一种基于无理数存储测试数据的解压方法技术

本发明专利技术公开一种基于无理数存储测试数据的解压方法，其通过二分法多次迭代能边解压边运行测试，既避免复杂的开方运算也避免开方运算的等待时间。解压方法包括以下步骤：a，将原始测试集变换成至少一个无理数对应的整数：b，由控制计算机估计出步骤a中单个无理数所对应的单精度或双精度小数：b0.b1b2…bn-1bn，记t1＝b0.b1b2…bn-1(bn-1)，t2＝b0.b1b2…bn-1(bn+1)，将整数部分b0和前n-1位小数部分bn-1对应游程长度转换成测试向量后依次输入被测芯片，并记录传输到ATE通道的游程数量num；c，记d，令判断(t′l)k与m的大小；g，在(t′l)k＝m时，将从num开始到p结束的游程长度传输到被测芯片；h，将测试结果与理论值比较，如果结果一致，则被测芯片通过测试；否则不通过。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术设及集成电路可测试性设计
，尤其设计集成电路的一种基于无理 数存储测试数据的解压方法。
技术介绍
集成电路产品需要进行测试W保证其产品的良率。近几十年来，随着超大规模集 成（VLSI)技术的迅速发展，巧片中晶体管的密度成指数倍增加，1C测试成为半导体工业中 最大的挑战之一。作为常见的可测试性设计值FT)之一，全扫描设计广泛应用于1C测试中。 基于全扫描的测试方案提高了电路的可控制性和可观察性，彻底地降低了测试生成的复杂 性。然而，该类方案大大延长了测试应用时间，存在测试成本过高的问题。过高的测试费用 已成为当今1C测试面临的主要问题。 测试成本与许多因素有关，其中日益增加的庞大的测试数据量是与测试成本相关 的重要因素之一。测试数据逐年呈指数规律增长，庞大的数据导致了W下问题；（1)硬盘和 自动测试设备（AutomaticTestEquipment,AT巧之间带宽有限，使得测试数据从硬盘传输 到ATE的时间大于测试数据从ATE传输到被测电路（Circuit化derTest,CUT)的时间，会 导致浪费在等待测试数据从硬盘到ATE之间的加载时间加长。（2)ATE的存储容量有限，使 得必须裁剪或分批加载测试数据。如果裁剪测试数据就会导致测试质量降低；如果分次加 载测试数据，就会增加测试时间。（3)ATE与CUT之间的带宽有限，使得不能降低测试数据 从ATE的存储器到CUT的加载时间。虽然更换高档次的ATE可W在一定程度上缓解上述问 题，但该势必会增加测试成本（ATE价格在50-120美元/台）。上述问题是由于测试数据 量增加带来的，显然，如果在测试质量不变的情况下减少测试数据量，同样也能解决上述问 题。因此迫切需要研究测试数据量减少技术。 关于测试数据量减少技术的研究，主要集中在=个方面。 (1).基于非线性编码的压缩方案。非线性编码将原始测试数据分割成多个符号 (字符串），每个字符串用一个码字替代从而构成了压缩的测试数据eg。T,存储在测试设 备中，在测试时，首先通过预处理将压缩后的数据载入解码器，所有的码字经解码器解压成 相应的字符串。然后将解压后的数据施加到CUT,捕获响应并进行响应分析。 (2).基于广播的压缩方案。该类方案将相同的值广播到多条扫描链中。由于它的 简单性和高效性，该种方法成为许多测试压缩结构的基础。 (3).基于线性解压器的压缩方案。该类方案利用线性操作将存储在ATE中的数据 扩展成CUT需要的测试向量。基于线性解压器的压缩是目前测试激励压缩技术的研究热点 和重点。该类技术对于X比例很高的测试集能够获得更高的压缩率，压缩过程一般不依赖 于被测电路和测试集，因而特别适合IP巧核的测试数据压縮，绝大多数的商业测试压缩 工具都采用该类技术。[000引由于在CUT与ATE之间数据传输存在着信号难W同步的缺点，不解决好同步问题， 将会严重影响测试效率，改进通讯方式，又将会增加通讯协议的复杂性。另外，基于编码的 测试数据压缩技术对多扫描链结构并不能很好的相容，需要对每一条扫描链都提供一个独 立的解压电路才能使解压效率最高。 正是由于该些原因，对基于编码的测试数据压缩技术的研究仅停留在学术界，至U 目前为止还没有实用的相关邸A工具出现。 由于测试时通常存在着抗随机故障（RandomResistantFault,RRF)，故（2)和 (3)两种方法存在故障覆盖率不高、测试序列较长的弊端。