本发明专利技术公开了一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置，以解决测量过程中普遍存在的管道内微细颗粒污染光学探头，从而使光学测量方法不能得到广泛工业应用的问题。该光学探头防污装置包括基座（1）、光学探头（2）、探头壁（3）、管道（4）、压力表（5）和电动执行机构（6），其特征在于：所述探头壁（3）上设有进气孔（7），所述基座（1）内设有电动门（8），所述电动门（8）可在电动执行机构（6）的带动下在基座（1）内左右滑动。本发明专利技术所述的光学探头防污装置在带粉运行的情况下，仍可以灵活有效地对光学探头进行防污，使光学探头保持清洁，从而达到使气力输送粉体参数光学测量的工业应用成为可能的目的。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置。
技术介绍
气力输送是一种利用气流在管道中输送颗粒状固体的有效方法，广泛应用于各种工业部门的粉体输送，例如火力发电厂中固体燃料如煤粉等的管道输送。气力输送粉体参数如粒度、速度等的准确在线测量对保证生产安全和提高生产效率具有重要的意义。在气力输送粉体参数测量中，现有的测量方法包括筛分法、声学法、静电法和光学法等。相较于其他测量方法，光学法具有测量结果直观、后续处理简单、测量精度高的优点。然而，也存在一个显著的问题一一在带粉运行的情况下，微细粉体颗粒容易污染光学探头，从而使得光学探头难以获得有效的测量信号，这成为限制气力输送粉体参数光学测量方法的工业应用的一个瓶颈问题。目前，一般在微细粉体颗粒污染光学探头后直接更换光学探头或拆卸光学探头进行手工清理。这种方案成本较高，且不利于实现粉体参数的连续在线测量。为解决气力输送粉体参数光学测量过程中普遍存在的管道内微细颗粒污染光学探头的问题，本专利技术提出一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置，在带粉运行的情况下，仍可以灵活有效地对光学探头进行防污，从而能够使各光学探头在带粉运行的情况下保持清洁，从而使气力输送粉体参数光学测量方法的工业应用成为可能。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置。为实现本专利技术的目的，本专利技术采用以下技术方案。一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置包括基座、光学探头、探头壁、管道、压力表和电动执行机构，其特征在于:所述探头壁上设有进气孔，所述基座内设有电动门，所述电动门可在电动执行机构的带动下在基座内左右滑动。所述进气孔与外置压缩空气相连接，进气孔沿探头壁均匀分布，以保证均匀进气，从而在光学探头表面形成均匀的空气保护层，防止微细颗粒污染光学探头。所述电动门与基座之间设有密封装置，以保证光学探头防污装置的密封性，从而防止管道内的粉体通过缝隙泄露到管道外。所述电动门为方形，其边长大于光学探头的直径。所述基座、电动门均由耐磨材料制成，以增强装置的耐磨性能。所述基座分为上下两部分，上下两部分之间通过螺钉连接，为活动连接，以达到灵活拆卸和方便更换零部件的目的。本专利技术的有益效果:1)可在带粉运行的情况下对光学探头进行防污，从而保证了粉体参数测量的实时性和准确性。2)采用压缩空气与电动门双重防护，增强了防护的可靠性。【附图说明】下面结合附图对本专利技术的【具体实施方式】作进一步详细的说明。图1是本专利技术的原理结构示意图。图2是本专利技术电动门开启时的局部剖视图。图3是本专利技术电动门关闭时的局部剖视图。图4是本专利技术电动门形状示意图。其中:1_基座、2-光学探头、3-探头壁、4-管道、5-压力表、6-电动执行机构、7-进气孔、8-电动门。【具体实施方式】图1是本专利技术的原理结构示意图。如图1所示，该光学探头防污装置包括基座1、光学探头2、探头壁3、管道4、压力表5和电动执行机构6，其特征在于:所述探头壁3上设有进气孔7，所述基座I内设有电动门8，所述电动门8可在电动执行机构6的带动下在基座I内左右滑动。所述进气孔7与外置压缩空气相连接，所述进气孔7沿探头壁3均匀分布，以保证均匀进气，从而在光学探头表面形成均匀的空气保护层。图2和图3是本专利技术电动门开启和关闭时的局部剖视图。当压力表测得外接压缩空气压力大于管道内的压力时，电动门在电动执行机构的带动下滑动到基座的最右端，此时电动门处于开启状态，可以通过光学探头对管道内的粉体参数进行测量。此时外置压缩空气通过进气孔均匀进气，在光学探头表面形成均匀的空气保护层，防止粉体颗粒污染光学探头。