本实用新型专利技术一种IGBT测试用多脉冲发生电路，所述电路包括按键延时整形电路，用于将按键按下后产生的按键信号进行延迟整形，以滤除按键时产生的抖动；下降沿检测电路，与所述按键延时整形电路连接，用于在检测到所述按键信号的下降沿时发出脉冲信号；信号锁定电路，与所述下降沿检测电路连接，用于将所述脉冲信号进行锁定为一高电平信号；脉冲振荡电路，与所述信号锁定电路连接，用于在所述脉冲信号变成高电平时进行振荡，输出一方波；脉冲计数电路，与所述脉冲振荡电路连接，用于将所述脉冲振荡电路输出的脉冲分为多路，以输出多脉冲。该多脉冲发生电路具有脉冲数目，脉冲占空比，脉冲频率均可调等优点。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种脉冲发生电路，特别涉及一种IGBT测试用多脉冲发生电路。
技术介绍
IGBT作为一种大功率半导体功率开关器件，广泛应用于电机变频调速以及各种高性能电源、工业电气自动化等领域有着广阔的市场。在IGBT模块的实际应用过程中，必须观测IGBT在变换器中工作时的实际表现，了解此时IGBT模块的开关行为的各项参数，观测这些参数，最有效的方法就是脉冲测试法。因此，提供一种可以调节脉冲个数，脉冲占空比，脉冲频率的电路迫在眉睫。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种IGBT测试用多脉冲发生电路，旨在解决现有多脉冲发生电路不能调节脉冲个数，脉冲占空比和脉冲频率的问题。为了解决上述技术问题，本技术通过如下技术方案实现的:一种IGBT测试用多脉冲发生电路，所述电路包括按键延时整形电路，用于将按键按下后产生的按键信号进行延迟整形，以滤除按键时产生的抖动；下降沿检测电路，与所述按键延时整形电路连接，用于在检测到所述按键信号的下降沿时发出脉冲信号；信号锁定电路，与所述下降沿检测电路连接，用于将所述脉冲信号进行锁定为一高电平信号；脉冲振荡电路，与所述信号锁定电路连接，用于在所述脉冲信号变成高电平时进行振荡，输出一方波；脉冲计数电路，与所述脉冲振荡电路连接，用于将所述脉冲振荡电路输出的脉冲分为多路，以输出多脉冲。作为进一步的技术方案，所述按键延时整形电路包括:与VCC连接的按键SI;电阻R3，所述电阻R3 —端接地，一端与所述按键SI并联；电阻R4，所述电阻R4 —端与所述按键SI连接，一端与所述R3连接；三极管Ql，该三极管Ql的集电极与VCC连接，发射极与芯片的清零端连接，用于对按键信号进行清零；电容C3，通过电阻R4与按键SI连接，用于滤除按键时产生的抖动；反相器Dl和反相器D2，所述反相器Dl —端与R4连接，一端与所述反相器D2连接，用于将电压整形成方波。作为进一步的技术方案，所述下降沿检测电路包括:电容C4，与所述反相器D2连接，所述C4两端电压在所述反相器D2由高电平跳变为低电平时不能发生突变；施密特触发器D3，与所述电容C4连接，用于在所述反相器D2的输出由高电平跳变为低电平时，施密特触发器的2脚变为低电平，3脚输出一高电平脉冲。作为进一步的技术方案，所述信号锁定电路包括:D触发器D10，所述D触发器的5脚与所述施密特触发器D3连接，用于接收所述施密特触发器D3的3脚输出；电容C5，所述电容C5用于接收所述施密特触发器的另一路输出。作为进一步的技术方案，所述脉冲振荡电路包括:依次连接的三个施密特触发器D4、D5和D6，所述施密特触发器D4与所述D触发器DlO连接，用于接收D触发器DlO的一脚输出；电感RTl和电感RT2，所述电感RTl的一端连接施密特触发器D4的一脚，另一端连接所述电感RT2，所述电感RT2的与电子R13和R14组成并联回路后与所述施密特触发器D5的一脚连接，用于接收到高电平时开始振荡；反相器D20，与所述施密特触发器D6连接，用于对振荡信号进行反相。作为进一步的技术方案，所述脉冲计数电路包括:移位寄存器D30，与所述脉冲振荡电路连接，用于接收所述脉冲振荡电路的两路脉冲，其中一路作为所述移位寄存器D30的时钟并发出一个脉冲。作为进一步的技术方案，所述脉冲计数电路还包括多个移位寄存器D30，所述多个移位寄存器D30通过级联实现。有益效果:该脉冲发生电路主要由按键延时整形电路、下降沿检测电路、信号锁定电路、脉冲振荡电路、脉冲计数电路五部分组成。