一种水泥基材料孔结构的测试分析系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种水泥基材料孔结构的测试分析系统，它包括底座，在底座上开有连续轨道槽，沿着连续轨道槽一侧向另一侧的方向，在连续轨道槽上方依次间隔设置有切割装置、打磨抛光装置、提高孔及孔壁对比度的处理装置和图像采集装置，材料移送载物装置通过滑轮滑动连接在连续轨道槽上，切割装置、打磨抛光装置和提高孔及孔壁对比度的处理装置均包括固定在底座上的支撑梁，在支撑梁上安装有上下高度调节装置，切片、磨片以及喷刷器分别与转动驱动装置相连并通过转动驱动装置安装在对应设置的支撑梁上。本装置操作更为简易，缩短了测试时间，从而提高了工作效率，也降低了人工成本，测试更为精确和稳定。

【技术实现步骤摘要】

本技术设及材料孔结构的测试分析系统，特别是设及水泥基材料孔结构的测 试分析系统。
技术介绍
由于水泥基材料孔隙从几A到几万A的尺寸均存在，该就要求测孔仪器的测试范 围要大，并且要求在预处理时尽量不破坏原生孔结构状态及形貌，客观真实反应孔隙结构。 孔隙结构参数主要包括孔隙率、孔径分布（孔级配）、孔几何学（孔的形貌和空间排列），该 些参数指标的测试与评价已经成为水泥基材料科学研究的主要内容。现阶段由于该一领域 研究还不十分成熟，各种测孔技术不免存在不足之处，但是该些测孔技术为水泥基材料细 观研究提供了基础和依据。 目前常用的水泥基材料孔结构测试技术主要包括；等温吸附法、X-射线小角度散 射、压隶法、光学法等。等温吸附法可W用于测定孔结构的内比表面积和孔尺寸分布，常 采用静态氮吸附容量法和重量法，孔径测量范围在5~350A之间，该法对大孔测定的误差较 大；X-射线小角度散射在常压下能够测定20~300A的细孔孔径分布，但是该方法在趋向大 角一侧的强度分布往往都很弱，且起伏较大，另外，昂贵的测试费用成为使用该方法的巨大 阻碍；压隶法的测孔范围为30A~20(Vm，它是目前应用最为广泛的孔结构研究方法，但是， 压隶法也存在着不足之处；（1)所用试样在预处理时需要进行干燥，而干燥有可能引起孔 结构不可逆的变化，高压也能破坏材料的原生孔结构，该就使人们怀疑压隶法所反映的孔 结构的真实准确性；（2)压隶法所测结果只反映开放的联通孔的情况；（3)压隶法的理论模 型是圆柱孔模型，而混凝±中存在着许多异性孔，该也给测量带来误差。光学法借助图象分 析仪获取基体截面孔结构图像，原则上能够分辨出光学显微极限尺寸W上的大孔，根据定 量体视学原理，能测量计算出孔径、分级孔隙率、孔的形状、孔比表面积等诸多孔结构参数。 随着显微分析技术和计算机图像处理技术的发展，近来出现了一种快速测定硬化混凝±气 泡的检测方式，即对已成型并到所需养护龄期的混凝±试件进行切割、打磨、抛光等处理， 再利用高分辨率的数字相机对混凝±试件进行拍照，然后输入计算机中，利用计算机软件 对数字相机拍摄到的图像进行分析，通过设定阀值、增加对比度等图像处理手段，使混凝± 中气孔呈现白色，而非气孔的密实部分呈现黑色，该种检测方式提高了工作效率。但随着高 层、大跨、超深、特种结构的发展对水泥基材料提出更高的要求。由于水泥基材料的配合比、 揽拌、振捣、脱模、养护等诸多因素都会对水泥基材料孔结构产生影响。所W人们对水泥基 材料中孔结构的研究越来越精细。而图像分析得到可靠信息的先决条件之一就是要尽可能 排除测试样品在制备过程中产生的系统误差，特别是操作误差。由于在对水泥基材料进行 切割、打磨、抛光等处理的过程中，人为因素参与较多，实验人员完全凭经验来确定样品处 理的好坏，所W测试精确度和稳定性较差。
技术实现思路
本技术的目的在与克服已有技术的缺点，提供一种测试精度高和稳定性好的 水泥基材料孔结构的测试分析系统，该系统设计合理且使用操作简单，可实现水泥基材料 孔结构的准确描述。 本技术的一种水泥基材料孔结构的测试分析系统，它包括底座，在所述的底 座上开有连续轨道槽，沿着连续轨道槽一侧向另一侧的方向，在所述的连续轨道槽上方依 次间隔设置有切割装置、打磨抛光装置、提高孔及孔壁对比度的处理装置和图像采集装置， 材料移送载物装置通过滑轮滑动连接在所述的连续轨道槽上，材料移送载物装置包括载物 台，在所述的载物台上设置有用于将材料夹紧的试样夹具，所述的切割装置、打磨抛光装置 和提高孔及孔壁对比度的处理装置均包括固定在底座上的支撑梁，在所述的切割装置的支 撑梁上安装有第一上下高度调节装置，切片与第一转动驱动装置的旋转轴相连，所述的第 一转动驱动装置与第一上下高度调节装置相连，在所述的打磨抛光装置的支撑梁上安装有 第二上下高度调节装置，磨片与第二转动驱动装置的旋转轴相连，所述的第二转动驱动装 置与第二上下高度调节装置相连，在所述的提高孔及孔壁对比度的处理装置的支撑梁上安 装有第=上下高度调节装置，喷刷器与第=转动驱动装置的旋转轴相连，所述的第=转动 驱动装置与第=上下高度调节装置相连，所述的图像采集装置包括安装在底座上的悬臂 梁，体视显微镜和高分辨率电子目镜安装在所述的悬臂梁上，高分辨率电子目镜位于体视 显微镜的上方，所述的高分辨率电子目镜用于自动采集每个视域的材料的图像，所述的高 分辨率电子目镜通过导线与计算机控制系统连接，将材料的图像传输给计算机控制系统， 所述的载物台通过滑轮沿着连续轨道槽移动并且载物台上的材料分别与切片、磨片、喷刷 器W及体视显微镜分别相对设置。 