本实用新型专利技术公开了一种斜端面光学元件透射波面误差检测的专用夹具，涉及专用夹具技术领域中的斜端面光学元件专用夹具，其目的在于提供一种斜端面光学元件摆放角度可调的斜端面光学元件透射波面误差检测的专用夹具。其技术方案为：包括用于调节斜端面光学元件摆放角度的刻度盘，所述刻度盘可绕刻度盘的轴线转动，所述刻度盘上设置有用于放置斜端面光学元件的V型槽，所述V型槽的左侧面向内凹陷形成容纳腔，所述容纳腔内放置有调节转轴，且所述调节转轴的轴线与V型槽的左侧面之间的距离小于调节转轴的半径。本实用新型专利技术适用于一种斜端面光学元件透射波面误差检测的专用夹具。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于专用夹具
，涉及一种斜端面光学元件的专用夹具，特别涉及一种斜端面光学元件透射波面误差检测的专用夹具。
技术介绍
目前，实验室内光学元件透射波面误差的检测均采用斐索型干涉仪实现。干涉仪系统出射的准直激光束在通过前标准镜的参考面时分为两束激光束，其中一束激光束经前标准镜参考面反射后形成参考光束，而另一束激光束依次透过前标准镜的参考面、被测元件后经后标准镜反射后形成测试光束。参考光束与测试光束干涉形成干涉条纹，从而得到待测元件的波面误差信息。说明书附图中图1为垂直端面光学元件透射波面误差检测原理示意图。然而，当被测元件为斜端面光学元件时，测试光束将在被测的斜端面光学元件内发生偏折，如说明书附图中图2所示。测试光束进入到被测元件后发生偏折，而此时若将被测的斜端面光学元件按照垂直端面光学元件透射波面检测的夹持方法进行夹持，仅简单将被测的斜端面光学元件的柱身与测试光束光轴调平行，那么，测试光束在透过被测的斜端面光学元件时会出现如图3所示的现象，部分光束会射入到光学元件的柱壁内侧，并经由柱壁反射后再从光学元件的端面射出，但由于测试光束的出射方向各异，不能与参考光束发生干涉。此时，通过干涉仪测试得到的透射波面误差等高分布图如说明书附图中图4所示，致使部分检测口径受到遮挡，最终导致斜端面光学元件透射波面误差检测的误差值较大。
技术实现思路
本技术的专利技术目的在于:针对现有技术存在的问题，提供一种斜端面光学元件摆放角度可调的斜端面光学元件透射波面误差检测的专用夹具。为了实现上述目的，本技术采用的技术方案为:一种斜端面光学元件透射波面误差检测的专用夹具，包括用于调节斜端面光学元件摆放角度的刻度盘，所述刻度盘可绕刻度盘的轴线转动，所述刻度盘上设置有用于放置斜端面光学元件的V型槽，所述V型槽的左侧面向内凹陷形成容纳腔，所述容纳腔内放置有调节转轴，且所述调节转轴的轴线与V型槽的左侧面之间的距离小于调节转轴的半径。作为本技术的优选方案，所述调节转轴的轴线与V型槽左侧面之间的距离为调节转轴的半径的3/4至4/5。作为本技术的优选方案，所述刻度盘底部设置有用于调整刻度盘俯仰角的俯仰角调节装置。作为本技术的优选方案，所述俯仰角调节装置包括地盘圈，所述地盘圈一侧与固定连接在刻度盘底部的下支条铰接，所述地盘圈另一侧固定连接有U型卡，所述U型卡与外调节杆底端铰接，所述外调节杆的管孔内套设有内调节杆，所述内调节杆通过连接于外调节杆上的紧固装置紧固，所述内调节杆与固定连接在刻度盘底部的上支条铰接。作为本技术的优选方案，所述俯仰角调节装置包括固定连接在刻度盘底部的第一旋转侧壁，所述第一旋转侧壁通过俯仰角调节转轴与第二旋转侧壁铰接，所述第二旋转侧壁上靠近刻度盘的一侧设置有用于锁紧第一旋转侧壁的固定螺栓，所述第二旋转侧壁底部连接有底座，所述底座与刻度盘之间还设置有俯仰角调节螺杆，所述俯仰角调节螺杆通过调节螺母与固定连接在底座的调节螺柱连接，并通过转动调节螺母调节刻度盘的俯仰视角。