采用针对对象分类的角度分辨散射和光谱分辨测量的系统、设备和方法技术方案

本文描述了用于对对象进行识别、分类、分化等的系统、设备和方法。例如高光谱成像系统可包括操作性地耦合到光学组件、暗场照明器中的至少一者的暗场模块、以及高光谱成像模块。暗场模块可包括具有一或多个传感器、能操作来获取与来自被暗场询问刺激询问的对象的散射的电磁能量相关联的一或多个暗场显微图的电路。高光谱成像模块可被操作性地耦合到暗场模块，且可包括被配置为基于该对象的一或多个暗场显微图生成角度分辨和光谱分辨散射矩阵的电路。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利说明】相关申请交叉参考本申请涉及和/或要求来自下列申请(“优先权申请”)的最早可用有效申请日的权益，如果有，则列于下面(例如，就优先权申请的任何以及所有的母案申请、祖案申请、曾祖案申请等而言，要求非临时专利申请的最早可用优先权日或者根据美国法典第35编第119(e)要求临时专利申请的权益)。此外，本申请涉及“相关申请”，如果有，则列于下面。优先权串i青美国专利申请N0.13/662，724，名称为 SYSTEMS, DEVICES, AND METHODS EMPLOYINGANGULAR-RESOLVED SCATTERING AND SPECTRALLY RESOLVED MEASUREMENTS FORCLASSIFICAT1N OF OBJECTS，专利技术人为本杰明.K.威尔逊和迈克尔.C.海格，申请日为2012年10月29日。美国专利申请N0.13/662，770，名称为 SYSTEMS, DEVICES, AND METHODS EMPLOYINGANGULAR-RESOLVED SCATTERING AND SPECTRALLY RESOLVED MEASUREMENTS FORCLASSIFICAT1N OF OBJECTS，专利技术人为本杰明.K.威尔逊和迈克尔.C.海格，申请日为2012年10月29日。相关申请无美国专利局(USPTO)已发布有效力的通知:USPT0的计算机程序要求专利申请人引用序列号并指明申请是否是母案申请的继续申请、部分继续申请、或分案申请。斯蒂芬.G.库宁，《先前提交的申请的权益》，USPTO官方公报，2003年3月18日。USPTO还针对申请数据表提供了表格，其使著录数据能够自动加载但要求识别每一个申请是母案申请的继续申请、部分继续申请还是分案申请。本申请人实体(以下简称“申请人”)已在上文提供了对一或多个申请的具体参考，按照法律规定要求该一或多个申请的优先权。申请人理解，法律在其具体的引用语言方面是清楚的，不需要序列号也不需要诸如“继续申请”或“部分继续申请”之类的任何特征来要求美国专利申请的优先权。尽管有上述规定，但申请人理解，USPTO的计算机程序有一定的数据输入要求，因此，申请人提供了在本申请与上文及本申请所提交的任何ADS中所述的其母案申请之间的关系的指定，但明确指出，这样的指定不以任何方式解释为对本申请除了其母申请的内容外是否还包含任何新内容的任何类型的评论和/或认可。如果上面提供的申请列表与通过ADS提供的列表不一致，则申请人的意图是要求在ADS的优先权申请部分中出现的各个申请和在本申请的优先权申请部分中出现的各个申请的优先权。优先权申请和相关申请的所有主题以及优先权申请和相关申请的任何及所有的母案申请、祖案申请、曾祖案申请等的所有主题，包括任何优先权要求，在这些主题不与本文冲突的程度内，都通过参考并入本文。
技术实现思路
—方面，本公开除其他方面外针对高光谱成像系统。在实施方式中，高光谱成像系统包括暗场模块，所述暗场模块包括光学组件和暗场照明器。在实施方式中，暗场模块被操作性地耦合到一或多个传感器和暗场照明器，且被配置为获取与来自被暗场询问刺激询问的对象的散射的电磁能量相关联的一或多个暗场显微图。在实施方式中，所述成像系统包括被配置为提供多角度照明且被配置为针对视场中的多个像素获取波长和角度信息的暗场照明器。在实施方式中，暗场照明器可操作来以相对于光学组件的光轴的一或多个入射角将暗场询问刺激传递到至少一个焦点区域上。在实施方式中，所述高光谱成像系统包括高光谱成像模块，高光谱成像模块被操作性地耦合到所述暗场模块且具有被配置为基于对象的所述一或多个暗场显微图生成角度分辨和光谱分辨散射信息的电路。