【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种半导体封装结构,尤其涉及一种强力粘连半导体封装结构。技术背景在现有的半导体封装技术中,采用的是只有框架(PMF)和盖子(CAP)内壁直接粘连的封装模式,由于内壁都为平面,在作业过程发现单一的用于平面固定,不能很好地结合CAP和PMF,产品会发生很多脱落导致制品失效。对此,有些厂家研制卡接方式来进行安装,但目前的卡接方式的卡接结构难以真正地做到有效的卡接,对于小型芯片的卡接封装更是难以实施,难以真正地完全解决粘接封装的脱落问题。
技术实现思路
本专利技术克服了现有技术中的缺点,提供了一种强力粘连半导体封装结构。为了解决上述技术问题,本专利技术是通过以下技术方案实现的:一种强力粘连半导体封装结构,包括框架和盖子,所述框架和盖子通过粘连面相连接,所述粘连面上涂有粘连胶,所述粘连面上与框架平行的表面设有三角形犄角合面结构,所述粘连面上与框架垂直的表面设有对槽结构。作为优选,所述三角形犄角合面结构包括凹结构和凸结构,所述凹结构和凸结构分别设置在粘连面的两侧,所述对槽结构包括槽口,所述槽口的开口相正对设置在粘连面的两侧。作为优选,所述对槽结构的槽口内设有围堰填充胶。与现有技术相比,本专利技术的优点是:将粘接的PMF和CAP上设置对槽结构,能有效地形成阻动块,三角形犄角合面结构的设置,有效地加大粘连面积,改变平面粘连为立体粘连,有效增强粘连结构的强度,从而实现粘连强度的增加,使得封装后产品结构性能更牢固,有效杜绝了封装后的脱落现象。【附图说明】图1是本专利技术实施例的结构示意图。【具体实施方式】下面结合附图与【具体实施方式】对本专利技术作进一 ...
【技术保护点】
一种强力粘连半导体封装结构,包括框架和盖子,所述框架和盖子通过粘连面相连接,所述粘连面上涂有粘连胶,其特征在于,所述粘连面上与框架平行的表面设有三角形犄角合面结构,所述粘连面上与框架垂直的表面设有对槽结构。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:张小平,卢涛,
申请(专利权)人:江苏晟芯微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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