综上所述，由于采用了上述技术方案，本技术的有益效果是: 1、本技术中，斜端面光学元件放置于V型槽上，并可通过V型槽上的调节转轴调节斜端面光学元件在V型槽上的放置姿态；V型槽放置于刻度盘上，通过刻度盘可调节V型槽和斜端面光学元件的摆放角度，并最终通过调节转轴和刻度盘调节斜端面光学元件的放置姿态和角度，使测试光束透射如斜端面光学元件内后不会入射到斜端面光学元件的柱壁内侧，从而使得检测口径不被遮挡，提高斜端面光学元件透射波面误差检测精度。2、本技术中，刻度盘底部设置有用于调整刻度盘俯仰角的俯仰角调节装置，通过俯仰角调节装置可调整刻度盘的俯仰角度，使测试光束透射如斜端面光学元件内后不会入射到斜端面光学元件的柱壁内侧，从而使得检测口径不被遮挡，提高斜端面光学元件透射波面误差检测精度。【附图说明】图1为垂直端面光学元件透射波面误差检测原理示意图；图2为斜端面光学元件透射波面误差检测原理示意图；图3为在图2状态下平行光束入射到斜端面光学元件内部的传播示意图；图4为在图3状态下得到的斜端面光学元件透射波面误差等高分布图；图5为本技术的结构示意图；图6a为被测钕玻璃棒按任意姿态放置时的干涉条纹图；图6b为图6a在旋转调节转轴后的干涉条纹图；图6c为图6b在转动刻度盘后的干涉条纹图；图6d为图6c的透射波面误差等高分布图；图7为本技术中俯仰角调节装置的结构示意图；图8为本技术另一实施例中俯仰角调节装置的结构示意图；图中标记:1 一刻度盘、2— V型槽、3—调节转轴、41 一内调节杆、42—外调节杆、43—紧固装置、44一上支条、45—U型卡、47—地盘圈、48—下支条、410—固定螺栓、411 一俯仰角调节转轴、412—第二旋转侧壁、413—调节螺柱、414 一调节螺母、415—俯仰角调节螺杆、416—底座、417—第一旋转侧壁。【具体实施方式】下面结合附图，对本技术作详细的说明。为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。实施例1—种斜端面光学元件透射波面误差检测的专用夹具，该专用夹具用于斜端面光学元件透射波面误差检测时装夹并调整被测元件的斜端面光学元件的摆放姿态及角度。该专用夹具包括刻度盘1、V型槽2和调节转轴3。该刻度盘I可绕其自身的轴线自由转动，且该刻度盘I主要用于调节斜端面光学元件的摆放角度。V型槽2设置于刻度盘I上，且该V型槽2主要用于放置斜端面光学元件。V型槽2的左侧面向内凹陷形成一个中空的容纳腔，该容纳腔的轴线与V型槽2的左侧面平行，该容纳腔主要用于放置调节转轴3。调节转轴3放置于V型槽2左侧面的容纳腔内，且该调节转轴3可在容纳腔内自由转动。该调节转轴3的轴线与V型槽2的左侧面之间的距离小于调节转轴3的半径，因而当调节转轴3放入容纳腔后，调节转轴3的部分外圆柱面露在V型槽2的左侧面外。本实施例中，调节转轴3的轴线与V型槽2左侧面之间的距离为调节转轴3的半径的3/4至4/5，优选当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种斜端面光学元件透射波面误差检测的专用夹具，其特征在于：包括用于调节斜端面光学元件摆放角度的刻度盘（1），所述刻度盘（1）可绕刻度盘（1）的轴线转动，所述刻度盘（1）上设置有用于放置斜端面光学元件的V型槽（2），所述V型槽（2）的左侧面（21）向内凹陷形成容纳腔，所述容纳腔内放置有调节转轴（3），且所述调节转轴（3）的轴线与V型槽（2）的左侧面（21）之间的距离小于调节转轴（3）的半径。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨一，任寰，马玉荣，张霖，石振东，原泉，马骅，冯晓璇，马可，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心，
类型：新型
国别省市：四川;51
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