导光膜调试设备制造技术

一种导光膜调试设备，用于检测导光膜导光部件的导光效果，包括设置于光源上的匀光片、用于设置在所述的匀光片与导光膜之间的遮光片，所述的遮光片上对应所述的导光部件开设有检测通孔，检测导光膜导光效果时，所述的光源透过所述的匀光片照射于所述的遮光片与所述的导光部件上。测导光膜导光效果时，光线透过检测通孔作用于导光膜的导光部上，工作人员通过目测能够直接而有效地判断该导光部是否导光均匀，结构简单、操作简便。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种导光膜调试设备。
技术介绍
现有技术中的导光膜，如手机导光膜、TP导光膜等按键类导光膜，每个型号的机种调试导光效果时都需要通过相关产品，如通过打开手机后才能确定手机内的导光膜导光效果。然而在手机开发的前期，是没有成品模拟机器给到厂商测试，通常情况下，导光膜产商只能根据工程师的经验进行网点设计，产品做好后给到手机终端客户进行验证。因没有很好的模拟方式，一次性成功率较低，从而影响到产品开发进度和造成客户的抱怨。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种导光膜调试设备。为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是:一种导光膜调试设备，用于检测导光膜的导光部件的导光效果，包括设置于光源上的匀光片、用于设置在所述的匀光片与导光膜之间的遮光片，所述的遮光片上对应所述的导光部开设有检测通孔，检测导光膜导光效果时，所述的光源透过所述的匀光片照射于所述的遮光片与所述的导光部上。在某些实施方式中，所述的导光膜调试设备还包括使得所述的遮光片与所述的导光膜之间的位置相匹配的定位机构。在某些实施方式中，所述的导光膜上具有导光膜定位孔，对应所述的导光膜定位孔的个数与孔位，所述的定位机构包括开设在所述的遮光片上的遮光片定位孔、凸出设置在所述的匀光片上的定位针，检测导光膜导光效果时，所述的定位针插在所述的遮光片定位孔与所述的导光膜定位孔内。在某些进一步实施方式中，所述的定位针有两个，分别位于所述的匀光片的相对的两侧部，检测导光膜导光效果时，两侧的所述的定位针分别插在相应的所述的遮光片定位孔与相应的所述的导光膜定位孔内。在某些实施方式中，所述的光源是由多个不同规格的LED灯并联构成的，并且多个所述的LED灯并排设置。在某些实施方式中，所述的遮光片的厚度为0.06厘米。本技术的范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的，但不限于具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案等。由于上述技术方案运用，本技术与现有技术相比具有下列优点:检测导光膜导光效果时，光线透过检测通孔作用于导光膜的导光部上，工作人员通过目测能够直接而有效地判断该导光部是否能导光均匀，结构简单、操作简便。【附图说明】附图1为导光膜调试设备示意图；其中:1、匀光片；11、定位针；2、遮光片；21、检测通孔；22、遮光片定位孔；3、导光膜；31、导光部；32、导光膜定位孔；33、进光口 ；4、光源。【具体实施方式】如附图1所示，导光膜3上开有不穿透的进光口 33，进光口 33的上方形成导光部31。导光膜3位于产品中，如手机，其导光部31通常是处于按键的位置。导光膜调试设备，用于检测导光膜3的导光部31处的导光效果。包括放置于光源4上方的匀光片1、用于设置在匀光片I与导光膜3之间的遮光片2。遮光片2上对应导光部31开设有检测通孔21，检测导光膜3导光效果时，光源4就透过匀光片4照射于遮光片2与导光部31上。为了保证导光部31与检测通孔21对应精准，即遮光片2与导光膜3之间的位置相匹配，因而导光膜调试设备还包括定位机构。导光膜3上具有导光膜定位孔32。对应导光膜定位孔32的个数与孔位，本实施例中，定位机构包括开设在遮光片2上的遮光片定位孔22、凸出设置在匀光片I上的定位针11。检测导光膜3导光效果时，定位针11插在遮光片定位孔22与导光膜定位孔32内。