一种短群延时数字滤波方法技术

本发明专利技术公开了一种短群延时数字滤波方法。该方法将CIC(Cascaded Integrator-Comb)数字滤波后的时域信号傅立叶变换到频域进行补偿，截取谱图中间部分后反傅立叶变换得到滤波后的时域数据。本发明专利技术采用CIC数字滤波器结合软件补偿，相比于传统的CIC数字滤波器结合FIR(Finite Impulse Response)数字滤波器补偿的方法，获得了更短的数字滤波器群延时。

【技术实现步骤摘要】
一种短群延时数字滤波方法
本专利技术涉及一种数字滤波方法，具体涉及一种短群延时数字滤波方法，适用于核磁共振仪器以及其它需要进行数字滤波的信号处理系统。
技术介绍
现代核磁共振仪器系统为了消除模拟滤波器所带来的失真，普遍采用了基于过采样的数字抽取滤波技术。现有的数字抽取滤波技术主要由CIC(CascadedIntegrator-Comb)数字滤波器与FIR(FiniteImpulseResponse)数字滤波器级联而成。CIC滤波器由于不需要乘法操作，具有硬件资源消耗小、执行效率高、群延时小的优点，但是其不平坦的通带幅频响应使得谱峰的相对幅度严重失真；而FIR滤波器具有可变的幅频特性和严格的线性相频特性，现代核磁共振仪器通常在CIC滤波器后级联高阶FIR作为补偿滤波器，得到了较好的通带平坦度、带外抑制度和过渡带陡峭度。然而，采用FIR作为补偿滤波器也存在一定的不足之处，主要是FIR滤波器带来较长的群延时。为了同时得到好的通带平坦度、带外抑制度和较窄的过渡带，FIR滤波器需要较大的阶数，阶数越大，群延时越大，信号向后推迟的程度就越大，核磁信号有效数据点的损失也就越大，从而一定程度上造成了信号的失真，这种失真在信号采集点数较少时则更加明显。针对核磁共振仪器等系统中数字滤波器带来的群延时问题，科研工作者们提出了一些改进方法。JonG.Wurl等(美国专利“DIGITALFILTERPRE-CHARGING”US005652518)基于改变系统初始条件来优化滤波器瞬态响应的思想，提出核磁仪器接收部分在核磁信号前面根据第一个点的值增加一组平滑数据，经过数字滤波后，可实时的得到一组不含群延时的核磁共振FID(FreeInductionDecay)信号。这种方法对核磁信号的第一个点的依赖性较大，而核磁信号的第一个点比较容易出现偏差，故该方法在核磁信号第一个点出现偏差时会产生谱图的基线扭曲；PetrSADOVSKY等从理论上对这种改变系统初始条件来优化滤波器瞬态响应的方法进行了分析与探讨(OPTIMISATIONOFTHETRANSIENTRESPONSEOFADIGITALFILTER.Radioengineering2000,9(2))，但第一个点出现偏差时谱图基线扭曲的问题并没有得到解决。本专利为改善以上数字滤波器群延时带来的相关问题，提出一种短群延时数字滤波方法。具体内容为：先对过采样数据采用CIC实时数字滤波得到FID数字信号，然后在频域进行CIC的频域补偿并反傅立叶变换得到补偿后的FID信号。从而在不损失数字滤波器性能的前提下，满足了核磁共振实验的需求。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术存在的问题，提出的一种短群延时数字滤波方法。为了实现上述目的，本专利技术采用了以下技术措施：一种短群延时数字滤波方法，包含以下步骤：步骤1、核磁共振仪器载入设定的脉冲序列和采样参数，并按照设定的过采样频率对FID信号进行采样；步骤2、将步骤1过采样得到的数字信号通过CIC数字滤波器进行CIC数字滤波；步骤3、根据步骤2中CIC数字滤波器的幅频响应曲线Hcic(f)，计算CIC数字滤波器的频域幅度补偿曲线Hcomp(f)，将步骤2中CIC数字滤波后的数据进行傅立叶变换得到谱数据Scic，并将谱数据Scic与频域幅度补偿曲线Hcomp(f)逐点相乘，得到补偿后的谱数据Scomp；步骤4、记步骤3中CIC补偿后的谱数据Scomp长度为L，截取Scomp居中的L/P个数据点，P>1，记为谱数据S1/P；步骤5、对步骤4中得到的谱数据S1/P进行反傅立叶变换，得到经过CIC补偿后的FID信号。如上所述的步骤3包括以下步骤：步骤3.1、计算CIC数字滤波器的总幅频响应Hcic(f)：其中，m表示级联CIC数字滤波器的个数，m>＝1，Mm，Rm，Nm，fm分别表示第m级CIC数字滤波器的延时因子、抽取率、阶数、频率与主瓣宽度的归一化值；步骤3.2、根据步骤3.1获得的CIC数字滤波器的总幅频响应Hcic(f)计算频域幅度补偿曲线Hcomp(f)：步骤3.3、将步骤2中CIC数字滤波得到的数据进行傅立叶变换得到谱数据Scic；步骤3.4、将步骤3.3中的谱数据Scic与步骤3.2中的频域幅度补偿曲线Hcomp(f)逐点相乘，得到补偿后的谱数据Scomp。本专利技术相对于现有技术，具有以下有益效果：本专利技术采用CIC数字滤波器结合软件补偿，相比于传统的CIC数字滤波器结合FIR(FiniteImpulseResponse)数字滤波器补偿的方法，获得了更短的数字滤波器群延时。附图说明图1为本专利技术方法的总流程图。图2为经过CIC数字滤波器后的FID信号。图3为经过CIC数字滤波器后FID信号对应的谱图。图4为CIC数字滤波器对应的频域幅度补偿曲线。图5为CIC补偿完成后截取谱图中间1/4的谱图。图6对截取后的谱图进行反傅立叶变换得到的FID信号。图7-1和图7-2相同实验条件下CIC+FIR滤波器(图7-1)与本专利技术方法(图7-2)的群延时对比图。具体实施方式下面通过实施例，结合附图，对本专利技术的技术方案作进一步的详细描述。实施实例1：一种短群延时数字滤波方法，总体流程图如图1所示，该方法总体包括以下步骤：步骤1、核磁共振仪器载入设定的脉冲序列和采样参数，并按照设定的过采样频率对FID信号进行采样得到数字信号(在本实施例中：脉冲序列为单脉冲，采样参数主要包括谱宽sw＝10kHz，采样时间acqutime＝0.2048s，采样点数为2048，过采样频率Freqov＝60MHz)。步骤2、将步骤1中采集得到的数字信号通过三级CIC数字滤波器进行CIC数字滤波，滤波后的FID数据如图2所示。(在本实施例中：共使用三级CIC滤波器，第一级滤波器的微分延时因子M1＝2，抽取率R1＝2，阶数N1＝3，第二级滤波器的微分延时因子M2＝2，抽取率R2＝3，阶数N2＝5，第三级滤波器的微分延时因子M3＝2，抽取率R3＝250，阶数N3＝5)步骤3、根据三级CIC数字滤波器的幅频响应曲线Hcic(f)，计算三级CIC数字滤波器的频域幅度补偿曲线Hcomp(f)，将步骤2中三级CIC数字滤波后的FID数据进行傅立叶变换得到谱数据Scic(如图3所示)，并将谱数据Scic与CIC频域幅度补偿曲线Hcomp(f)逐点相乘，得到补偿后的谱数据Scomp。(本实施例中：采用三级CIC滤波器，三级CIC滤波器的补偿曲线Hcomp(f)如图4所示，三级CIC滤波器的补偿曲线Hcomp(f)为：其中f1＝[-0.5/(R2*R3),0.5/(R2*R3),],f2＝[-0.5/R3,0.5/R3],f3＝[-0.5,0.5])步骤4、记步骤3中CIC补偿后的谱数据Scomp长度为L，截取Scomp居中的L/P个数据点(P>1)，记为谱数据S1/P(在本实施例中：P＝4)，如图5所示。步骤5、对步骤4中得到的谱数据S1/P进行反傅立叶变换，得到经过CIC补偿后的FID信号，如图6所示。本方法与传统CIC+FIR方法的群延时对比：如图7-1和图7-2所示，相同采样谱宽、采样时间、采样点数等实验条件下，传统的CIC结合256阶FIR数字滤波器方案得到的群延时为3.6m本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种短群延时数字滤波方法，其特征在于，包含以下步骤：步骤1、核磁共振仪器载入设定的脉冲序列和采样参数，并按照设定的过采样频率对FID信号进行采样；步骤2、将步骤1过采样得到的数字信号通过CIC数字滤波器进行CIC数字滤波；步骤3、根据步骤2中CIC数字滤波器的幅频响应曲线Hcic(f)，计算CIC数字滤波器的频域幅度补偿曲线Hcomp(f)，将步骤2中CIC数字滤波后的数据进行傅立叶变换得到谱数据Scic，并将谱数据Scic与频域幅度补偿曲线Hcomp(f)逐点相乘，得到补偿后的谱数据Scomp；步骤4、记步骤3中CIC补偿后的谱数据Scomp长度为L，截取Scomp居中的L/P个数据点，P>1，记为谱数据S1/P；步骤5、对步骤4中得到的谱数据S1/P进行反傅立叶变换，得到经过CIC补偿后的FID信号。

