碳化硅半导体基板及其制造方法技术

碳化硅半导体基板由碳化硅单晶构成，至少在表面形成有以结晶缺陷构成的作为识别显示的刻印(2)。在将所述碳化硅半导体基板用作籽晶而使碳化硅单晶(3)生长时，刻印(2)能够在所述碳化硅单晶(3)中作为结晶缺陷而传播。在使用所述碳化硅单晶(3)制作碳化硅半导体基板(4)时，能够成为在各碳化硅半导体基板(4)中已经形成有刻印(2)的状态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用本申请基于2012年10月2日申请的日本申请号2012－220403号，此处引用其记载内容。
本申请涉及从由碳化硅(以下称为SiC)构成的籽晶制造的SiC半导体基板(以下称为SiC晶片)及其制造方法。
技术介绍
以往，在SiC晶片制造中，晶片品质非常大地受到结晶生长时的籽晶的品质的影响(例如参照专利文献1)。因此，结晶缺陷少的高品质的籽晶在制造高品质的SiC晶片上是重要的。从而，在工序内以及输送上严格管理高品质的籽晶是不可缺少的，越是能够制造高品质晶片的籽晶，防患于未然地防止作为高附加价值品的风险(盗窃/丢失)的手段越是不可缺少的。在此基础上，采取用于确定在市场上流通的晶片的制造工序中使用的籽晶的手段(可追溯性)，对将上述风险防患于未然来说是有效的。因此，以往，一般实施在晶片制造工序中的加工工序内对每个晶片实施编号，能够通过编号确认来判明制造源，从而实现上述的风险的避免。但是，上述的编号是用于识别在对晶片上进行了加工之后的晶片而实施的，并不是在使用想要进行风险避免的高品质的籽晶进行结晶生长的情况下自动地将其履历刻印在晶片上。从而，在刻印前通过非法的手段获得了高品质的籽晶的情况下，即使使用该籽晶进行结晶生长而进行了晶片制作，也不能判别是否使用了该籽晶，不能实现上述的风险避免。此外，关于从自籽晶生长的SiC单晶切出的SiC晶片，在刻印前通过非法的手段获得的情况下，即使将其新用作籽晶进行结晶生长而进行了晶片制作，可以说也与上述相同。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特许第3745668号公报
技术实现思路
本申请的目的之一在于提供在将碳化硅半导体基板用作籽晶而使碳化硅单晶生长时能够确认被用作籽晶一事的碳化硅半导体基板。此外，本申请的其他目的在于提供在将碳化硅半导体基板用作籽晶而使碳化硅单晶生长时能够确认被用作籽晶一事的碳化硅半导体基板的制造方法。本申请的一个方式所涉及的碳化硅半导体基板由碳化硅单晶构成，至少在表面上形成有以结晶缺陷构成的作为识别显示的刻印。在将所述碳化硅半导体基板用作籽晶而使碳化硅单晶生长时，刻印能够在所述碳化硅单晶上作为结晶缺陷而传播。因此，能够确认所述碳化硅半导体基板被用作籽晶的情况。在本申请的其他方式所涉及的碳化硅半导体基板的制造方法中，准备由单晶的碳化硅构成的籽晶，在所述籽晶的至少表面上形成以结晶缺陷构成的作为识别显示的刻印。在形成有所述刻印的所述籽晶的表面上，使碳化硅单晶生长，从而在该生长方向上一边使所述刻印传播一边使所述碳化硅单晶生长。通过将传播了所述刻印的所述碳化硅单晶切出并进行切割(slice)，从而形成被形成有所述刻印的状态的碳化硅半导体基板。在将所述碳化硅半导体基板用作籽晶而使碳化硅单晶生长时，刻印能够在所述碳化硅单晶上作为结晶缺陷而传播。因此，能够确认所述碳化硅半导体基板被用作籽晶一事。附图说明本申请的上述目的或其他目的、结构或优点通过一边参照下述附图一边进行下述的详细说明而变得更为明确。在附图中：图1是表示在本申请的第一实施方式所涉及的籽晶上使SiC单晶生长时的情形的立体图。图2A是表示刻印的上表面布局的一例的图。图2B是所述刻印的沿着图2A的IIB－IIB线的剖面图。图3是表示籽晶中的刻印的配置部位的图。图4是表示从SiC单晶切出了SiC晶片时的情形的图。图5是表示本申请的第二实施方式所涉及的籽晶中的刻印的配置部位的图。图6是表示本申请的第三实施方式所涉及的籽晶中的刻印的配置部位的图。图7是表示本申请的第四实施方式所涉及的籽晶中的刻印的配置部位的图。具体实施方式以下，基于图说明本申请的实施方式。另外，在以下的各实施方式彼此中，对相互相同或等同的部分赋予相同标记而进行说明。(第一实施方式)说明本申请的第一实施方式。如图1所示，准备由高品质的SiC晶片构成的籽晶1。可以使用以往公知的任意方法作为由高品质的SiC构成的籽晶1的形成方法。此外，关于此时所准备的籽晶1的多晶型，也可以是6H、4H、3H等任意的多晶型，关于面方位，也可以是a面、c面的Si面、c面的C面等任意的面方位。并且，在该籽晶1的表面上预先形成刻印(编号)2。能够使用可用于确认履历的识别显示、例如字符、数字、条形码、QR码(注册商标)等各种识别显示作为刻印2，能够通过其中的一个或多个的组合来构成刻印2。图2A以及图2B表示在例如使用QR码作为识别显示而形成了刻印2的情况下，能够将如图2A所示的作为QR码的识别显示来表现的刻印2如图2B所示那样由在籽晶1的表面形成的台阶(凹部)1a构成。作为刻印2的种类，除了台阶1a之外，也可以为损伤层等结晶内的缺陷。例如，能够通过激光加工、基于金刚石刀具的切削加工、对刻印2处以外进行了掩膜的干法蚀刻等来形成基于台阶1a或损伤层的刻印2。此外，通过对刻印2处以外进行了掩膜的离子注入等来形成基于损伤层的刻印2。关于刻印2的形成位置没有特别限制，但例如图3所示那样，能够在被设为圆盘状的籽晶1的外缘部具备一处。像这样，通过在籽晶1的表面形成刻印2，从而即使假设籽晶1由于盗窃等非法的手段而丢失，也能够通过刻印2来确认该籽晶1的履历。使用这样形成有刻印2的籽晶1，如图1所示那样在其表面上使SiC单晶3生长，也可以采用升华再结晶法或气体供应法等任意方法作为SiC单晶3的生长的方法。由此，能够使继承了籽晶1的表面的结晶性的SiC单晶3生长。因此，若在形成有刻印2的籽晶1的表面使SiC单晶3生长，则在结晶生长过程中贯通缺陷(微管或贯通螺旋转位)或层叠缺陷从刻印2传播，在生长后的SiC单晶3中也继承了由结晶缺陷构成的刻印2。从而，SiC3在生长方向上成为形成有以与刻印2相同的形状继承的缺陷的状态。具体而言，成为在籽晶1上形成的刻印2的图案贯通SiC单晶3内而形成的状态。另外，无论籽晶1是怎样的多晶型或面方位，这样形成的结晶缺陷都作为贯通缺陷(微管或贯通螺旋转位)或层叠缺陷而传播。因此，如上所述，籽晶1的多晶型或面方位没有特别限制，无论是怎样，都以与刻印2相同的形状继承。像这样，能够形成结晶缺陷，该结晶缺陷在籽晶1的表面上生长的SiC单晶3内贯通且形状与刻印2相同。因此，如图4所示，即使在从籽晶1切出SiC单晶3之后进行切割从而形成了SiC晶片4，也成为在各SiC晶片...

