本实用新型专利技术涉及到一种用于磁铁片的千分子测量器。所述测量器包括底座、可滑动垫块、“7”形把手、控制面板、放大筒和透视放大镜；所述底座上设有可滑动垫块，其右侧与“7”形把手相连接；所述“7”形把手的横向部位设有测量装置和放大筒；所述测量装置包括电机、定位珠、柔性千分尺和透视放大镜；所述柔性千分尺上端经过透视放大镜连接电机，其下端连接定位珠；所述控制面板设在“7”形把手的坚向部位，其连接并控制电机。与现有技术相比，本实用新型专利技术所述的用于磁铁片的千分子测量器设有放大筒，能够观察到磁铁片厚度的细微不同，从而找出最厚与最薄的地方；测量装置采用柔性千分尺，便于收缩；此外，该测量器还设有放大镜，便于观察读数。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于测量装置
，具体来说，涉及到一种用于磁铁片的千分子测量器。
技术介绍
磁铁是可以产生磁场的物体，为一磁偶极子，能够吸引铁磁性物质如铁、镍、钴等金属。钦铁棚磁铁是目如发现商品化性能最尚的磁铁，被人们称为磁王，拥有极尚的磁性能其最大磁能积高过铁氧体10倍以上。其本身的机械加工性能亦相当之好，工作温度最高可达200摄氏度，而且其质地坚硬，性能稳定，有很好的性价比，故其应用极其广泛。磁铁在应用时，经常被切成片，即磁铁片。磁铁片常被应用到电汽、医疗、天文及军事等高科技领域。因此，人们对磁铁片的参数要求也就极为严格，例如厚度的统一。测量方法主要是用卡尺的测量爪，精度要求高的也可以用板厚千分尺测量。但是这种测量方法存在一定的局限性，因受到卡尺测量爪长度或千分尺大小的限制，此两种方法仅能测量到被测磁铁片的边缘部分，如果需要测量工件的中间部位，在工件不被破坏的前提下是很难实现的。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本技术提供了一种测量简便、精确度高的用于磁铁片的千分子测量器。本技术所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，所述测量器包括底座1、可滑动垫块2、“7”形把手4、控制面板6、放大筒7和透视放大镜9 ;所述底座I上设有可滑动垫块2，其右侧与“7”形把手4相连接；所述“7”形把手4的横向部位设有测量装置和放大筒7 ;所述测量装置包括电机5、定位珠3、柔性千分尺8和透视放大镜9 ;所述柔性千分尺8上端经过透视放大镜9连接电机5，其下端连接定位珠3 ;所述控制面板6设在“7”形把手4的坚向部位，其连接并控制电机5。本技术所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，所述定位珠3由刚性材料制成。本技术所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，所述柔性千分尺8设有数值从上往下递增的刻度。本技术所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，所述放大筒7内设有能放大10-100倍的放大镜。本技术所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，所述透视放大镜9能放大10-100 倍。本技术所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，所述定位珠3与可滑动垫块2接触点时，所述透视放大镜9观察到的刻度为O。本技术所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，所述柔性千分尺8设有重力感应器10。与现有技术相比，本技术所述的用于磁铁片的千分子测量器设有放大筒，能够观察到磁铁片厚度的细微不同，从而找出最厚与最薄的地方；测量装置采用柔性千分尺，便于用电机控制收缩；此外，该测量器还设有放大镜，便于观察读数。【附图说明】图1:用于磁铁片的千分子测量器结构图；底座-1、可滑动垫块_2、定位珠_3、“7”形把手-4、电机_5、控制面板-6、放大筒-7、柔性千分尺_8、透视放大镜-9。【具体实施方式】下面结合具体的实施例对本技术所述的用于磁铁片的千分子测量器做进一步说明，但是本技术的保护范围并不限于此。