本发明专利技术公开了一种可校准测温参数的测温方法和装置,其中,所述方法包括:获取红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压;然后根据所述环境温度和电压,校准测温参数;最后根据所述环境温度、电压和校准后的测温参数,计算被测物体的实际温度。通过所述方法,先对测温参数进行校准,再计算被测物体的实际温度,不仅提高了测温的准确度,还使测温不受外界环境因素的干扰,扩大了测温方法的运用范围。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及温度测量领域,特别涉及一种可校准测温参数的测温方法和装置。
技术介绍
现有利用红外热电堆传感器测温的方法和装置中,通常在测得热电堆的环境温度 和热电堆产生的电压后,根据斯特藩-玻尔兹曼定律来计算被测物体的温度。然而,测温的 外界环境并不是理想的常温环境,外界温度通常是时刻变化的,而且,热电堆在测温时自身 也会往外辐射能量,这些都会影响到测温的准确性。现有的测温算法中,测温参数均使用经 验常数,无法根据外界环境的变化做出调整,更没有方法来校准测温参数,因此,现有的测 温方法和装置,其精度有待提高。 因而现有技术还有待改进和提尚。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足之处,本专利技术的目的在于提供一种可校准测温参数的测 温方法和装置,通过对测温参数进行校准,提高了测温的准确性。 为了达到上述目的,本专利技术采取了以下技术方案: 一种可校准测温参数的测温方法,所述方法包括步骤: A、获取红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压; B、根据所述环境温度和电压,校准测温参数; C、根据所述环境温度、电压和校准后的测温参数,计算被测物体的实际温度。 所述的可校准测温参数的测温方法中,在所述步骤A之前,还包括步骤:将被测物 体放置在红外热电堆传感器的正上方。 所述的可校准测温参数的测温方法中,所述步骤C具体包括: Cl、根据红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的 电压计算整个测温过程的系统参数S : S = S0X ; C2、根据红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压计算热电 堆自身的热辐射Vqs: Vos= b o+biX (Tdie-Teef)+b2 X (Tdie-Teef)2]; C3、根据红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压计算热红 外辐射过来的量值T(Vtw): f (Vobj) = (Vobj-Vos)+C2 X (Vobj-Vos)2; C4、根据红外热电堆传感器的环境温度、热红外辐射过来的量值和系统参数,计算 被测物体的实际温度Tqw:【主权项】1. 一种可校准测温参数的测温方法,其特征在于,所述方法包括步骤: A、 获取红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压; B、 根据所述环境温度和电压,校准测温参数; C、 根据所述环境温度、电压和校准后的测温参数,计算被测物体的实际温度。2. 根据权利要求1所述的可校准测温参数的测温方法,其特征在于,在所述步骤A之 前,还包括步骤;将被测物体放置在红外热电堆传感器的正上方。3. 根据权利要求2所述的可校准测温参数的测温方法,其特征在于,所述步骤C具体包 括: C1、根据红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的 电压计算整个测温过程的系统参数S: S=S〇X; C2、根据红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压计算热电堆自 身的热福射Vw: V〇s-bQ+biX(Tdi^kef)+62X(Tdi^kef)]; C3、根据红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压计算热红外福 射过来的量值f(V。^); f(V〇Bj) - (V〇BJ-V〇s) +。2X(V〇Bj-V〇s); C4、根据红外热电堆传感器的环境温度、热红外福射过来的量值和系统参数,计算被测 物体的实际温度其中,所述31、32和C2为常数,所述b。、bi、b2和S。为测温参数,所述V为红外热电堆 传感器产生的电压,Tdk为红外热电堆传感器的环境温度,所述Tew为常温,公式中温度的单 位均为开尔文。4. 根据权利要求3所述的可校准测温参数的测温方法,其特征在于,所述步骤B具体包 括: B1、将红外热电堆传感器的测温参数的初始值设置为: b〇= -2. 94Xe-5,bi= -5. 7Xe-7,b2= 4. 78Xe-9, 8。= 6Xe-14 ; B2、根据红外热电堆传感器产生的电压V。^红外热电堆传感器的环境温度Tdw和公式,计算得出f(Vw)的值; B3、依计算得到的f(Vw)的值和公式 f(VdBJ) = (VdBJ-Vds) +C2X(V〇Bj-V〇s) 2,计算得出热电堆自身的热福射V〇s; B4、根据公式Vw=bu+biX(Tnu-lW+bsX(Tdk-Teep。,对Vw和(Tdi^kep)进行二项式 拟合,得出测温参数b。、Vb2的值; B5、根据计算得出的测温参数b〇、bi、b2的值,由公式V〇s=b〇+biX(TniE-TW+bsX(Tdie-Teef)2]重新计算出V〇s的值; 66、根据公式^¥。")= (¥。8广¥。5)+〇2乂(¥。8^。5)2,重新计算出^¥。")的值; B7、根据公式f(V〇Bj) = (T〇bj4-Tdie4)xs和公式S=S〇X,得出公式(T〇b/-Tdie4)XS〇=f(V〇Bj)/,对 (T〇b/-Tdie4)和f(V〇Bj)/进行一次线性拟合,得出新的测 温参数S。; B8、循环步骤B2-B7进行迭代计算40次,逐步逼近计算出最优化的测温参数b。、bi、b2 和或。5. 根据权利要求4所述的可校准测温参数的测温方法,其特征在于,所述常数ai、a2和 C2的具体值为;a1=1. 75Xe_3,a2=-1. 68Xe_5,C2=13. 4。6. -种可校准测温参数的测温装置,其特征在于,所述装置包括: 红外热电堆传感器; 参数获取模块,用于获取红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电 压; 校准模块,用于根据所述环境温度和电压,校准测温参数; 计算模块,用于根据所述环境温度、电压和校准后的测温参数,计算被测物体的实际温 度。7. 根据权利要求6所述的可校准测温参数的测温装置,其特征在于,所述被测物体放 置在红外热电堆传感器的正上方。8. 根据权利要求6所述的可校准测温参数的测温装置,其特征在于,所述计算模块具 体用于: 根据红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压计算整个测温过 程的系统参数S: S-S〇X; 根据红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压计算热电堆自身 的热福射Vw: V〇s-bQ+biX(Tdi^kef)+62X(Tdi^kef)]; 根据红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压计算热红外福射 过来的量值f(v。^); f(V〇Bj) = (V〇BJ-V〇s)+C2X(V〇bj-V〇s)2; 根据红外热电堆传感器的环境温度、热红外福射过来的量值和系统参数,计算被测物 体的实际温度T()ej:其中,所述ai、32和C2为常数,所述b。、bi、b2和S。为测温参数,所述V为红外热电堆 传感器产生的电压,Tdu为红外热电堆传感器的环境温度,所述Tew为常温,公式中温度的单 位均为开尔文。9. 根据权利要求8所述的可校准测温参数的测温装置,其特征在于,所述常数ai、a2和 C2的具体值为;a1=1. 75Xe_3,a2=-1. 68Xe_5,C2=13. 4。10.根据权利要求9所述的可校准测温参数的测温装置,其特征在于,所述校准模块具 体用于: 将红外热电堆传感器的测温参数的初始值设置本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种可校准测温参数的测温方法,其特征在于,所述方法包括步骤:A、获取红外热电堆传感器的环境温度和红外热电堆传感器产生的电压;B、根据所述环境温度和电压,校准测温参数;C、根据所述环境温度、电压和校准后的测温参数,计算被测物体的实际温度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:李向吉,谢广宝,郭鹏,李鹏,
申请(专利权)人:东莞捷荣技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。