是：一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法，步骤如下：(1)将SRAM存储器的EDAC纠错模式开启，进行MarchC-算法功能验证，并将每个测试向量的验证结果通过串口发送给上位机，如果所有测试向量的验证结果均为0，令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；总体计数器的初值为0；(2)将SRAM存储器的EDAC纠错模式关闭，再次进行MarchC-算法功能验证，并将每个测试向量的验证结果通过串口发送给上位机，如果所有测试向量的验证结果均为0，令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；(3)对SRAM存储器的进行1bit注错测试，并将测试结果上传给上位机，测试结果包括多个SBE软计数器的值和多个SBE硬件计数器的值，如果所有SBE软计数器值均为0并且所有SBE硬件计数器值均为512K，则令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；(4)对SRAM存储器的进行2bit注错测试；并将测试结果上传给上位机，测试结果包括多个MBE软计数器的值和多个MBE硬件计数器的值，如果所有MBE软计数器值均为0并且所有MBE硬件计数器值均为512K，则令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；之后进入步骤(5)；(5)判断总体计数器的值，如果总体计数器的值为0，则所述带EDAC功能的SRAM存储器功能验证通过，否则表明SRAM存储器功能异常。所述步骤(1)和步骤(2)中进行MarchC-算法功能验证均通过如下方式进行：(2.1)从首地址0x00000按递增顺序，将SRAM存储器中所有地址均初始化为0x00000000，设置错误计数器，并初始化为0；(2.2)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x00000000进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0xFFFFFFFF；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0xFFFFFFFF；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.3)；(2.3)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0xFFFFFFFF进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x00000000；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x00000000；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.4)；(2.4)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x00000000进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0xFFFFFFFF；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0xFFFFFFFF；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.5)；(2.5)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0xFFFFFFFF进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x0000000；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x0000000；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.6)；(2.6)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x00000000进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x55555555；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x55555555；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.7)；(2.7)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x55555555进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0xAAAAAAAA；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0xAAAAAAAA；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.8)；(2.8)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0xAAAAAAAA进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x55555555；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x55555555；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.9)；(2.9)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x55555555进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x33333333；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x33333333；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.10)；(2.10)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x33333333进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0xCCCCCCCC；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0xCCCCCCCC；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.11)；(2.11)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0xCCCCCC本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法，其特征在于步骤如下：(1)将SRAM存储器的EDAC纠错模式开启，进行March C‑算法功能验证，并将每个测试向量的验证结果通过串口发送给上位机，如果所有测试向量的验证结果均为0，令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；总体计数器的初值为0；(2)将SRAM存储器的EDAC纠错模式关闭，再次进行March C‑算法功能验证，并将每个测试向量的验证结果通过串口发送给上位机，如果所有测试向量的验证结果均为0，令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；(3)对SRAM存储器的进行1bit注错测试，并将测试结果上传给上位机，测试结果包括多个SBE软计数器的值和多个SBE硬件计数器的值，如果所有SBE软计数器值均为0并且所有SBE硬件计数器值均为512K，则令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；(4)对SRAM存储器的进行2bit注错测试；并将测试结果上传给上位机，测试结果包括多个MBE软计数器的值和多个MBE硬件计数器的值，如果所有MBE软计数器值均为0并且所有MBE硬件计数器值均为512K，则令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；之后进入步骤(5)；(5)判断总体计数器的值，如果总体计数器的值为0，则所述带EDAC功能的SRAM存储器功能验证通过，否则表明SRAM存储器功能异常。...

【技术特征摘要】
1.一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法，其特征在于步骤如下：(1)将SRAM存储器的EDAC纠错模式开启，进行MarchC-算法功能验证，并将每个测试向量的验证结果通过串口发送给上位机，如果所有测试向量的验证结果均为0，令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；总体计数器的初值为0；(2)将SRAM存储器的EDAC纠错模式关闭，再次进行MarchC-算法功能验证，并将每个测试向量的验证结果通过串口发送给上位机，如果所有测试向量的验证结果均为0，令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；(3)对SRAM存储器进行1bit注错测试，并将测试结果上传给上位机，测试结果包括多个SBE软计数器的值和多个SBE硬件计数器的值，如果所有SBE软计数器的值均为0并且所有SBE硬件计数器的值均为512K，则令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；(4)对SRAM存储器进行2bit注错测试；并将测试结果上传给上位机，测试结果包括多个MBE软计数器的值和多个MBE硬件计数器的值，如果所有MBE软计数器的值均为0并且所有MBE硬件计数器的值均为512K，则令总体计数器的值维持不变；否则，令总体计数器的值加1；之后进入步骤(5)；(5)判断总体计数器的值，如果总体计数器的值为0，则所述带EDAC功能的SRAM存储器功能验证通过，否则表明SRAM存储器功能异常。2.根据权利要求1所述的一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法，其特征在于：所述步骤(1)和步骤(2)中进行MarchC-算法功能验证均通过如下方式进行：(2.1)从首地址0x00000按递增顺序，将SRAM存储器中所有地址均初始化为0x00000000，设置错误计数器，并初始化为0；(2.2)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x00000000进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0xFFFFFFFF；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0xFFFFFFFF；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.3)；(2.3)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0xFFFFFFFF进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x00000000；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x00000000；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.4)；(2.4)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x00000000进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0xFFFFFFFF；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0xFFFFFFFF；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.5)；(2.5)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0xFFFFFFFF进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x00000000；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x00000000；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.6)；(2.6)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x00000000进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x55555555；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x55555555；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.7)；(2.7)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x55555555进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0xAAAAAAAA；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0xAAAAAAAA；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.8)；(2.8)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0xAAAAAAAA进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x55555555；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x55555555；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.9)；(2.9)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x55555555进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x33333333；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x33333333；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.10)；(2.10)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x33333333进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0xCCCCCCCC；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0xCCCCCCCC；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.11)；(2.11)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0xCCCCCCCC进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x33333333；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x33333333；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.12)；(2.12)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x33333333进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x0F0F0F0F；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x0F0F0F0F；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.13)；(2.13)从末地址0x7FFFF按递减顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0x0F0F0F0F进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0xF0F0F0F0；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0xF0F0F0F0；遍历所有地址之后，将错误计数器的值上传给上位机，再将错误计数器的值清零，之后进入步骤(2.14)；(2.14)从首地址0x00000按递增顺序，读取SRAM存储器中每个地址的数据，并将读取出的数据与0xF0F0F0F0进行比较，如果相同，则表明该地址数据正确，并将该地址数据写为0x0F0F0F0F；如果不同，则令错误计数器加1，同时也将该地址数据写为0x0F0F0F0F；遍历所有地址之...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖爱斌，王斐尧，王文炎，赵佳，张雷浩，张皓源，
申请(专利权)人：中国空间技术研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11