虽然可W通过加权或采用混合模 式等方法来进一步提高测试效率，但随着电路规模的扩大，RRF的增多，所需要的硬件开销 将显著增加。 中国专利技术专利申请201210414485.X提出一种快速查找无理数的测试数据压缩方 法，公开了一种动态编码压缩技术，并不直接用代码字来存储游程长度，而是将游程长度出 现的规律表示成形如^ (其中m，1，k全部是整数）无理数，存储时只用存储m，1，k和原 始测试数据长度P等四个整数。将对整个测试集的存储转换成了单个或若干个无理数对应 的整数存储。另外，提出了一种二分查找无理数的方法，将对无理数的计算转换成对无理数 的查找，减少了算法的复杂度。 该种将测试数据转换成无理数的方法来存储数据，从理论上可W无限压缩测试数 据，可W从根本上解决测试数据的存储问题。然而该技术中存在如何将无理数还原成原始 测试集的问题，难点是如何将无理数展开成小数。使用传统的方法，计算机无法完成大数据 的开方运算，即使可W能够展开成小数，时间也非常长，需要ATE从无理数到小数转化的整 个过程，该个过程本身也是测试成本的浪费。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供了一种提高测试效率的无理数整数 表示的存储测试数据的解压方法。 本专利技术采用W下的技术方案实现，，其 应用于自动测试设备中用于测试被测巧片；所述解压方法包括W下步骤： 步骤a,将原始测试集变换成单个或若干个无理数对应的整数表示，将游程长度出 现的规律表示成形如^无理数，其中m，1，k全部是整数，存储时只存储m，1，k和原始测试 数据长度P并存储在所述自动测试设备的控制计算机中； 步骤b，由所述控制计算机估计出步骤a中单个无理数所对应的单精度或双精 度小数；b。.叫2…bn_ib。，其中b。、Vb2、…、bn_i、bn为对应的游程长度，记t1=b0.叫2-" IVi化。-1)，t2=b0.bib2'''lvi化。+1);将整数部分b。和前n-1位小数部分b。_拥应游程长度 转换成测试向量后依次由ATE通道输入被测巧片，并记录传输到ATE通道的游程数量num;步骤C，记^二t，则；m=(U)k，得到（U)k=m《（t2l)k; 步骤d，令= 判断（t'l)k与m的大小情况； 步骤g，在（t'l)k=m时，将从num开始到p结束的游程长度通过ATE通道传输 到被测巧片； 步骤h，将测试结果与理论值比较，如果结果一致，则被测巧片通过测试；如果不 一致，则被测巧片不通过测试。 作为上述方案的进一步，所述解压方法还包括步骤e，在（t'l)k<m时，比较ti与 t'相同的数据位数即为已经解压的游程数量，将从num开始到ti与t'相同的数据位数的 游程长度通过ATE通道转换成测试向量后传输到被测巧片，并更新num为ti与t'相同的 数据位数，令ti=t'，重复步骤d。 作为上述方案的进一步，所述解压方法还包括步骤f，在（t'l)k〉m时，比较t当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于无理数存储测试数据的解压方法，其应用于自动测试设备中用于测试被测芯片；其特征在于：所述解压方法包括以下步骤：步骤a，将原始测试集变换成单个或若干个无理数对应的整数表示，将游程长度出现的规律表示成形如无理数，其中m,l,k全部是整数，存储时只存储m,l,k和原始测试数据长度p并存储在所述自动测试设备的控制计算机中；步骤b，由所述控制计算机估计出步骤a中单个无理数所对应的单精度或双精度小数：b0.b1b2…bn‑1bn，其中b0、b1、b2、…、bn‑1、bn为对应的游程长度，记t1＝b0.b1b2…bn‑1(bn‑1)，t2＝b0.b1b2…bn‑1(bn+1)；将整数部分b0和前n‑1位小数部分bn‑1对应游程长度转换成测试向量后依次由ATE通道输入被测芯片，并记录传输到ATE通道的游程数量num；步骤c，记则：m＝(tl)k，得到(t1l)k≤(tl)k＝m≤(t2l)k；步骤d，令判断(t′l)k与m的大小情况；步骤g，在(t′l)k＝m时，将从num开始到p结束的游程长度通过ATE通道传输到被测芯片；步骤h，将测试结果与理论值比较，如果结果一致，则被测芯片通过测试；如果不一致，则被测芯片不通过测试。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：詹文法，朱世娟，程一飞，吴海峰，
申请(专利权)人：安庆师范学院，
类型：发明
国别省市：安徽;34