一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法技术

本发明专利技术公开了一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，其包括以下工艺步骤：a、实测有偏差的分光曲线及数据；b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开原设计程序，保存原设计曲线、各膜层参数并删除原目标设定数据；c、导入实测数据并显示新目标分光曲线；d、利用分组功能按照膜堆结构进行分组；e、保留一组未锁定而其他组锁定，利用组优化功能进行优化，以确定导致分光曲线偏差的组；f、对导致分光曲线偏差的组重新分组，并按照步骤e的方式再次判断导致分光曲线偏差的组；g、按照步骤f逐渐缩小范围并最终判断导致分光曲线偏差的膜层。本发明专利技术能够有效且快速地找出造成偏差的原因，从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。

【技术实现步骤摘要】

 本专利技术涉及滤光片
，尤其涉及一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法。
技术介绍
对于具有摄像功能的手机而言，其镜头模组一般包括有支撑底座、红外截止滤光片、透镜以及摄像头传感器，其中，红外截止滤光片、透镜以及摄像头传感器粘合连接在支撑底座上。对于红外截止滤光片而言，其由蓝玻璃以及镀覆于蓝玻璃表面的红外截止膜组成；在红外截止膜制作过程中，由于种种原因会造成制造误差，进而造成分光曲线变异并超出技术规格要求而成为不良品；其中，分光曲线变异一般是由膜系中的某些膜层的厚度或折射率偏差而造成的，所以，找到这些导致分光曲线变异的膜层就成为改善的关键。对于现有技术而言，由于红外截止膜层数较多，当出现实镀分光曲线与所设计的分光曲线不符时，难以很快找到原因，有时不得不考虑重新设计新的膜系，或者从设备参数、工艺参数等方面调整，相对把握不大，改善的周期延长，不利于品质改善。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对现有技术的不足而提供一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，当实镀分光曲线与所设计的分光曲线不符时，该利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法能够有效且快速地找出造成偏差的原因，从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。为达到上述目的，本专利技术通过以下技术方案来实现。    一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，包括有以下工艺步骤，具体为：a、利用分光光度计实际测量红外截止滤光片的分光曲线，并获得有偏差的分光曲线以及数据；b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开与实际测量的红外截止滤光片相应的原设计程序，并保存原设计曲线以及各膜层参数，且删除原目标设定数据；c、将实际测量的有偏差的分光曲线数据导入目标设定中，并显示新目标分光曲线；d、利用TFC薄膜膜系设计软件的分组功能将红外截止膜的所有膜层按照膜堆结构进行分组；e、保留其中一组未锁定而其他组分别锁定，利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对未锁定的组进行优化；若偏差不吻合，则依次选取其他的一个组并使其保留未锁定，而其他的组分别锁定，依次进行优化并根据优化结果判断偏差是否吻合；若偏差吻合，则断定是该未锁定的组内的膜层导致分光曲线偏差；f、待导致分光曲线偏差的组确定后，再对该组内的膜层进行重新分组；同时，将其他未导致分光曲线偏差的组重新规划成一组，优化时，该组一直保留锁定；待分组完成后，按照步骤e的方式再次判断导致分光曲线偏差的组；g、按照步骤f的方式逐渐缩小范围并最终判断导致分光曲线偏差的膜层。本专利技术的有益效果为：本专利技术所述的一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，其包括以下工艺步骤：a、实测分光曲线并获得有偏差的分光曲线以及数据；b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开与实际测量的红外截止滤光片相应的原设计程序，并保存原设计曲线以及各膜层参数，且删除原目标设定数据；c、将实际测量的有偏差的分光曲线数据导入目标设定中，并显示新目标分光曲线；d、利用TFC薄膜膜系设计软件的分组功能将红外截止膜的所有膜层按照膜堆结构进行分组；e、保留其中一组未锁定而其他组分别锁定，利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对未锁定的组进行优化；若偏差不吻合，则依次选取其他的一个组并使其保留未锁定，而其他的组分别锁定，依次进行优化并根据优化结果判断偏差是否吻合；若偏差吻合，则断定是该未锁定的组内的膜层导致分光曲线偏差；f、待导致分光曲线偏差的组确定后，再对该组内的膜层进行重新分组；同时，将其他未导致分光曲线偏差的组重新规划成一组，优化时，该组一直保留锁定；待分组完成后，按照步骤e的方式再次判断导致分光曲线偏差的组；g、按照步骤f的方式逐渐缩小范围并最终判断导致分光曲线偏差的膜层。