放射线图像检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能够防止闪烁体的破损的ISS型的放射线图像检测装置。在单体壳构造的框体内，从X射线的入射侧起，依次容纳有光电变换面板、闪烁体、电路基板。闪烁体含有碘化铯，将X射线变换成可见光，并且蒸镀到光电变换面板。在光电变换面板上，形成有对可见光进行光电变换而生成电荷的多个像素。在电路基板上，搭载有读出各像素的电荷而生成图像数据的信号处理部。在闪烁体与电路基板之间中，形成有空隙层。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】放射线图像检测装置
本专利技术涉及一种用于放射线摄影的放射线图像检测装置。
技术介绍
近年来，在医疗领域中，为了进行图像诊断，使用了将从放射线源向被摄体(患者)的摄影部位放射并透过了摄影部位的放射线(例如，X射线)变换成电荷而生成放射线图像的放射线图像检测装置。在该放射线图像检测装置中，存在将放射线直接变换成电荷的直接变换方式的装置、以及将放射线暂时变换成可见光并将该可见光变换成电荷的间接变换方式的装置。间接变换方式的放射线图像检测装置具有吸收放射线而变换成可见光的闪烁体(荧光体层)、以及检测可见光而变换成电荷的光电变换面板。在闪烁体中，使用了碘化铯(CsI)、硫氧化钆(GOS)。光电变换面板是在由玻璃制成的绝缘性基板的表面矩阵状地排列了薄膜晶体管以及光电二极管而成的。CsI与GOS相比，制造成本高，但从放射线向可见光的变换效率高。另外，CsI具有柱状晶体构造，由于光导效应，图像数据的SN比优良。因此，CsI作为特别是面向高端的放射线图像检测装置的闪烁体来使用。在将CsI作为闪烁体的放射线图像检测装置中，公知了贴附方式与直接蒸镀方式。在贴附方式中，蒸镀有闪烁体的蒸镀基板与光电变换面板以闪烁体与光电变换面板对置的方式经由粘合层来贴附。关于贴附方式，CsI的柱状晶体的前端部与光电变换面板接近，从该前端部发射的可见光高效地入射到光电变换面板，所以得到高分辨率的放射线图像。但是，贴附方式由于使用蒸镀基板，制造工序数多、成本高。另一方面，在直接蒸镀方式中，将闪烁体直接蒸镀到光电变换面板。该直接蒸镀方式不需要蒸镀基板，所以制造工序数少、成本低。在该直接蒸镀方式中，CsI的柱状晶体的前端部配置于与光电变换面板相反的一侧，所以与贴附方式的情况相比，放射线图像的画质劣化，但至少与闪烁体是GOS的情况相比是优良的。这样，直接蒸镀方式在性能方面与成本方面的平衡较好。但是，在直接蒸镀方式中，在将闪烁体蒸镀到光电变换面板时，在一部分的部位，柱状晶体异常生长，该异常生长的柱状晶体(以下，称为异常生长晶体)的前端部有时从闪烁体的表面较大程度地突出(参照日本特开2006-052980号公报)。该异常生长晶体是在光电变换面板的表面上以凸状等地局部变形的缺陷等为起点而由柱状晶体生长而得到的，随着远离于光电变换面板，扩展得比起点的缺陷等的大小更大。在日本特开2006-052980号公报所记载的放射线图像检测装置中，闪烁体被配置成相比光电变换面板更靠放射线源侧。在闪烁体中，放射线从柱状晶体的前端部侧入射，在前端部的附近放射线被吸收而发生可见光的发光。这样，将闪烁体配置成相比光电变换面板更靠放射线源侧的结构被称为PSS(PenetrationSideSampling，透射侧采集)型。在该PSS型中，放射线从柱状晶体的前端部侧入射，所以在存在异常生长晶体的情况下，在异常生长晶体的前端部发生发光。异常生长晶体的前端部较大程度地扩展，所以发光量较大，在放射线图像中产生图像缺陷。因此，在将闪烁体蒸镀到光电变换面板之后，通过利用加压等方法来挤碎异常生长晶体的前端部，来实现图像缺陷的减少。与该PSS型相反地，公知了一种作为直接蒸镀方式的、将光电变换面板配置成相比闪烁体更靠放射线源侧的ISS(IrradiationSideSampling)型的放射线图像检测装置(例如，参照日本特开2012-105879号公报(同族申请US2012/0126124A1)、日本特开2001-330677号公报)。在该ISS型中，从放射线源放射的放射线透过光电变换面板之后入射到闪烁体。该闪烁体在接近于放射线入射侧的光电变换面板的区域发光，所以在光电变换面板处的受光效率提高。这样，在ISS型中，得到画质以及亮度优良的放射线图像。
技术实现思路
