数显卡尺自动化检测的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光学检测方法及装置，特指一种用于检测数显卡尺精度的方法及装置。所述的精度检测装置包括工作台、定位机构、夹紧机构、水平移动机构、光栅尺装置、计算机。方法包括如下步骤：①将待检测数显卡尺放在工作台上定位夹紧后，通过光栅判定待检测物体起始位置并记录位置，而后传递到计算机；②通过水平移动机构沿轴向移动数显卡尺主尺至检测点，并由光栅尺装置记录移动位移量传递到计算机；③重复步骤2直至所有检测点检测完成；④计算机将所获得的光栅数据与检测点数据进行综合处理、误差补偿，并判断出待测卡尺是否合格。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种数显卡尺自动化检测方法，包括如下步骤：①将待检测数显卡尺(7)放在检测台面上，通过定位机构(4,9,10)的三个定位面确定数显卡尺(7)与装置的相对位置，以数显卡尺(7)的固定卡脚(18)底面、右侧面、副尺(19)前面作为定位面，用夹紧机构(2,3,15,16)将数显卡尺(7)夹紧，通过光栅尺装置(5,6)采集数显卡尺(7)起始位置的数据，通过数据处理判定数显卡尺(7)起始位置并记录位置坐标，而后传递到计算机(1)；②数显卡尺副尺(19)保持静止，通过水平移动机构(11,12,13,14)沿轴向移动数显卡尺主尺(20)至下一个检测点，暂停移动并由光栅尺装置(5,6)记录移动位移量传递到计算机(1)；③重复步骤2直至光栅尺装置(5,6)获取到所设定的最后一个检测点检测完成；④计算机(1)将所获得的光栅尺数据与所有检测点数据进行综合处理、误差补偿，并判断出待测数显卡尺是否合格。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张洪，杜汶励，孙春龙，
申请(专利权)人：江南大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32