【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种消除静电的测试装置，其特征在于，包含：一消除集成电路，其包括多个第一接脚、一第二接脚与一第三接脚，该多个第一接脚分别连接至少一测试集成电路的多个第四接脚，且该测试集成电路的一表面上有静电电荷，该第三接脚连接接地端，该第二接脚依序接收一开启信号与一关闭信号，在该第二接脚接收该开启信号时，该消除集成电路利用该开启信号形成介于该测试集成电路与该接地端的导通路径，并经由该多个第一接脚与该第三接脚释放该静电电荷至该接地端；以及一测试器，包括多个探针，该多个探针分别接触该多个第四接脚，在该第二接脚接收该关闭信号时，该消除集成电路利用该关闭信号以切断该导通路径，且该测试器测试该测试集成电路。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：柯明道，庄哲豪，
申请(专利权)人：晶焱科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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