专利技术所要解决的课题在直接蒸镀方式的ISS型的放射线图像检测装置中，放射线从光电变换面板侧入射到闪烁体，所以即使在存在异常生长晶体的情况下，放射线也从异常生长晶体的基端侧入射，放射线不易达到异常生长晶体的前端部。因此，在异常生长晶体的前端部的发光量小。因此，在ISS型中，对异常生长晶体的图像的影响小，所以没有必要挤碎异常生长晶体的前端部。然而，如果不挤碎异常生长晶体的前端部地将带闪烁体的光电变换面板容纳到框体中，则异常生长晶体的前端部从闪烁体的表面突出，所以在对框体施加了负荷的情况下，存在异常生长晶体的前端部接触到框体等而破损，其周围存在的正常的柱状晶体也破损这样的问题。特别是，在ISS型中，与闪烁体对置地，配置搭载有进行图像数据的生成的信号处理部等的电路基板，所以异常生长晶体的前端部容易接触到电路基板而挤碎。本专利技术的目的在于，提供一种能够防止闪烁体的破损的ISS型的放射线图像检测装置。用于解决课题的技术方案为了解决上述课题，本专利技术的放射线图像检测装置具备闪烁体、光电变换面板、电路基板、空隙层以及框体。闪烁体含有碘化铯，将放射线变换成可见光。光电变换面板蒸镀有闪烁体，并且形成有对可见光进行光电变换而生成电荷的多个像素。电路基板设置有根据通过光电变换面板而生成的电荷来生成图像数据的信号处理部。空隙层设置在闪烁体与电路基板之间。框体从摄影时放射线从放射线源入射的一侧起，按以下顺序容纳光电变换面板、闪烁体、空隙层、电路基板。闪烁体具有非柱状晶体层以及在该非柱状晶体层上形成的多个柱状晶体。非柱状晶体层紧贴到光电变换面板。在空隙层中，设置第一支撑体。该第一支撑体的一端固定于电路基板，另一端支撑闪烁体。第一支撑体优选支撑闪烁体的周缘部。第一支撑体优选是弹性体。优选具备在光电变换面板与电路基板之间进行支撑的第二支撑体。该第二支撑体优选覆盖闪烁体的周围。框体优选是单体壳构造。光电变换面板与电路基板优选分别单独地固定于框体。优选具备覆盖闪烁体的周围密封膜。另外，优选具备反射从多个柱状晶体的前端部发射的可见光的光反射膜。优选具备覆盖多个柱状晶体的前端部保护膜。在这种情况下，优选的是，光反射膜在保护膜上形成，密封膜覆盖在光反射膜上。像素优选具有将可见光变换成电荷的光电二极管、以及用于读出通过光电二极管而生成的电荷的开关元件。专利技术效果根据本专利技术的放射线图像检测装置，由于在闪烁体与电路基板之间设置有空隙层，所以能够防止闪烁体的破损。附图说明图1是示出X射线图像检测装置的局部剖切立体图。图2是示出X射线图像检测装置的剖视图。图3是示出FPD的剖视图。图4是示出光电变换面板的结构的电路图。图5是说明X射线图像检测装置的使用状态的说明图。图6是示出X射线图像检测装置的第一变形例的剖视图。图7是示出X射线图像检测装置的第二变形例的剖视图。图8是示出X射线图像检测装置的第三变形例的剖视图。图9是示出肋部的第一配置例的俯视图。图10是示出肋部的第二配置例的俯视图。图11是示出X射线图像检测装置的第四变形例的剖视图。图12是示出在柱状晶体的前端部形成的金属薄膜的剖视图。具体实施方式在图1中，X射线图像检测装置10由平板检测器(FPD：FlatPanelDetector)11、电路基板12、控制单元13以及容纳它们的框体14构成。框体14是利用对于X射线XR透射性高、轻质且耐久性高的碳纤维增强树脂(碳纤维，Carbonfiber)来一体形成的单体壳(Monocoque)构造。在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放射线图像检测装置，其特征在于，具备：闪烁体，含有碘化铯，将放射线变换成可见光；光电变换面板，蒸镀有所述闪烁体，并且形成有对所述可见光进行光电变换而生成电荷的多个像素；电路基板，设置有信号处理部，该信号处理部根据通过所述光电变换面板生成的电荷来生成图像数据；空隙层，设置在所述闪烁体与所述电路基板之间；以及框体，从摄影时放射线从放射线源入射的一侧起，依次容纳所述光电变换面板、所述闪烁体、所述空隙层、所述电路基板。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.09.27 JP 2012-2138771.一种放射线图像检测装置，其特征在于，具备：闪烁体，含有碘化铯，将放射线变换成可见光；光电变换面板，蒸镀有所述闪烁体，并且形成有对所述可见光进行光电变换而生成电荷的多个像素；电路基板，设置有信号处理部，该信号处理部根据通过所述光电变换面板生成的电荷来生成图像数据；空隙层，设置在所述闪烁体与所述电路基板之间；框体，从摄影时放射线从放射线源入射的一侧起，依次容纳所述光电变换面板、所述闪烁体、所述空隙层、所述电路基板；以及密封膜，覆盖所述闪烁体的周围，所述闪烁体具有非柱状晶体层以及在该非柱状晶体层上形成的多个柱状晶体，所述非柱状晶体层紧贴到所述光电变换面板，在所述空隙层中设置第一支撑体，该第一支撑体的一端固定于所述电路基板，另一端支撑所述闪烁体，以防止所述闪烁体的多个柱状晶体因接触而被按压，所述第一支撑体与所述密封膜抵接而支撑所述闪烁体。2.根据权利要求1所述的放射线图像检测装置，其特征在于，所述第一支撑体支撑所述闪烁...

【专利技术属性】
技术研发人员：成行书史，锅田敏之，冈田美广，渡野弘隆，加藤宗贵，中津川晴康，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP