一种用于光缆的壁厚测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于光缆的壁厚测量仪，涉及光缆的壁厚测量领域。该壁厚测量仪包括百分表，百分表包括表体、百分表测杆头和挡帽；壁厚测量仪还包括支撑座，支撑座包括底座、顶板和支撑杆，顶板通过支撑杆与底座固定；所述百分表设置于顶板的顶部，百分表测杆头穿过顶板；顶板的底部设置有测量块，测量块与百分表测杆头相对的一侧设置有测量针头，测量针头位于百分表测杆头的下方；百分表测杆头的中轴线和测量针头的轴向中心线位于同一平面。本实用新型专利技术不仅测量精度较高，测量误差较小；而且能够准确测量光纤套管的壁厚、以及管壁厚是否均匀，光纤套管是否偏心等，便于推广。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光缆的壁厚测量领域，具体涉及一种用于光缆的壁厚测量仪。
技术介绍
随着光通信和接入网的发展，以及三网融合的推进，光缆已经广泛应用于社会之中。光缆的设计工艺和制造工艺的不断成熟，光缆的生产厂家为了降低光缆的生产成本，将光缆的光纤套管外径和壁厚逐渐变薄。为了保证光缆的质量，光缆的光纤套管的外径尺寸、壁厚尺寸、壁厚均匀和光纤套管的偏心程度均需要完全符合设计要求。目前，测量光缆的光纤套管的外径时，一般采用在线测量、并将光纤套管的外径实时显示在生产线控制面板上；测量光纤套管的壁厚时，一般先测量光纤套管的孔径(内径)和外径，然后根据孔径和内径计算得到光纤套管的壁厚。但是，现有测量光纤套管的壁厚方法存在以下缺陷:由于光纤套管的内孔和外径均较小(内孔的孔径一般为1.0mm?5.0mm)，因此测量较小的孔径和外径的测量精度较低，根据孔径和内径计算的光纤套管的壁厚的测量误差较大。与此同时，测量内孔和外径不能得到光纤套管的各点壁厚是否均匀、以及光纤套管的偏心情况，进而无法满足设计要求，难以推广。
技术实现思路
针对现有技术中存在的缺陷，本技术的目的在于提供一种用于光缆的壁厚测量仪，不仅测量精度较高，测量误差较小；而且能够准确测量光纤套管的壁厚、以及管壁厚是否均匀，光纤套管是否偏心等，便于推广。为达到以上目的，本技术采取的技术方案是:一种用于光缆的壁厚测量仪，包括百分表，所述百分表包括表体，表体的底部设置有百分表测杆头，表体的顶部设置有用于控制百分表测杆头移动的挡帽；所述壁厚测量仪还包括支撑座，支撑座包括横向设置的底座和顶板、以及纵向设置的支撑杆，所述顶板通过支撑杆与底座固定；所述百分表设置于顶板的顶部，所述百分表测杆头穿过顶板；顶板的底部设置有测量块，测量块与百分表测杆头相对的一侧设置有测量针头，测量针头位于百分表测杆头的下方；百分表测杆头的中轴线和测量针头的轴向中心线位于同一平面。在上述技术方案的基础上，所述测量块与百分表测杆头相对的一侧还设置有保护针头，保护针头与百分表测杆头的底部接触，百分表测杆头的中轴线、保护针头的轴向中心线、测量针头的轴向中心线位于同一平面。在上述技术方案的基础上，所述保护针头为圆柱形，其直径为1.2?2.0mm。在上述技术方案的基础上，所述保护针头的直径为1.5mm。在上述技术方案的基础上，所述保护针头通过螺丝与测量块固定。在上述技术方案的基础上，所述测量针头为圆柱形，其直径为0.6?1mm。在上述技术方案的基础上，所述测量针头的直径为0.8mm。在上述技术方案的基础上，所述测量针头通过螺丝与测量块固定。与现有技术相比，本技术的优点在于:(I)本技术能够通过支撑座、支撑座顶部的百分表、百分表下方的测量针头，直接测量光纤套管不同位置的壁厚，根据光纤套管不同位置的壁厚计算得到光纤套管的壁厚是否均匀、光纤套管是否偏心。