本技术具有的优点和积极效果是；本技术在原有的水泥基材料孔结构光 学测试设备的基础上对前期水泥基材料样品的制备过程进行机械化处理改进，使测试分析 全过程机械化处理，操作更为简易，缩短了测试时间，从而提高了工作效率，也降低了人工 成本；同时该测试分析系统避免了在对水泥基材料进行切割、打磨、抛光等处理的过程中， 由于人为因素而造成的操作误差，使测试更为精确和稳定。【附图说明】 图1为本技术的一种水泥基材料孔结构的测试分析系统的整体结构示意图； [000引图2为图1所示的系统中的切割装置结构示意图； 图3为图1所示的系统中的打磨抛光装置结构示意图； 图4为图1所示的系统中的提高孔及孔壁对比度的处理装置结构示意图； 图5为图1所示的系统中的图像采集装置结构示意图； 图6为图1所示的系统中的底座上所开有的连续轨道槽的左视图； 图7为图1所示的系统中的材料移送载物装置的载物台结构示意图。 图8为图1所示的系统中的材料移送载物装置的滑动连接结构示意图。【具体实施方式】 为能进一步了解本技术的
技术实现思路
、特点及功效，兹例举W下实施例，并 配合附图详细说明如下： 如附图所示的本技术的一种水泥基材料孔结构的测试分析系统，它包括底 座，在所述的底座上开有连续轨道槽7,沿着连续轨道槽7 -侧向另一侧的方向，在所述的 连续轨道槽7上方依次间隔设置有切割装置1、打磨抛光装置2、提高孔及孔壁对比度的处 理装置3和图像采集装置4,材料移送载物装置5通过滑轮30滑动连接在所述的连续轨道 槽7上，材料移送载物装置5包括载物台26,在所述的载物台26上设置有用于将材料夹紧 的试样夹具27,所述的切割装置1、打磨抛光装置2和提高孔及孔壁对比度的处理装置3均 包括固定在底座上的支撑梁，在所述的切割装置1的支撑梁8上安装有第一上下高度调节 装置，切片12与第一转动驱动装置的旋转轴相连，所述的第一转动驱动装置与第一上下高 度调节装置相连，在所述的打磨抛光装置2的支撑梁13上安装有第二上下高度调节装置， 磨片17与第二转动驱动装置的旋转轴相连，所述的第二转动驱动装置与第二上下高度调 节装置相连，在所述的提高孔及孔壁对比度的处理装置3的支撑梁18上安装有第=上下高 度调节装置，喷刷器22与第=转动驱动装置的旋转轴相连，所述的第=转动驱动装置与第 =上下高度调节装置相连，所述的图像采集装置4包括安装在底座上的悬臂梁23,体视显 微镜24和高分辨率电子目镜25安装在所述的悬臂梁23上，高分辨率电子目镜25位于体 当前本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种水泥基材料孔结构的测试分析系统，其特征在于：它包括底座，在所述的底座上开有连续轨道槽，沿着连续轨道槽一侧向另一侧的方向，在所述的连续轨道槽上方依次间隔设置有切割装置、打磨抛光装置、提高孔及孔壁对比度的处理装置和图像采集装置，材料移送载物装置通过滑轮滑动连接在所述的连续轨道槽上，材料移送载物装置包括载物台，在所述的载物台上设置有用于将材料夹紧的试样夹具，所述的切割装置、打磨抛光装置和提高孔及孔壁对比度的处理装置均包括固定在底座上的支撑梁，在所述的切割装置的支撑梁上安装有第一上下高度调节装置，切片与第一转动驱动装置的旋转轴相连，所述的第一转动驱动装置与第一上下高度调节装置相连，在所述的打磨抛光装置的支撑梁上安装有第二上下高度调节装置,磨片与第二转动驱动装置的旋转轴相连，所述的第二转动驱动装置与第二上下高度调节装置相连，在所述的提高孔及孔壁对比度的处理装置的支撑梁上安装有第三上下高度调节装置，喷刷器与第三转动驱动装置的旋转轴相连，所述的第三转动驱动装置与第三上下高度调节装置相连，所述的图像采集装置包括安装在底座上的悬臂梁，体视显微镜和高分辨率电子目镜安装在所述的悬臂梁上，高分辨率电子目镜位于体视显微镜的上方，所述的高分辨率电子目镜用于自动采集每个视域的材料的图像，所述的高分辨率电子目镜通过导线与计算机控制系统连接，将材料的图像传输给计算机控制系统，所述的载物台通过滑轮沿着连续轨道槽移动并且载物台上的材料分别与切片、磨片、喷刷器以及体视显微镜分别相对设置。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：高辉，王毅，栗涛，张澎，黎春海，
申请(专利权)人：天津市建筑科学研究院有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12