本实用新型专利技术公开了一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具，包括长度检测块、长检槽A、长检槽B、宽检块A、宽检块B、高检块A、高检块B、检测底座、手环上盖、定位螺孔；所述长度检测块上设有长检槽A和长检槽B，所述宽度检测块包括宽检块A和宽检块B，所述宽检块A和宽检块B下侧加工有左入块和右入块，所述高度检测块包括高检块A和高检块B，检测底座中部对称设置有定位螺孔；本新型对手环上盖的长度、宽度、高度进行检测，制定长宽高尺寸公差的上限标准块和下限标准块，分别对手环上盖的尺寸形位进行快速检测，从而简化了检测操作，提高了检测的精度和效率，避免了检测对产品的损伤，节省了检测时间，有利于大批量产品全检。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种表面处理形位检测技术设备领域，特别涉及一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具。
技术介绍
随着科学技术的进步，产品的品质与外观的要求越来越高，一方面制造厂商要满足制造标准的要求，另一方面迫使制造厂商也要不断的降低成本；特别是高端产品的制造，要求对产品的各个环节进行成本压缩，高端产品客户对品质的要求升高，对外观件在全检时需寻求快速高效且不会对产品造成损伤的方法；如何降低设备、人力以及时间成本的投入，并减少检验过程中产生的报废不良，是检验检具设计开发的方向。现有技术中，运动手环是高端产品，由于其外形的不规则性，其上盖的制造与检测难度大；现有检测技术存在的不足是:使用千分尺、OMM等测量精密仪器进行检测，采购及维护成本高，操作繁琐；相关仪器测量需与产品紧密接触，会对产品外观造成损伤，导致报废发生；精密仪器操作费时，需消耗大量时间成本。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本技术提供了一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具，针对现有技术中的不足，采用特制的检测治具，运动手环的上盖为不规则槽形结构，分别设计精密检测组件，对手环上盖的长度、宽度、高度进行检测，从而简化了检测操作，提高了检测的精度和效率，避免了检测对产品的损伤，节省了检测时间，有利于大批量广品全检。为达到上述目的，本技术的技术方案如下:一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具，简称形位检具；包括长度检测块、长检槽A、长检槽B、宽检块A、宽检块B、高检块A、高检块B、检测底座、手环上盖、定位螺孔，其特征在于:所述形位检具包括长度检测块、宽度检测块、高度检测块、检测底座；所述形位检具为硬质合金材料通过高精度加工制造的矩形体，所述长度检测块上同向设置有长检槽A和长检槽B，所述长检槽A的长度设置为手环上盖的上限长度，所述长检槽B的长度设置为手环上盖的下限长度；所述宽度检测块为硬质合金材料通过高精度加工制造，所述宽度检测块为矩形板，包括宽检块A和宽检块B，所述宽检块A和宽检块B其下侧加工有槽口，所述槽口将所述宽检块A和宽检块B分为左入块和右入块，所述左入块的宽度为手环上盖的下限宽度尺寸，所述右入块的宽度为手环上盖的上限宽度尺寸；所述宽检块A为一倍公差检测块，所述宽检块B为二倍公差检测块；所述高度检测块为硬质合金材料通过高精度加工制造的矩形板，其下侧面开设有矩形槽口，所述高度检测块包括高检块A和高检块B，所述高检块A和高检块B的矩形槽口二侧设置有定位螺孔；所述高度检测块与检测底座配合使用，检测底座中部对称设置有定位螺孔，所述定位螺孔与所述高检块A和高检块B上的定位螺孔位置、尺寸匹配设置；所述高检块A和高检块B通过螺栓与所述检测底座固定连接；所述高检块A的矩形槽口高度设置为手环上盖高度的上限尺寸；所述高检块B的矩形槽口高度设置为手环上盖高度的下限尺寸。所述长检槽A对手环上盖的上限尺寸进行检测，所述手环上盖不能放入所述长检槽A内者为不良品，能够放入所述长检槽A中手环上盖，放入所述长检槽B中，所述手环上盖能够放入长检块B中者为不良品，不能放入所述长检槽B中的手环上盖为合格产品。所述宽检块A和宽检块B分别对手环上盖的宽度进行检测，所述手环上盖通过宽检块A左入块不能进入，右入块能够进入，同时通过宽检块B左入块能进入，而右入块不能进入的为合格广品；其它为不良品。所述高检治块A和高检块B分别装配在不同的检测底座上，所述手环上盖能够通过高检块A矩形槽口，同时不能够通过所述高检块B的矩形槽口的产品为合格品；否则为不良品。本技术的工作原理:通过精加工，对长检槽A、B ;宽检块A、B ;高检块A、B设定手环长宽高尺寸的上下限，并通过上下限的限制，确定手环上盖的尺寸符合标准，对手环上盖的尺寸进行检验确认。本技术具体操作步骤是:使用对应的长检槽、宽检块、高检块对手环上盖的长宽高依次进行确认，保证产品尺寸在规格范围之内。