【技术特征摘要】
1.一种短群延时数字滤波方法，其特征在于，包含以下步骤：步骤1、核磁共振仪器载入设定的脉冲序列和采样参数，并按照设定的过采样频率对FID信号进行采样；步骤2、将步骤1过采样得到的数字信号通过CIC数字滤波器进行CIC数字滤波；步骤3、根据步骤2中CIC数字滤波器的幅频响应曲线Hcic(f)，计算CIC数字滤波器的频域幅度补偿曲线Hcomp(f)，将步骤2中CIC数字滤波后的数据进行傅立叶变换得到谱数据Scic，并将谱数据Scic与频域幅度补偿曲线Hcomp(f)逐点相乘，得到补偿后的谱数据Scomp；步骤4、记步骤3中CIC补偿后的谱数据Scomp长度为L，截取Scomp居中的L/P个数据点，P>1，记为谱数据S1/P；步骤5、对步骤4中得到的谱数据S1/P进行反傅立叶变换，得到经过CIC补偿后的FID信号。2.根据权利要求1所述的一种短群延时数字滤波方法，其特征在于，所述的步骤3包括以下步骤：步骤3.1、计算...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘朝阳，刘造，鲍庆嘉，张志，陈黎，
申请(专利权)人：中国科学院武汉物理与数学研究所，
类型：发明
国别省市：湖北;42