一种通用的超声探头测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种通用的超声探头测试装置，超声探头通过一标准接口传输测试信号，所述标准接口包含若干个待测引脚。超声探头测试装置包括：微处理器、测试设备、测试接口和若干测试通路；所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态；所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一所述待测引脚。本实用新型专利技术通用性强，能适用于所有使用相同标准接口的不同接口线序的超声探头，既像人工测试一样能随意定义接口线序，又保留了测试装置测试速度快，测试准确的优点。能大大降低超声探头测试开发的成本，缩短超声探头测试开发的周期。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及超声探头的测试领域，具体地，涉及一种通用的超声探头测试装置。
技术介绍
B超系统是通过超声波来诊断疾病的设备，B超探头是能将电信号和声信号互相转换的器件，是B超系统成像的关键部件。超声探头通过标准的接口与B超系统连接。但是每家B超系统厂家对超声探头的接口线序定义不同。对于专业生产探头的厂家来说，客户多，接口线序多会造成很大的麻烦。一直以来，超声探头的测试方法一般有两种：一种是采用人工，对接口的线序一一触碰进行测试。此方法效率低下，耗费人工，还容易发生人为错误；另外一种是测试装置的测试方法，就是针对固定的接口线序，制作对应的测试装置来进行自动测试。采用测试装置的测试方法每个装置只能对应一个接口线序，对于多个客户的多种接口线序，需要大量不同的测试装置。测试装置的测试方法不仅制作成本高，制作周期长，对应的装置管理也会有很大工作量。一直以来，超声探头的测试装置都是针对指定接口线序的探头。无法做到一个装置通用各种接口线序的探头测试。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本技术的目的是提供一种通用的超声探头测试装置。根据本技术提供的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，包括：微处理器、测试设备、测试接口和若干测试通路；所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态；所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一所述待测引脚。作为一种优化方案，每条所述测试通路包含依次相连的一继电器和所述待测引脚，所述测试接口分别与所述继电器相连；所述微处理器分别与所述继电器的控制端口相连；所述继电器用于：响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路导通，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚连通，或响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路断开，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚断开；所述微处理器用于对所述继电器的通电状态或断电状态进行自动控制。作为一种优化方案，所述微处理器根据所述预设测试时序对继电器的通电和断电进行自动控制。作为一种优化方案，还包括一计算机，所述计算机分别与所述微处理器和所述测试设备相连；所述计算机用于响应外部输入设置自定义的测试时序，并将该自定义的测试时序发送给所述微处理器；所述微处理器用于根据自所述计算机接收的所述测试时序对各测试通路中的继电器进行通电或断电状态控制。作为一种优化方案，所述继电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路导通；所述继电器在断电状态下使该继电器所在的测试通路断开。作为一种优化方案，所述继电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路断开；所述继电器在断电状态下使该继电器所在的测试通路导通。作为一种优化方案，所述超声探头是B超探头。与现有技术相比，本技术具有如下的有益效果：本技术提供的一种通用的超声探头测试装置，将标准接口的每个通道都接上一个开关/继电器，由微处理器来控制多个开关/继电器，达到每条通道的顺序控制，来满足各种不同的接口线序。本技术通用性强，能适用于所有使用相同标准接口的不同接口线序的超声探头，既像人工测试一样能随意定义接口线序，又保留了测试装置测试速度快，测试准确的优点。能大大降低超声探头测试开发的成本，缩短超声探头测试开发的周期。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。附图中：图1是一种可选实施例的B超探头测试装置原理图；图2是一种可选实施例的具有计算机的B超探头测试装置原理图。具体实施方式下文结合附图以具体实施例的方式对本技术进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本技术，但不以任何形式限制本技术。应当指出的是，还可以使用其他的实施例，或者对本文列举的实施例进行结构和功能上的修改，而不会脱离本技术的范围和实质。表1一种探头的接口线序示意图       表2另一种探头的接口线序示意图一个超声探头通过一标准接口与超声性能测试系统相连，在对该超声探头的出厂前测试过程中，需要按照该探头对应的接口线序对标准接口的所有引脚一个个地进行测试。表1和表2为探头的接口线序的两种实施例。表1和表2中数字代表接口线序的引脚序号，同时也是测试时的先后顺序，可见线序的不同导致测试顺序存在极大的差异。在本技术提供的一种通用的超声探头测试装置的实施例中，超声探头通过一标准接口传输测试信号，所述标准接口包含若干个待测引脚。如图1所示的超声探头测试装置原理图，一种通用的超声探头测试装置包括微处理器、测试设备、测试接口和若干测试通路。所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态。所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一所述待测引脚。作为一种实施例，每条所述测试通路包含依次相连的一继电器和所述待测引脚，所述测试接口分别与所述继电器相连。所述微处理器分别与所述继电器的控制端口相连。所述继电器用于：响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路导通，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚连通；或响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路断开，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚断开。所述微处理器用于对所述继电器的通电状态或断电状态进行自动控制。当所述继电器处于通电状态，该继电器所在的测试通路导通，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚连通；当所述继电器处于断电状态，该继电器所在的测试通路断开，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚断开。所述微处理器用于对所述继电器的通电状态或断电状态进行自动控制，由此分别实现对各测试通路通断的控制，进而依次获得每个引脚的测试数据。作为一种实施例，可以设置多个微处理器，所述微处理器中至少设置有一种预设测试时序，所述微处理器根据所述预设测试时序对继电器的通电和断电进行自动控制。在所述微处理中预设与待测超声探头接口线序对应的预设测试时序，所述微处理器根据所述预设测试时序自动对继电器的通电和断电进行控制，从而控制测试通路的开启和关闭本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，包括：微处理器、测试设备、测试接口和若干测试通路；所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态；所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一待测引脚。

【技术特征摘要】
1.一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，包括：微处理器、测试设备、测试接口和若干测试通路；
所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态；
所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一待测引脚。
2.根据权利要求1所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，每条所述测试通路包含依次相连的一继电器和所述待测引脚，所述测试接口分别与所述继电器相连；
所述微处理器分别与所述继电器的控制端口相连；
所述继电器用于：
响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路导通，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚连通，
或响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路断开，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚断开；
所述微处理器用于对所述继电器的通电状态或断电状态进行自动控制。
3.根据权利要求2所述的一种通用的超声探头测试装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐俊辉，黄海涛，
申请(专利权)人：上海爱声生物医疗科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31