电子检测装置制造方法及图纸

技术编号:11642427 阅读:65 留言:0更新日期:2015-06-24 19:52
本发明专利技术涉及一种对化验检测的测试条进行分析处理的电子检测装置,其包括一交叉的第一分隔件和第二分隔件。第一分隔件包括光源分隔件和防散射分隔件。光源分隔件在光源的位置将多个光源分开形成两组,并且将测试条的检测区与空白区分开。防散射分隔件将测试条的检测区与空白区分开。第二分隔件将光源与光检测器分开。防散射分隔件与光检测器之间非接触而形成第一透光间隙,第二分隔件与测试条之间非接触而形成第二透光间隙,从检测区和空白区反射的光线可依次经由该第二透光间隙和第一透光间隙进入光检测器被检测,从而上述光电检测装置能够有效防止光干扰,检测结果准确度显著提高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及生化检测领域,尤其是涉及一种用于对化验检测的测试条进行读数的电子检测装置
技术介绍
目前已有一些针对生化检测试纸的电子检测装置,如申请号为ZL201120283208.0的专利公开的分析读数装置。该分析读数装置用于对化验检测的测试条进行读数和分析。该测试条上设有测试区和空白区。该分析读数装置包括至少两个光源和至少一个光检测器。当只有两个光源和一个光检测器时,光源与光检测器设在托板的同一侧,且两个光源并列设置并与光检测器相对设置。两个光源与光检测器之间通过一个T型隔板隔开。该T型隔板的在T头位置的横板比T型隔板的竖版略低,从而与测试条之间形成间隙。两个光源分别单独照射在测试条的测试区和空白区,两个光源先后发出光线,照射在测试区和空白区后反射,反射的光线通过T型隔板与测试条之间的间隙被光检测器接收。这种T形隔板的设置,在一定程度上可防止不同光源间的干扰,然而,由于光检测器与光源之间的隔板存在空隙,并且测试条的测试区和空白区距离相当近,当其中一个光源发光照射在测试条上时,该光线除了照射在特定区域之外,还可能通过隔板空隙,散射到特定区域之外的测试条区域。因此,光检测器接收到反射回来的光线将不仅是特定区域反射回来的光,而是同时包括光源散射到的区域反射回来的光,这将导致检测结果不够准确。例如,当光源照亮测试区时,光线在照射测试区的同时散射到旁边的空白区,被照射到的测试区和空白区反射的光线同时通过隔板缝隙被光检测器接收到,而光检测器本来应该接收并检测的是测试区的光信号,由此导致光线干扰,影响检测的准确性。
技术实现思路
基于此,有必要提供一种能够防止光干扰,从而提高检测结果准确性的电子检测 目.ο一种电子检测装置,包括支架及设在所述支架上的测试条和光电检测系统;所述测试条上设有检测区和空白区;所述光电检测系统包括:至少两个光源,与所述测试区和所述空白区的位置对应,且发出的光与所述测试区和所述空白区相应;至少一个光检测器,接收来自所述测试区和所述空白区的反射光线,并转换成电信号;及处理器,接收所述电信号并进行处理;所述支架上设有检测窗口 ;所述光源与所述光检测器设在所述检测窗口的同一侦牝所述测试条位于所述检测窗口的另一侧;所述检测窗口中设有交叉连接的第一分隔件和第二分隔件;所述第一分隔件包括:光源分隔件,对应所述光源所在的位置设置,与所述光源在所述支架上的安装平面以及所述测试条的检测区与空白区之间的区域无缝抵接,以将所述至少两个光源隔开,并将所述检测区与所述空白区隔开;及防散射分隔件,对应所述光检测器所在的位置设置,与所述测试条的检测区及空白区之间的区域无缝抵接,以将所述检测区与所述空白区隔开,可阻挡特定区域光源发出的光散射到相邻区域,且所述防散射分隔件与所述光检测器之间设有第一透光间隙,以确保光检测器正常接收光信号;所述第二分隔件与所述测试条之间设有第二透光间隙,并与所述安装平面无缝抵接将所述光源与所述光检测器隔开,防止所述光源发出的光线直接进入所述光检测器,确保光源发出的光线照射到测试条特定区域后经该第二透光间隙被光检测器接收到,从而实现检测。在其中一个实施例中,所述光源分隔件及所述防散射分隔件为长方体条状结构,所述第二分隔件为长方体板状结构。在其中一个实施例中,所述光源分隔件的宽度小于所述防散射分隔件的宽度。在其中一个实施例中,所述光源分隔件的一端与所述防散射分隔件的一端连接;所述第二分隔件与所述光源分隔件垂直连接;所述光源分隔件的另一端、所述防散射分隔件的另一端及所述第二分隔件的两端分别与所述检测窗口的内壁连接,形成十字形结构。