电性检测机台制造技术

本发明专利技术公开了一种电性检测机台，包含一机台、一承台、一探针架、一支架、一检测臂、一安置座及多个探针组。该机台具有相平行的二第一导轨；该承台设于该机台上；该探针架设于该机台上，且具有多个设置区；该支架设于该二第一导轨上，且可相对该机台与该承台移动，并具有一第二导轨；该检测臂设于该第二导轨，且位于该承台上方，并可与该支架同步移动及相对该支架移动；该安置座设于该检测臂上，且可相对该检测臂转动或移动；其中一探针组设于该安置座，而其他探针组则分别设于该探针架的设置区；另外，设于该安置座上的探针组可与该安置座同步移动。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电性检测，特别涉及一种电性检测机台。
技术介绍
随着电子产品发展日渐蓬勃，为确保电子产品出厂时的质量，制造、组装及出厂前，通常都会通过检测系统检测电子产品的各精密电子元件间的电性连接是否确实。但常用的检测系统一次仅能对单一测量规格的产品进行检测，而无法适用于多种测量规格的检测上。另外，常用检测设备欲检测不同规格的产品时，则必须重新以人工方式拆卸替换对应规格的探针组，不仅耗时且费力。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的用于提供一种电性检测机台，可适用于不同规格的待测部位的电性检测。为达成上述目的，本专利技术所提供电性检测机台用于对一待测物进行电性检测，包含一机台、一承台、一探针架、一支架、一检测臂、一安置座以及多个探针组。其中，该机台具有相平行的二第一导轨；该承台设于该机台上，且用于供该待测物放置；该探针架设于该机台上不同该承台设置处的位置上，且具有多个设置区；该支架设于该二第一导轨上，且可沿该二第一导轨相对该机台与该承台移动，并具有一第二导轨；该检测臂设于该第二导轨，且位于该承台上方，并可被该支架带动而与该支架同步移动，且可沿该第二导轨相对该支架移动；该安置座设于该检测臂上，且可相对该检测臂转动或移动；所述探针组中，其中一探针组以可拆装的方式设于该安置座上，而其他探针组则分别已可拆装的方式设于该探针架的设置区上；另外，该设于该安置座上的探针组可被该安置座带动而与该安置座同步移动，且用于供与放置于该承台上的该待测物上的待测部位抵接以进行电性检测。据此，通过上述的设计，便可使该电性检测机台适用于不同规格的检测。【附图说明】图1是本专利技术优选实施例的电性检测机台的立体图；图2是本专利技术优选实施例于检测臂处的立体图；图3是本专利技术优选实施例于探针架处的立体图；图4是本专利技术优选实施例的探针组的立体图。【附图标记说明】11 机台111第一导轨112第三导轨12 承台13 支架131 第二导轨14检测臂15安置座16探针架161架体162定位柱163定位驱动器164第一穿孔165插孔20探针组21 嵌架211第二穿孔212插销22 外壳23接地针24信号针【具体实施方式】为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本专利技术作进一步的详细说明。请参图1所示，本专利技术一优选实施例的电性检测机台用于对一待测物进行电性检测，且该待测物上具有多个不同测量间距的待测部位(图未示)。该电性检测装置包含一机台11、一承台12、一支架13、一检测臂14、一安置座15以及多个探针组20。其中:该机台11上具有相平行的二第一导轨111，且该机台11不同于该二第一导轨111的位置上具有相平行的二第三导轨112，且所述第三导轨112提供的移动轨迹平行于所述第一导轨111提供的移动轨迹。该承台12用于供该待测物放置于其上，且设于该机台11上，并位于该二第一导轨111之间。该支架13略呈Π字型，且其底端分别设于该二第一导轨111上，使该支架13可被驱动而沿该二第一导轨111相对该机台11与该承台12移动。另外，该支架13的顶端具有一第二导轨131，且该第二导轨131提供的移动轨迹垂直于该二第一导轨111提供的移动轨迹。请参阅图2，该检测臂14设于该第二导轨131上，而位于该承台12上方。另外，该检测臂14可同时被该支架13带动而与该支架13同步移动，且可沿该第二导轨111相对该支架13移动。该安置座15设置于该检测臂14上，且可被该检测臂14带动而与该检测臂14同步转动，且各该安置座18可被驱动而相对该检测臂14转动或移动。该探针架16设于该机台11上不同该承台12设置处的位置上，且请参阅图3，该探针架16具有一架体161、多个定位柱162以及一定位驱动器163。其中，该架体161设置于该二第三导轨114上，并可沿该第三导轨114移动。该架体161具有多个设置区，且该架体161上对应所述设置区处分别具有一第一穿孔164以及一插孔165。该定位驱动器163连接该架体161与所述定位柱162，且可驱动该架体161移动而使所述定位柱162分别穿设于所述第一穿孔164中、或是与所述第一穿孔164分离。其中一探针组20以可拆装的方式设于该安置座15上，而其他探针组20则分别已可拆装的方式设于该探针架16的设置区上。请参阅图4，于本实施例中，各该探针组分别具有一嵌架21、一外壳22、以及三根探针23、24。该嵌架21呈Cl字型，具有一第二穿孔211，且其底部具有一插销212，当该探针组20设于该探针架16上时，该嵌架21将与该架体161抵接，且该插销212穿设于该插孔212中，而该第二穿孔211正对该第一穿孔164，使得该定位柱162可凸伸至该第二穿孔211中。该外壳22则锁设于该嵌架21上，而所述探针23、24设于该外壳22中，且所述探针23、24的针尖伸出至该外壳22外。另外，所述探针23、24依据测试时的信号走向分别被区分成为二接地针23以及一信号针24，且该信号针24位于该二接地针23之间。值得一提的是，各该探针组20的该信号针24与各当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电性检测机台，用于对一待测物进行电性检测，且包括：一机台，具有相平行的二第一导轨；一承台，设于该机台上，且用于供该待测物放置；一探针架，设于该机台上不同该承台设置处的位置上，且具有多个设置区；一支架，设于该二第一导轨上，且可沿该二第一导轨相对该机台与该承台移动，并具有一第二导轨；一检测臂，设于该第二导轨，且位于该承台上方，并可被该支架带动而与该支架同步移动，且可沿该第二导轨相对该支架移动；一安置座，设于该检测臂上，并可被该检测臂带动而与该检测臂同步移动，且可相对该检测臂转动或移动；以及多个探针组，其中一探针组以可拆装的方式设于该安置座上，而其他探针组则分别已可拆装的方式设于该探针架的设置区上；另外，该设于该安置座上的探针组可被该安置座带动而与该安置座同步移动，且用于供与放置于该承台上的该待测物上的待测部位抵接以进行电性检测。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：顾伟正，吕绍玮，宋宏志，陈俊男，
申请(专利权)人：旺矽科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71