定位针11有两个以上为优选，分别位于匀光片I的相对的两侧部，检测导光膜3导光效果时，两侧的定位针11分别插在相应的遮光片定位孔22与相应的导光膜定位孔32内。光源是由多个不同规格的LED灯并联构成的，并且多个LED灯并排设置。检测时，可以分别点亮不同规格的LED灯，从而来确认导光部31的导光效果，一次性模拟成功率达98%以上，准确率较高。操作时，将遮光片2、导光膜3依次套入匀光片I的定位针11内，打开光源4，观察导光部31的导光效果。上述实施例只为说明本技术的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本技术的内容并据以实施，并不能以此限制本技术的保护范围。凡根据本技术精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本技术的保护范围之内。【主权项】1.一种导光膜调试设备，其特征在于:用于检测导光膜(3)的导光部(31)处的导光效果，包括设置于光源(4)上的匀光片(I)、用于设置在所述的匀光片(I)与导光膜(3)之间的遮光片(2)，所述的遮光片(2)上对应所述的导光部(31)开设有检测通孔(21)，检测导光膜(3)导光效果时，所述的光源(4)透过所述的匀光片(4)照射于所述的遮光片(2)与所述的导光部(31)上。2.根据权利要求1所述的导光膜调试设备，其特征在于:所述的导光膜调试设备还包括所述的遮光片(2)与所述的导光膜(3)之间的位置相匹配的定位机构。3.根据权利要求2所述的导光膜调试设备，其特征在于:所述的导光膜(3)上具有导光膜定位孔(32)，对应所述的导光膜定位孔(32)的个数与孔位，所述的定位机构包括开设在所述的遮光片(2)上的遮光片定位孔(22)、凸出设置在所述的匀光片(I)上的定位针(11)，检测导光膜(3)导光效果时，所述的定位针(11)插在所述的遮光片定位孔(22)与所述的导光膜定位孔(32)内。4.根据权利要求3所述的导光膜调试设备，其特征在于:所述的定位针(11)有两个以上，分别位于所述的匀光片(I)的相对的两侧部，检测导光膜(3)导光效果时，两侧的所述的定位针(11)分别插在相应的所述的遮光片定位孔(22)与相应的所述的导光膜定位孔(32)内。5.根据权利要求1所述的导光膜调试设备，其特征在于:所述的光源是由多个不同规格的LED灯并联构成的，并且多个所述的LED灯并排设置。6.根据权利要求1所述的导光膜调试设备，其特征在于:所述的遮光片(2)的厚度为.0.06厘米。【专利摘要】一种导光膜调试设备，用于检测导光膜导光部件的导光效果，包括设置于光源上的匀光片、用于设置在所述的匀光片与导光膜之间的遮光片，所述的遮光片上对应所述的导光部件开设有检测通孔，检测导光膜导光效果时，所述的光源透过所述的匀光片照射于所述的遮光片与所述的导光部件上。测导光膜导光效果时，光线透过检测通孔作用于导光膜的导光部上，工作人员通过目测能够直接而有效地判断该导光部是否导光均匀，结构简单、操作简便。【IPC分类】G01M11-02【公开号】CN204439322【申请号】CN201420865504【专利技术人】赵世帅, 罗福勇, 徐亮亮, 沈鹏飞, 沈明华, 周俊 【申请人】苏州通尔泰新材料科技有限公司【公开日】2015年7月1日【申请日】2014年12月31日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种导光膜调试设备，其特征在于：用于检测导光膜(3)的导光部(31)处的导光效果，包括设置于光源(4)上的匀光片(1)、用于设置在所述的匀光片(1)与导光膜(3)之间的遮光片(2)，所述的遮光片(2)上对应所述的导光部(31)开设有检测通孔(21)，检测导光膜(3)导光效果时，所述的光源(4)透过所述的匀光片(4)照射于所述的遮光片(2)与所述的导光部(31)上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵世帅，罗福勇，徐亮亮，沈鹏飞，沈明华，周俊，
申请(专利权)人：苏州通尔泰新材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32