本发明专利技术涉及容器的印迹或涂层的固化程度的测量。在此提出一种用于测量容器的具有辐射固化颜料或辐射固化漆的印迹或涂层(10)的固化程度的方法，其特征在于，光学地在容器(4)上进行该测量，以及本发明专利技术还涉及用于执行这样的方法的装置以及具有用于控制这样的方法的执行的计算机可读指令的计算机可读介质。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于测量容器的具有辐射固化颜料或辐射固化漆的印迹或涂层 的固化程度的方法、用于执行这样的方法的装置以及具有用于控制这样的方法的执行的计 算机可读指令的计算机可读介质。
技术介绍
辐射固化颜料和漆，例如UV固化颜料和漆，经常用于涂漆或文字说明。这样的颜 料和漆通常掺入了光引发剂，在照射时光引发剂形成自由基，进而开始聚合，亦即固化，由 此使颜料/漆快速固化。通常在此，光引发剂的光谱的敏感度和辐射源的光谱相调谐。 存在有很多种光引发剂和辐射源，例如UV源。颜料/漆的固化依赖于多种因素。 例如，它依赖于辐射源的辐射剂量和光谱分布，依赖于光引发剂的种类和数量，依赖于热输 入和散发、层厚度、存在的自由基捕捉剂（如氧）、所使用的单体、官能团的交联点、色素含 量以及另外的因素。在体系中，通常将所使用的组分相调谐，从而降低了对所使用的辐射源 的辐射剂量的依赖性。该固化又依赖于辐射强度和颜料/漆在辐射的强度场中的停留时 间，停留时间例如可以与生产速度和/或与辐射源的距离相关。 这样的辐射固化颜料和漆也用于对容器的印刷或涂覆。如果现在在这样的容器 中，例如由于辐射源强度的遗失或波动或生产速度的变化而没有固化或仅是不完全地固化 了印迹或涂层，就会涂脏印迹或涂层。也会发生未固化的颜料/未固化的漆通过容器向里 移位到内容物中，从而通过颜料/漆而污染了内容物。 迄今为止，在容器的情况下，仅随机地、间接地和/或在破坏容器或印迹或涂层的 情况下对颜料/漆的固化进行检验。常见的是，例如对所施加的UV剂量，例如经由UV测试 条（例如具有tesa UV测试条的好乐（H6nle)uv扫描仪）进行抽样检查，随后调整至所需 的剂量测量值。经由此，于是间接地给出对固化程度的结论。
技术实现思路
本专利技术的任务在于，使得对容器的印迹或涂层的固化程度的改进的测量成为可 能。 本专利技术包括根据权利要求1的用于测量印迹或涂层的固化程度的方法、根据权利 要求14的装置以及根据权利要求15的计算机可读介质。有利的实施方式在从属权利要求 中被描述。 根据本专利技术的用于测量容器的具有辐射固化颜料或辐射固化漆（下面也称为颜 料或漆）的印迹或涂层的固化程度的方法光学地在容器上进行。在下文中，术语颜料或漆 也包括由一种或多种颜料和/或一种或多种漆的组合。在这里，术语"漆"也可以包括有色 的或无色的涂层，例如由底漆或其它功能层组成的层。 通常，颜料或漆是UV固化的。但是，附加地或者替选地，颜料或漆可以在不同于UV 的光谱区域中进行固化。 在本专利技术中，容器可以包括玻璃、塑料、金属和/或纸板。它们尤其可以是饮料容 器，例如由玻璃或塑料，如例如PET制成的瓶子、例如由金属制成的罐子，或者由纸板制成 的饮料容器。 直接在容器上进行测量是有利的，这是因为由此避免了经常是费时的和/或使测 量不精确的中间步骤。此外，因此可以在一些实施方式中进行100%的检查，亦即进行对每 个单一容器在至少一个部位上的检查，和/或对产品进行追踪。 通常，在根据本专利技术的方法中进行光学测量，在该方法中，利用来自辐射源的辐 射，例如来自在UV与远红外之间的光谱区域的，例如来自中红外区域（MIR)、近红外区域 (NIR)或可见光区域（Vis)或UV区域（UV)的光来对印迹或涂层进行照射。随后，于是可 以测量相互作用，亦即例如探测所反射的辐射并且从中确定，亦即测量固化程度。在此，照 射可以例如在平的角度下进行。于是对所反射的辐射的探测可以相对于入射的辐射错开了 45°与135°之间的，例如75°与105°之间的，例如大约90°的角度地进行。在其它实施 方式中，可以对透射的辐射进行检测并且从中确定（测量）固化程度。