一种X荧光仪中粉末样品制样模具组件，包括底座、固定座、样杯、压套和退样套，其中底座套接于固定座一端，样杯套接于固定座另一端，注入样品粉末后，取出样杯，将压套套入固定座，进行制样，退样套套接于底座底部，下压压套，样品和底座掉入退样套内。本发明专利技术组件操作简单，制得压片规格一致整齐，可而减少测量误差，提高实验准确度，同时阻止样品和硼酸混合保证样品含量的一致性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于实验器械
，具体涉及一种X荧光仪中粉末样品制样模具组件。
技术介绍
作为一种比较成熟的成分分析手段，X荧光光谱仪分析在冶金、地质、环境、化工、材料等领域中应用非常广泛。X荧光光谱仪分析的对象主要是块状固体、粉末、液体三种，其中，固体粉末是分析得最多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末，对于形状不规则的块状固体，如各种矿石，由于直接分析技术目前还不成熟，往往也粉碎成粉末。液体试样可放入液体样品杯中分析，但由于不能抽真空等原因，有时将液体转变为固体，一些预分离、富集的结果也常是粉末，因此，粉末试样的制样技术是X荧光光谱仪分析中的重要一部分。X荧光光谱仪分析粉末样品主要有两种方法:熔融法:熔融法是应用较多的一种制样方法，它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。但熔融法也有缺点:因样品被熔剂稀释和吸收，使轻元素的测量强度减小；制样复杂，要花费大量时间；成本也较高。粉末压片法:粉末压片法的优点是简单、快速、经济，在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍，也常用于痕量元素的分析。在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中，粉末压片是一种应用很广泛的X荧光光谱仪制样法。目前制样是利用样品环直接进行压片，不加任何粘接剂，并且样品环和样品不能分离，因此，若需要测量的样品较多时，就必须使用多个样品环，因此存在以下几点不足:由于样品环内径大小本身存在误差，造成样品含量产生误差，所以给测量带来相应误差；压样时没有加任何粘结剂，样品在使用过程中容易破损，污染测量仪器；样品环的厚度值存在误差，造成样品和探测器之间的高度不一致，产生测量误差；样品和硼酸容易混合一起，造成样品含量不一致。因此，在X荧光光谱仪分析试验中，提供一种简单快捷的压片制样模具，对于实验结果具有积极意义。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种X荧光仪中粉末样品制样模具组件，该组件操作简单、使用，可以避免样品和硼酸的混合，使被检测标样形成检测所需的标准样块，实现准确的定性定量分析。本专利技术具体通过以下技术方案实现:一种X荧光仪中粉末样品制样模具组件，包括底座、固定座、样杯、压套和退样套。其中所述的底座为T型凸台形状，其凸起端与固定座套接，所述的固定座由圆柱内部布置有通孔形成，通孔直径与底座凸起端直径相匹配；所述的样杯由圆环套接于空心圆柱外并通过3个支柱连接构成，空心圆柱的外径小于固定座通孔直径，圆环与支柱连接的一端开口直径与固定座通孔直径相匹配，圆环另一端直径大于固定座通孔直，圆环内表面为平滑曲面结构，样杯空心圆柱端与固定座套接;所述的压套为T型凸台形状，压套凸起圆柱端套接与固定座通孔内，并与底座凸起圆柱端对接，且压套与底座凸起圆柱端连接长度大于固定座的高度；所述的退样套为一端开口的圆柱，且退样套开口直径与底座大圆直径相匹配，退样套开口端套接于底座上。本专利技术粉末样品制样模具组件的制模步骤为:I)将底座套接于固定座通孔内，固定座的另一端加入样杯，在样杯外圈放入硼酸，内圈放样品，注满固定座后取出样杯，再加硼酸后用于手柄压平，放入压套后送入压片机中压紧制样；2)将制样模具放入退样套中，用力下压压套，样品和底座将一起掉入退样套中，取出样品，将样品放入样环中，样品面朝着台阶面放入，最后加样环盖，旋转样环盖90度扣紧，即可放入检测仪器中进行检测。本专利技术的有益效果为:本专利技术制样模具组件可以使粉末压制成片状样品后保持样品表面的平整性，保证压制后样品的高度一致性，从而减少测量误差，提高实验准确度，同时本专利技术样杯与固定器的组合形成了分样器，能够避免样品和硼酸的混合，保证样品含量的一致性。【附图说明】图1是本专利技术粉末样品制样模具组件的结构示意图；附图中标示说明底座，2固定座，3样杯，4压套，5退样套。【具体实施方式】下面结合附图和实施例对本专利技术粉末样品制样模具组件做进一步的解释说明。如图1所示，一种X荧光仪中粉末样品制样模具组件，包括底座1、固定座2、样杯3、压套4和退样套5。