通过上述工艺步骤设计，当实镀分光曲线与所设计的分光曲线不符时，本专利技术所述的利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法能够有效且快速地找出造成偏差的原因，从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。具体实施方式下面结合具体的实施方式来对本专利技术进行说明。一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，包括有以下工艺步骤，具体为：a、利用分光光度计实际测量红外截止滤光片的分光曲线，并获得有偏差的分光曲线以及数据；b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开与实际测量的红外截止滤光片相应的原设计程序，并保存原设计曲线以及各膜层参数，且删除原目标设定数据；c、将实际测量的有偏差的分光曲线数据导入目标设定中，并显示新目标分光曲线；d、利用TFC薄膜膜系设计软件的分组功能将红外截止膜的所有膜层按照膜堆结构进行分组；e、保留其中一组未锁定而其他组分别锁定，利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对未锁定的组进行优化；若偏差不吻合，则依次选取其他的一个组并使其保留未锁定，而其他的组分别锁定，依次进行优化并根据优化结果判断偏差是否吻合；若偏差吻合，则断定是该未锁定的组内的膜层导致分光曲线偏差；f、待导致分光曲线偏差的组确定后，再对该组内的膜层进行重新分组；同时，将其他未导致分光曲线偏差的组重新规划成一组，优化时，该组一直保留锁定；待分组完成后，按照步骤e的方式再次判断导致分光曲线偏差的组；g、按照步骤f的方式逐渐缩小范围并最终判断导致分光曲线偏差的膜层。通过上述工艺步骤设计，当实镀分光曲线与所设计的分光曲线不符时，本专利技术所述的利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法能够有效且快速地找出造成偏差的原因，从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。以上内容仅为本专利技术的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本专利技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本专利技术的限制。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，其特征在于，包括有以下工艺步骤，具体为：a、利用分光光度计实际测量红外截止滤光片的分光曲线，并获得有偏差的分光曲线以及数据；b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开与实际测量的红外截止滤光片相应的原设计程序，并保存原设计曲线以及各膜层参数，且删除原目标设定数据；c、将实际测量的有偏差的分光曲线数据导入目标设定中，并显示新目标分光曲线；d、利用TFC薄膜膜系设计软件的分组功能将红外截止膜的所有膜层按照膜堆结构进行分组；e、保留其中一组未锁定而其他组分别锁定，利用TFC薄膜膜系设计软件的组优化功能对未锁定的组进行优化；若偏差不吻合，则依次选取其他的一个组并使其保留未锁定，而其他的组分别锁定，依次进行优化并根据优化结果判断偏差是否吻合；若偏差吻合，则断定是该未锁定的组内的膜层导致分光曲线偏差；f、待导致分光曲线偏差的组确定后，再对该组内的膜层进行重新分组；同时，将其他未导致分光曲线偏差的组重新规划成一组，优化时，该组一直保留锁定；待分组完成后，按照步骤e的方式再次判断导致分光曲线偏差的组；g、按照步骤f的方式逐渐缩小范围并最终判断导致分光曲线偏差的膜层。...

【技术特征摘要】
1.一种利用分膜堆方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，其特征在于，包括有以下工艺步骤，具体为：
a、利用分光光度计实际测量红外截止滤光片的分光曲线，并获得有偏差的分光曲线以及数据；
b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开与实际测量的红外截止滤光片相应的原设计程序，并保存原设计曲线以及各膜层参数，且删除原目标设定数据；
c、将实际测量的有偏差的分光曲线数据导入目标设定中，并显示新目标分光曲线；
d、利用TFC薄膜膜系设计软件的分组功能将红外截止膜的所有膜层按照膜堆结构进行分组；
e、保留其中一组未锁定而其他...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢德华，赵才义，
申请(专利权)人：东莞市微科光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44