实施例1一种用于磁铁片的千分子测量器，所述测量器包括底座1、可滑动垫块2、“7”形把手4、控制面板6、放大筒7和透视放大镜9 ;所述底座I上设有可滑动垫块2，其右侧与“7”形把手4相连接；所述“7”形把手4的横向部位设有测量装置和放大筒7 ;所述测量装置包括电机5、定位珠3、柔性千分尺8和透视放大镜9 ;所述柔性千分尺8上端经过透视放大镜9连接电机5，其下端连接定位珠3 ;所述控制面板6设在“7”形把手4的坚向部位，其连接并控制电机5 ;所述定位珠3由刚性材料制成；所述柔性千分尺8设有数值从上往下递增的刻度；所述放大筒7内设有能放大20倍的放大镜；所述透视放大镜9能放大20倍；所述定位珠3与可滑动垫块2接触点时，所述透视放大镜9观察到的刻度为O ;所述柔性千分尺8设有重力感应器10。当重力感应器10监测到定位珠3时，能促动电机控制柔性千分尺收缩。与现有技术相比，本技术所述的用于磁铁片的千分子测量器设有放大筒，能够观察到磁铁片厚度的细微不同，从而找出最厚与最薄的地方；测量装置采用柔性千分尺，便于用电机控制收缩；此外，该测量器还设有放大镜，便于观察读数。【主权项】1.一种用于磁铁片的千分子测量器，所述测量器包括底座(I)、可滑动垫块(2)、“7”形把手(4)、控制面板￠)、放大筒(7)和透视放大镜(9);所述底座(I)上设有可滑动垫块(2)，其右侧与“7”形把手(4)相连接；所述“7”形把手(4)的横向部位设有测量装置和放大筒(7);所述测量装置包括电机(5)、定位珠(3)、柔性千分尺(8)和透视放大镜(9);所述柔性千分尺(8)上端经过透视放大镜(9)连接电机(5)，其下端连接定位珠(3);所述控制面板(6)设在“7”形把手(4)的坚向部位，其连接并控制电机(5)。2.根据权利要求1所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，其特征在于，所述定位珠(3)由刚性材料制成。3.根据权利要求1所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，其特征在于，所述柔性千分尺(8)设有数值从上往下递增的刻度。4.根据权利要求1所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，其特征在于，所述放大筒(7)内设有能放大10-100倍的放大镜。5.根据权利要求1所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，其特征在于，所述透视放大镜(9)能放大10-100倍。6.根据权利要求1所述的一种用于磁铁片的千分子测量器，其特征在于，所述柔性千分尺(8)设有重力感应器(10)。【专利摘要】本技术涉及到一种用于磁铁片的千分子测量器。所述测量器包括底座、可滑动垫块、“7”形把手、控制面板、放大筒和透视放大镜；所述底座上设有可滑动垫块，其右侧与“7”形把手相连接；所述“7”形把手的横向部位设有测量装置和放大筒；所述测量装置包括电机、定位珠、柔性千分尺和透视放大镜；所述柔性千分尺上端经过透视放大镜连接电机，其下端连接定位珠；所述控制面板设在“7”形把手的坚向部位，其连接并控制电机。与现有技术相比，本技术所述的用于磁铁片的千分子测量器设有放大筒，能够观察到磁铁片厚度的细微不同，从而找出最厚与最薄的地方；测量装置采用柔性千分尺，便于收缩；此外，该测量器还设有放大镜，便于观察读数。【IPC分类】G01B5-06, G01B3-18【公开号】CN204359213【申请号】CN201420808875【专利技术人】吴天文 【申请人】赣州嘉通磁电制品有限公司【公开日】2015年5月27日【申请日】2014年12月18日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于磁铁片的千分子测量器，所述测量器包括底座(1)、可滑动垫块(2)、“7”形把手(4)、控制面板(6)、放大筒(7)和透视放大镜(9)；所述底座(1)上设有可滑动垫块(2)，其右侧与“7”形把手(4)相连接；所述“7”形把手(4)的横向部位设有测量装置和放大筒(7)；所述测量装置包括电机(5)、定位珠(3)、柔性千分尺(8)和透视放大镜(9)；所述柔性千分尺(8)上端经过透视放大镜(9)连接电机(5)，其下端连接定位珠(3)；所述控制面板(6)设在“7”形把手(4)的坚向部位，其连接并控制电机(5)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴天文，
申请(专利权)人：赣州嘉通磁电制品有限公司，
类型：新型
国别省市：江西;36
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