所述长检槽A对手环上盖的上限尺寸进行检测，所述手环上盖不能放入所述长检槽内者为不良品，能够放入所述长检槽A中手环上盖，放入所述长检槽B中，所述手环上盖能够放入长检块B中者为不良品，不能放入所述长检槽B中的手环上盖为合格产品；所述宽检块A和宽检块B分别对手环上盖的宽度进行检测，所述手环上盖通过宽检块A左入块不能进入，右入块能够进入，同时通过宽检块B左入块能进入，而右入块不能进入的为合格广品；其它为不良品；所述尚检治块A和尚检块B分别装配在不同的检测底座上，所述手环上盖能够通过高检块A矩形槽口，同时不能够通过所述尚检块B的矩形槽口的广品为合格品；否则为不良品。通过上述技术方案，本技术技术方案的有益效果是:采用特制的检测治具，运动手环的上盖为不规则槽形结构，分别设计精密检测组件，对手环上盖的长度、宽度、高度进行检测，制定长度、宽度、高度尺寸公差的上限标准块和下限标准块，分别对手环上盖的尺寸形位进行快速检测，从而简化了检测操作，提高了检测的精度和效率，避免了检测对产品的损伤，节省了检测时间，有利于大批量产品全检。【附图说明】为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例所公开的一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具产体结构示意图；图2为本技术实施例所公开的一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具手环上盖示意图，其中图2a为主视图，图2b为CC面剖面图；图3为本技术实施例所公开的一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具宽度检测块示意图，其中图3a为宽检块A ;图3b为宽检块B ;图4为本技术实施例所公开的一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具长度检测块示意图，其中图4a为主视图，图4b为俯视图；图5为本技术实施例所公开的一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具检测底座不意图；图6为本技术实施例所公开的一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具尚度检测块不意图，其中图6a为尚检块A，图6b为尚检块B。图中数字和字母所表示的相应部件名称:1.长度检测块 2.长检槽A 3.长检槽B 4.宽检块A5.宽检块B6.高检块A 7.高检块B 8.检测底座9.手环上盖10.定位螺孔【具体实施方式】下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。根据图1、图2、图3和图4，本技术提供了一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具，包括长度检测块当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种手环上盖表面阳极氧化处理形位检测治具，简称形位检具；其特征在于，包括长度检测块、长检槽A、长检槽B、宽检块A、宽检块B、高检块A、高检块B、检测底座、手环上盖、定位螺孔；所述形位检具包括长度检测块、宽度检测块、高度检测块、检测底座；所述形位检具为硬质合金材料通过高精度加工制造的矩形体，所述长度检测块上同向设置有长检槽A和长检槽B，所述长检槽A的长度设置为手环上盖的上限长度，所述长检槽B的长度设置为手环上盖的下限长度；所述宽度检测块为硬质合金材料通过高精度加工制造，所述宽度检测块为矩形板，包括宽检块A和宽检块B，所述宽检块A和宽检块B其下侧加工有槽口，所述槽口将所述宽检块A和宽检块B分为左入块和右入块，所述左入块的宽度为手环上盖的下限宽度尺寸，所述右入块的宽度为手环上盖的上限宽度尺寸；所述宽检块A为一倍公差检测块，所述宽检块B为二倍公差检测块；所述高度检测块为硬质合金材料通过高精度加工制造的矩形板，其下侧面开设有矩形槽口，所述高度检测块包括高检块A和高检块B，所述高检块A和高检块B的矩形槽口二侧设置有定位螺孔；所述高度检测块与检测底座配合使用，检测底座中部对称设置有定位螺孔，所述定位螺孔与所述高检块A和高检块B上的定位螺孔位置、尺寸匹配设置；所述高检块A和高检块B通过螺栓与所述检测底座固定连接；所述高检块A的矩形槽口高度设置为手环上盖高度的上限尺寸；所述高检块B的矩形槽口高度设置为手环上盖高度的下限尺寸。...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：彭爱兵，
申请(专利权)人：苏州道蒙恩电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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