当压力表测得外置压缩空气压力小于管道内的压力时，电动门在电动执行机构的带动下迅速滑动到基座的最左端，此时电动门处于关闭状态，防止管道内的粉体颗粒污染光学探头。所述电动门与基座之间设有密封装置，以防止管道内微细颗粒通过缝隙泄露到管道外部。图4是本专利技术的电动门形状示意图。所述电动门为方形，其边长大于光学探头的直径，以达到有效保护光学探头的效果。优选地，所述基座分为上下两部分，上下两部分之间通过螺钉连接，为活动连接，以达到灵活拆卸和方便更换零部件的目的。优选地，所述基座和电动门均由耐磨钢材料制成，以增强光学探头防污装置的耐磨性能，从而延长其使用寿命。上面结合附图对本专利技术的实施方式做了详细的说明，但是本专利技术并不局限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以对其做出种种变化。然而这些变化，并不使相应技术方案的本质脱离本专利技术实施例技术方案的精神和范围。本专利技术的保护范围当视所提出的权利要求限定的范围为准。【主权项】1.一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置包括基座(1)、光学探头(2)、探头壁(3)、管道(4)、压力表(5)和电动执行机构(6)，其特征在于:所述探头壁(3)上设有进气孔(7 )，所述基座(I)内设有电动门(8 )，所述电动门(8 )可在电动执行机构(6 )的带动下在基座(I)内左右滑动。2.根据权利要求1所述的用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置，其特征在于:所述电动门(8)与基座(I)之间设有密封装置。3.根据权利要求1所述的用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置，其特征在于:所述电动门(8)为方形，其边长大于光学探头(2)的直径。4.根据权利要求1所述的用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置，其特征在于:所述进气孔(7)沿探头壁(3)均匀分布，所述进气孔(7)与外置压缩空气相连接。5.根据权利要求1所述的用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置，其特征在于:所述基座(I)分为上下两部分，上下两部分之间通过螺钉连接，为活动连接。6.根据权利要求1所述的用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置，其特征在于:所述基座(I)、电动门(8 )均由耐磨材料制成。【专利摘要】本专利技术公开了一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置，以解决测量过程中普遍存在的管道内微细颗粒污染光学探头，从而使光学测量方法不能得到广泛工业应用的问题。该光学探头防污装置包括基座（1）、光学探头（2）、探头壁（3）、管道（4）、压力表（5）和电动执行机构（6），其特征在于：所述探头壁（3）上设有进气孔（7），所述基座（1）内设有电动门（8），所述电动门（8）可在电动执行机构（6）的带动下在基座（1）内左右滑动。本专利技术所述的光学探头防污装置在带粉运行的情况下，仍可以灵活有效地对光学探头进行防污，使光学探头保持清洁，从而达到使气力输送粉体参数光学测量的工业应用成为可能的目的。【IPC分类】B65G53-34【公开号】CN104816948【申请号】CN201510215966【专利技术人】黄孝彬, 白冰, 张文彪, 吴国勋, 钱相臣, 胡永辉 【申请人】华北电力大学, 北京华清茵蓝科技有限公司【公开日】2015年8月5日【申请日】2015年4月30日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置包括基座（1）、光学探头（2）、探头壁（3）、管道（4）、压力表（5）和电动执行机构（6），其特征在于：所述探头壁（3）上设有进气孔（7），所述基座（1）内设有电动门（8），所述电动门（8）可在电动执行机构（6）的带动下在基座（1）内左右滑动。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄孝彬，白冰，张文彪，吴国勋，钱相臣，胡永辉，
申请(专利权)人：华北电力大学，北京华清茵蓝科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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