例如可以关于参比 地对测量进行评估。 视印迹/涂层中现有的分子而定地，未固化的颜料或未固化的漆示出了不同于已 固化的颜料或已固化的漆的反射（透射）的辐射或光谱。例如，可以反射（透射）具有对 于固化程度而言是典型的、变化了的光谱分布（例如特定光谱区域的衰减）的光。例如已知，光引发剂在其分解之前在反射（透射）的光中的特定光谱区域中引发 表征性的信号，但是如果在辐射固化时分解，则在固化的颜料或漆中，该表征性的信号应当 比在未固化的颜料或者未固化的漆中出现得要小。附加地或替选地，也可以依据单体和/ 或其它组分，如特定的分子基团或连接基团做分析，它们对由容器反射的辐射的光谱产生 影响，并且在未固化的和固化的状态下在反射（透射）的辐射中示出不同的表征性的信号， 例如，这是因为在未固化的状态下示出了能配属于在固化时分解的特定分子基团的、反射 (透射）的光谱。由此，在固化后，表征性的信号通常表现得并不明显。同时，在光谱中会显 露出新的表征性的信号，该新的表征性的信号由辐射与分解产物和/或聚合产物的相互作 用所引发。基本上，通常通过与电磁辐射的相互作用来激发电子的或波动状态。 在用于测量固化程度的方法中，可以使用校定系列（Eichreihe)用于校准，该校 定系列具有对所使用的未固化的、部分固化的和完全固化的颜料或所使用的未固化的、部 分固化的和完全固化的漆的测量。 作为用于光学测量的辐射源，可以使用相干光源，如例如激光，以及非相干光源， 如例如LED灯、汞灯或通常的白炽灯。 可以非接触地进行测量。这意味着，在测量期间，容器不被测量设备碰触。这会是 有利的，这是因为由此可以更快速地执行测量和/或可以排除机械损伤。 在其它实施方式中，利用通过一个或多个测量设备碰触容器进行测量，例如可以 让光波导体或类似物碰触容器。 可以无破坏地进行测量。尤其地，例如不通过用于测量的辐射损伤印迹或涂层和 容器。由此，在一些实施方式中，不是抽样式的检验，而是可以进行对每个单一容器的100% 的检验。 上述的方法可以如此进行，即，测量的结果能配属于容器的印刷过程或涂覆过程。 例如，在方法中可以测量以特定顺序递送的容器，该顺序允许配属于印刷过程或涂覆过程。 因此，可以如此进行对固化程度的测量，即，针对每个受测量的容器已知或能确认，该容器 何时进行涂覆或印刷。这会是有利的，这是因为由此在出现故障，例如出现辐射源的强度、 生产速度和/或印刷/涂覆用料量的波动的情况下，可以简单地推断出故障原因或故障步 骤的时间点。 例如，可以首先对容器进行印刷或涂覆，然后利用来自辐射源（例如UV源）的辐 射对印迹或涂层进行固化，并且随后，执行对容器的印迹或涂层的固化程度的测量。印刷或 涂覆以及固化可以包括在根据本专利技术的方法中。在根据本专利技术的方法的其它实施方式中则 不包括。 在根据本专利技术的方法的一些实施方式中，可以测量多个容器。例如，可以对数个容 器进行印刷或涂覆，然后利用辐射对印迹或涂层进行固化。固化程度可以针对每个经印刷 的或涂覆的容器进行测量或者以有规律的间隔，例如针对每十个印刷的或涂覆的容器进行 测量。 在用于测量固化程度的方法中，可以包括分拣出其中印迹或涂层的固化程度不足 的容器的步骤。 替选地或者附加地，测量的结果可以用于控制在针对接下来的容器的印刷或涂覆 时和/或固化颜料或漆时的参数。例如，可以在固化颜料或漆时将辐射源当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...
【技术保护点】
用于测量容器(4)的具有辐射固化颜料或辐射固化漆的印迹或涂层(10)的固化程度的方法，其特征在于，光学地在容器(4)上进行所述测量。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：安德烈亚斯·松瑙尔，弗洛里安·劳特巴赫，
申请(专利权)人：克朗斯股份公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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