结构体和包含结构体的X射线Talbot干涉计制造技术

技术编号:11545588 阅读:254 留言:0更新日期:2015-06-03 19:04
本发明专利技术公开了结构体和包含结构体的X射线Talbot干涉计。该结构体依次包括:具有曲面的树脂层;含有水溶性聚合物的第一结合层;具有氢结合表面的第二结合层;以及金层,第一结合层处于树脂层的曲面与第二结合层的氢结合表面之间,并且与树脂层的曲面和第二结合层的氢结合表面接触。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种结构体,依次包括:具有曲面的树脂层;含有水溶性聚合物的第一结合层;具有氢结合表面的第二结合层;以及金层,第一结合层处于树脂层的曲面与第二结合层的氢结合表面之间,并且与树脂层的曲面和第二结合层的氢结合表面接触。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:手岛隆行
申请(专利权)人:佳能株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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