【技术保护点】
一种碳化硅半导体基板，其特征在于，由碳化硅单晶构成，至少在表面形成有以结晶缺陷构成的作为识别显示的刻印(2)。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.10.02 JP 2012-2204031.一种碳化硅半导体基板，其特征在于，
由碳化硅单晶构成，至少在表面形成有以结晶缺陷构成的作为识别显
示的刻印(2)。
2.如权利要求1所述的碳化硅半导体基板，其特征在于，
所述刻印(2)之中的全部或一部分以从所述表面向所述内面贯通的结
晶缺陷构成。
3.如权利要求1或者2所述的碳化硅半导体基板，其特征在于，
所述刻印(2)在外缘部的一处或多处形成。
4.如权利要求1至3的任一项所述的碳化硅半导体基板，其特征在于，
所述刻印(2)由字符、数字、条形码以及作为注册商标的QR码即快
速响应码之中的一个或多个的组合而构成。
5.一种碳化硅单晶，是将权利要求1至4的任一项所述的碳化硅半导体
基板用作籽晶而形成的碳化硅单晶，其特征在于，
所述刻印(2)是在结晶的生长方向上传播、并且从结晶的表面向内面
贯通的构造的结晶缺陷。
6.一种碳化硅半导体基板的制造方法，其特征在于，包含：
准备由单晶的碳化硅构成的籽晶(1)的工序；
在所述籽晶(1)的至少表面形成以...

【专利技术属性】
技术研发人员：山内庄一，平野尚彦，
申请(专利权)人：株式会社电装，
类型：发明
国别省市：日本;JP