按键按下后，按键信号被延迟整形以滤除按键时的抖动；然后检测出信号的下降沿一一即在按键松开以后才会发出脉冲；检测信号送入信号锁定电路，使脉冲振荡电路开始工作产生占空比和频率均可调的方波脉冲作为IGBT的驱动信号；同时，脉冲计数电路工作，当脉冲数目达到设定数目时，将整个系统清零，等待下一次按键。该多脉冲发生电路具有脉冲数目，脉冲占空比，脉冲频率均可调等优点。【附图说明】图1是本技术的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的电路框图。图2是本技术的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的按键延时整形电路的电路不意图图3是本技术的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的下降沿检测电路的电路示意图。图4是本技术的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的信号锁定电路的电路示意图。图5是本技术的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的脉冲振荡电路的电路示意图。图6是本技术的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的脉冲计数电路的电路示意图。【具体实施方式】为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。为了说明本技术所述的技术方案，下面通过具体实施例来说明。如图1所示，一种IGBT测试用多脉冲发生电路，所述电路包括按键延时整形电路1，用于将按键按下后产生的按键信号进行延迟整形，以滤除按键时产生的抖动；下降沿检测电路2，与所述按键延时整形电路I连接，用于在检测到所述按键信号的下降沿时发出脉冲信号；信号锁定电路3，与所述下降沿检测电路2连接，用于将所述脉冲信号进行锁定为一高电平信号；脉冲振荡电路4，与所述信号锁定电路3连接，用于在所述脉冲信号变成高电平时进行振荡，输出一方波；脉冲计数电路5，与所述脉冲振荡电路4连接，用于将所述脉冲振荡电路输出的脉冲分为多路，以输出多脉冲。请参见图2，所述按键延时整形电路I包括:与VCC连接的按键SI;电阻R3，所述电阻R3 —端接地，一端与所述按键SI并联；电阻R4，所述电阻R4 —端与所述按键SI连接，一端与所述R3连接；三极管Ql，该三极管Ql的集电极与VCC连接，发射极与芯片的清零端连接，用于对按键信号进行清零；电容C3，通过电阻R4与按键SI连接，用于滤除按键时产生的抖动；反相器Dl和反相器D2，所述反相器Dl —端与R4连接，一端与所述反相器D2连接，用于将电压整形成方波。具体的，当按键SI被按下后，5V电压经SI加到R3、R4、C2 —端；此时C2呈短路状态，与R5连接的一端为5V，并经过R5对地放电，此处电压经Ql放大后通向各逻辑芯片清零端，实现按键清零功能。同时，5V电压经R4给C3充电，以滤除按键时产生的抖动，C3电压又经两个反相器Dl和D2 (采用反相器⑶4069)整形成方波输入下一级。请参见图3，所述下降沿检测电路2包括:电容C4，与所述反相器D2连接，所述C4两端电压在所述反相器D2由高电平跳变为低电平时不能发生突变；施密特触发器D当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种IGBT测试用多脉冲发生电路，其特征在于，所述电路包括按键延时整形电路，用于将按键按下后产生的按键信号进行延迟整形，以滤除按键时产生的抖动；下降沿检测电路，与所述按键延时整形电路连接，用于在检测到所述按键信号的下降沿时发出脉冲信号；信号锁定电路，与所述下降沿检测电路连接，用于将所述脉冲信号进行锁定为一高电平信号；脉冲振荡电路，与所述信号锁定电路连接，用于在所述脉冲信号变成高电平时进行振荡，输出一方波；脉冲计数电路，与所述脉冲振荡电路连接，用于将所述脉冲振荡电路输出的脉冲分为多路，以输出多脉冲。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李迪伽，李加取，谢永梁，元金皓，
申请(专利权)人：深圳市振华微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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