在其中一个实施例中,所述第二分隔件与所述光源分隔件在靠近所述防散射分隔件端部的位置垂直连接。在其中一个实施例中,所述支架包括基板和托架;所述基板设在所述托架的一侧,所述测试条位于所述托架的另一侧;所述光源、所述光检测器及所述处理器设在所述基板上;所述检测窗口开设在所述托架上。在其中一个实施例中,所述第一分隔件、所述第二分隔件及所述托架为一体成型结构。在其中一个实施例中,所述测试条的背侧设有遮光胶布。在其中一个实施例中,所述电子检测装置还包括由上壳体、下壳体和前盖配合构成的外壳,所述测试条、所述光电检测系统及所述支架位于所述外壳内。在其中一个实施例中,所述测试条的端部设有与所述测试条连接的吸样棒,所述前盖设有加样孔,所述吸样棒部分露在所述加样孔内。上述电子检测装置在检测窗口中设置有交叉的第一分隔件和第二分隔件,其中第一分隔件包括光源分隔件和防散射分隔件,光源分隔件在光源的位置将多个光源分开形成两组,并且将测试条的检测区与空白区分开,从而可有效防止两组光源发光相互干扰;防散射分隔件将测试条的检测区与空白区分开,可防止测试条反射的光线进入其他区造成干扰;第二分隔件将光源与光检测器分开,可防止光源发光直接进入光检测器,确保光源的光照射到测试条上后,再经测试条反射回光检测器;而防散射分隔件与光检测器之间非接触而形成第一透光间隙,该第一透光间隙可确保试纸条反射光被光检测器接收,同时,防散射分隔件可防止特定光源发出的光发生散射,照射到测试条的相邻区域,而后光线反射回光检测器导致结果判断失误,确保读数准确。第二分隔件与测试条之间非接触而形成第二透光间隙,从检测区和空白区反射的光线可经由该第二透光间隙进入光检测器被检测,从而上述光电检测装置能够有效防止光干扰,检测结果准确度显著提高。进一步,通过在测试条的背面设置遮光胶布,该遮光胶布可用来封住检测区域和测试条,防止外来光线干扰检测结果,并且遮光胶布与托架配合将测试条夹在中间,可以起到固定测试条和检测区域的相关元件的作用,从而进一步提高了整个电子检测装置的精密性和检测准确度。【附图说明】图1为一实施方式的电子检测装置的分解示意图;图2为图1中托架及基板配合连接的结构示意图;图3为图1中托架的仰视图;图4为图3中第一分隔件与第二分隔件的结构示意图;图5为图1中托架与测试条、遮光胶布及吸样棒配合连接的结构示意图。【具体实施方式】为了便于理解本专利技术,下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施例。但是,本专利技术可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
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【技术保护点】
一种电子检测装置,其特征在于,包括支架及设在所述支架上的测试条和光电检测系统;所述测试条上设有检测区和空白区;所述光电检测系统包括:至少两个光源,与所述测试区和所述空白区的位置对应,且发出的光与所述测试区和所述空白区相应;至少一个光检测器,接收来自所述测试区和所述空白区的反射光线,并转换成电信号;及处理器,接收所述电信号并进行处理;所述支架上设有检测窗口;所述光源与所述光检测器设在所述检测窗口的同一侧,所述测试条位于所述检测窗口的另一侧;所述检测窗口中设有交叉连接的第一分隔件和第二分隔件;所述第一分隔件包括:光源分隔件,对应所述光源所在的位置设置,与所述光源在所述支架上的安装平面以及所述测试条的检测区与空白区之间的区域无缝抵接,以将所述至少两个光源隔开,并将所述检测区与所述空白区隔开;及防散射分隔件,对应所述光检测器所在的位置设置,与所述测试条的检测区及空白区之间的区域无缝抵接,以将所述检测区与所述空白区隔开,且所述防散射分隔件与所述光检测器之间设有第一透光间隙;所述第二分隔件与所述测试条之间设有第二透光间隙,并与所述安装平面无缝抵接将所述光源与所述光检测器隔开。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:岑赞询胡海升罗宏王继华
申请(专利权)人:广州万孚生物技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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