其中底座I为T型凸台形状，底座I凸起端圆柱与固定座2套接，固定座2由圆柱内部布置有通孔形成，通孔直径与底座I凸起端直径相匹配。样杯3由圆环套接于空心圆柱外并通过3个支柱连接构成，空心圆柱的外径小于固定座2通孔直径，圆环与支柱连接的一端开口直径与固定座2通孔直径相匹配，圆环另一端直径大于固定座通孔直，圆环内表面为平滑曲面结构，样杯3空心圆柱端在使用过程中与固定座套接。压套4为T型凸台形状，压套4凸起圆柱端套接与固定座2通孔内，并与底座I凸起端圆柱对接，且压套4与底座I凸起端圆柱连接长度大于固定座2的高度。退样套5为一端开口的圆柱，且退样套5开口直径与底座I大圆直径相匹配，退样套5开口端套接于底座I上。在使用时将底座I套接于固定座2通孔内，固定座2的另一端加入样杯3，在样杯3外圈放入硼酸，内圈放样品，注满固定座2后取出样杯3，再加硼酸后用于手柄压平，放入压套4后送入压片机中压紧制样；制样模具放入退样套5中，用力下压压套4，样品和底座I将一起掉入退样套5中，取出样品，将样品放入样环中，样品面朝着台阶面放入，最后加样环盖，旋转样环盖90度扣紧，即可放入检测仪器中进行检测。以上所述实施例仅是对本专利技术的进一步说明，并非对本专利技术做其他形式的限制，本专利技术还可有其它多种实施例，在不背离本专利技术精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本专利技术作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本专利技术权利要求的保护范围。【主权项】1.一种X荧光仪中粉末样品制样模具组件，包括底座(I)、固定座(2)、样杯(3)、压套(4)和退样套(5)，其特征在于:所述的底座(I)为T型凸台形状，其凸起端圆柱与固定座(2)套接，所述的固定座(2)由圆柱内部布置有通孔形成，通孔直径与底座⑴凸起端圆柱直径相匹配； 所述的样杯⑶由圆环套接于空心圆柱外并通过3个支柱连接构成，空心圆柱的外径小于固定座(2)通孔直径，圆环与支柱连接的一端开口直径与固定座(2)通孔直径相匹配，圆环另一端直径大于固定座(2)通孔直，圆环内表面为平滑曲面结构，样杯(3)空心圆柱端与固定座⑵套接； 所述的压套(4)为T型凸台形状，压套(4)凸起端圆柱套接与固定座(2)通孔内，并与底座(I)凸起端圆柱对接，且压套(4)与底座(I)凸起端圆柱连接长度大于固定座(2)的高度； 所述的退样套(5)为一端开口的圆柱，且退样套(5)开口直径与底座(I)大圆直径相匹配，退样套(5)开口端套接于底座(I)上。2.根据权利要求1所述的一种X荧光仪中粉末样品制样模具组件，其特征在于:该模具的使用方法为: 1)将底座(I)套接于固定座(2)通孔内，固定座(2)的另一端加入样杯(3)，在样杯(3)外圈放入硼酸，内圈放样品，注满固定座(2)后取出样杯(3)，再加硼酸后用于手柄压平，放入压套(4)后送入压片机中压紧制样； 2)将制样模具放入退样套(5)中，用力下压压套(4)，样品和底座(I)将一起掉入退样套(5)中，得到样品压片。【专利摘要】一种X荧光仪中粉末样品制样模具组件，包括底座、固定座、样杯、压套和退样套，其中底座套接于固定座一端，样杯套接于固定座另一端，注入样品粉末后，取出样杯，将压套套入固定座，进行制样，退样套套接于底座底部，本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种X荧光仪中粉末样品制样模具组件，包括底座(1)、固定座(2)、样杯(3)、压套(4)和退样套(5)，其特征在于：所述的底座(1)为T型凸台形状，其凸起端圆柱与固定座(2)套接，所述的固定座(2)由圆柱内部布置有通孔形成，通孔直径与底座(1)凸起端圆柱直径相匹配；所述的样杯(3)由圆环套接于空心圆柱外并通过3个支柱连接构成，空心圆柱的外径小于固定座(2)通孔直径，圆环与支柱连接的一端开口直径与固定座(2)通孔直径相匹配，圆环另一端直径大于固定座(2)通孔直，圆环内表面为平滑曲面结构，样杯(3)空心圆柱端与固定座(2)套接；所述的压套(4)为T型凸台形状，压套(4)凸起端圆柱套接与固定座(2)通孔内，并与底座(1)凸起端圆柱对接，且压套(4)与底座(1)凸起端圆柱连接长度大于固定座(2)的高度；所述的退样套(5)为一端开口的圆柱，且退样套(5)开口直径与底座(1)大圆直径相匹配，退样套(5)开口端套接于底座(1)上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：周建斌，钟建军，牟建财，童运福，王敏，马英杰，周伟，刘易，洪旭，周靖，赵祥，喻杰，
申请(专利权)人：四川新先达测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。