在实施方式中，所述高光谱成像系统包括对象分类模块，对象分类模块具有可操作来将角度分辨和光谱分辨散射信息与参考角度分辨和光谱分辨高光谱信息进行比较，并基于该比较生成与成像于一或多个暗场显微图中的对象相关联的分类信息的电路。一方面，本公开除其他方面外还针对包括暗场模块和对象分类模块的高光谱成像装置。在实施方式中，暗场模块被操作性地耦合到光学组件且被配置为以相对于光学组件的光轴的一或多个入射角将电磁能量聚焦到至少一个焦点区域上。例如，在实施方式中，暗场模块包括被配置为以相对于光学组件的光轴的一或多个入射角将电磁能量聚焦到至少一个焦点区域上的多个能量发射器。在实施方式中，高光谱图像传感器被操作性地耦合到暗场模块。在实施方式中，高光谱图像传感器包括一或多个机电部件、光机部件、光电部件、声光部件等，被配置为调整由暗场模块传递的电磁能量的入射角、获取在不同视场的对象的至少一部分的一或多个角度分辨暗场图像、以及基于一或多个角度分辨暗场图像生成角度分辨和光谱分辨高光谱信息。在实施方式中，对象分类模块包括能操作来将所述角度分辨和光谱分辨高光谱信息与参考角度分辨和光谱分辨高光谱信息进行比较以及基于该比较对对象进行分类的电路。一方面，本公开除其他方面外还针对用于对对象进行识别、分类、分化(differentiating)等的方法。在实施方式中，该方法包括以相对于光学组件的光轴的一或多个入射角将电磁能量聚焦到至少一个焦点区域上。在实施方式中，该方法包括获取对象的一或多个角度分辨和光谱分辨暗场图像。在实施方式中，该方法包括基于对象的一或多个角度分辨和光谱分辨暗场图像生成角度分辨和光谱分辨高光谱信息表示。在实施方式中，该方法包括响应于角度分辨和光谱分辨高光谱信息表示与参考角度分辨和光谱分辨高光谱信息的比较对对象进行分类。在实施方式中，该方法包括响应于角度分辨和光谱分辨高光谱信息表不与参考角度分辨和光谱分辨高光谱信息的比较生成对象分类的虚拟表示。在实施方式中，该方法包括生成对象的至少一个角度分辨和光谱分辨暗场图像的虚拟表示。在实施方式中，该方法包括基于检测到的对比度差通过改变照明入射角或采集孔径尺寸中的至少一者改变照明采集间距。在实施方式中，该方法包括在保持大体上固定的照明采集间距的同时改变照明角度或采集孔径尺寸中的一者。在实施方式中，该方法包括利用诸如T检验方案(T-test protocol)、阈值检验方案等空间图像处理技术从视场确定重要对象信息。在实施方式中，该方法包括基于形态信息和散射信息中的一或多者利用一或多个判别滤波器(discriminating filter)确定对象的散射特征信息。一方面，本公开除其他方面外还针对包括承载用于使系统、计算器件、处理器等以相对于光学组件的光轴的一或多个入射角将电磁能量聚焦到至少一个焦点区域上的一或多个指令的非暂时性信号承载介质的制造品。在实施方式中，所述制造品包括承载用于使系统、计算器件、处理器等获取对象的一或多个角度分辨和光谱分辨暗场图像的一或多个指令的非暂时性信号承载介质。在实施方式中，所述制造品包括承载用于使系统、计算器件、处理器等基于对象的一或多个角度分辨和光谱分辨暗场图像生成角度分辨和光谱分辨高光谱信息表示的一或多个指令的非暂时性信号承载介质。在实施方式中，所述制造品包括承载用于使系统、计算器件、处理器等响应于角度分辨和光谱分辨高光谱信息表示与参考角度分辨和光谱分辨高光谱信息的比较对对象中的对象进行分类的一或多个指令的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高光谱成像系统，包括：暗场模块，其包括光学组件，和暗场照明器，其能操作来以相对于光学组件的光轴的一或多个入射角将暗场询问刺激传递到至少一个焦点区域上，所述暗场模块具有包括一或多个传感器、能操作来获取与来自被所述暗场询问刺激询问的对象的散射的电磁能量相关联的一或多个暗场显微图的电路；和高光谱成像模块，其被操作性地耦合到所述暗场模块且具有被配置为基于所述对象的所述一或多个暗场显微图生成角度分辨和光谱分辨散射矩阵的电路。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：本杰明·K·威尔逊，迈克尔·C·赫格，
申请(专利权)人：脱其泰有限责任公司，
类型：发明
国别省市：美国;US