与现有技术中根据孔径和内径计算光纤套管的壁厚相比，本专利技术能够直接得到光纤套管的壁厚，测量精度较高(百分表的测量精度能够达到0.0lmm)，测量误差较小；而且本专利技术能够测量光纤套管的壁厚是否均匀，光纤套管是否偏心。光缆生产人员能够根据本专利技术的测量结果对光缆进行调整，进而保证生产的光纤套管的尺寸满足设计要求。(2)本专利技术能够适用于多种室内光缆(如单芯缆、分支缆、束状缆等护套层壁厚的光缆)，便于推广。【附图说明】图1为本技术实施例中用于光缆的壁厚测量仪的结构示意图；图2为本技术实施例中测量光纤套管壁厚的构示意图。图中:1_百分表，2-百分表测杆头，3-保护针头，4-测量针头，5-测量块，6-底座，7-顶板，8-支撑杆，9-光纤测量套管。【具体实施方式】以下结合附图对本技术的实施例作进一步详细说明。参见图1所示，本技术实施例中的用于光缆的壁厚测量仪，包括支撑座，支撑座包括横向设置的底座6和顶板7、以及纵向设置的支撑杆8，顶板7通过支撑杆8与底座6固定。顶板7的顶部设置有百分表1，百分表I包括表体，表体的底部设置有穿过顶板7的百分表测杆头2，表体的顶部设置有用于控制百分表测杆头2移动的挡帽。顶板7的底部设置有测量块5，测量块5与百分表测杆头2相对的一侧设置有保护针头3和测量针头4，保护针头3和测量针头4均通过螺丝与测量块5固定。保护针头3与百分表测杆头2的底部接触，测量针头4位于百分表测杆头2的下方；百分表测杆头2的中轴线，保护针头3的轴向中心线、测量针头4的轴向中心线位于同一平面。保护针头3和测量针头4均为圆柱形，保护针头3的直径为1.2?2.0mm (优选为1.5mm)，测量针头4的直径为0.6?Imm(优选为0.8mm)。本技术的使用过程如下:(I)将安装有百分表1、保护针头3和测量针头4的支撑座，水平放置于操作台上，将需要测量的光纤测量套管9插在测量针头4上，光纤测量套管9的内壁与测量针头4接触。(2)拆卸保护针头3，通过百分表I的挡帽调整百分表测杆头2的位置，使得百分表测杆头2与光纤测量套管9的外壁接触，此时百分表I的表体的读数即为光纤测量套管9壁厚。(3)在测量针头4上转动光纤测量套管9，测量不同位置的壁厚。本技术不仅局限于上述最佳实施方式，任何人在本技术的启示下都可得出其他各种形式的产品，但不论在其形状或结构上作任何变化，凡是具有与本技术相同或相近似的技术方案，均在其保护范围之内。【主权项】1.一种用于光缆的壁厚测量仪，包括百分表(I)，所述百分表(I)包括表体，表体的底部设置有百分表测杆头(2)，表体的顶部设置有用于控制百分表测杆头(2)移动的挡帽；其特征在于:所述壁厚测量仪还包括支撑座，支撑座包括横向设置的底座(6)和顶板(7)、以及纵向设置的支撑杆(8)，所述顶板(7)通过支撑杆(8)与底座￠)固定；所述百分表(I)设置于顶板(7)的顶部，所述百分表测杆头(2)穿过顶板(7); 顶板(7)的底部设置有测量块(5)，测量块(5)与百分表测杆头(2)相对的一侧设置有测量针头(4)，测量针头(4)位于百分表测杆头(2)的下方；百分表测杆头(2)的中轴线和测量针头(4)的轴向中心线位于同一平面。2.如权利要求1所述的用于光缆的壁厚测量仪，其特征在于:所述测量块(5)与百分表测杆头⑵相对的一侧还设置有保护针头(3)，保护针头(3)与百分表测杆头(2)的底部接触；百分表测杆头(2)的中轴线、保护针头(3)的轴向中心线、测量针头(4)的轴向中心线位于同一平面。3.如权利要求2所述的用于光缆的壁厚测量仪，其特征在于:所述保护针头(3)为圆柱形，其直径为1.2?2.0mm。4.如权利要求3所述的用于光缆的壁厚测量仪，其特征在于:所述保护针头(3)的直径为1.5mm。5.如权利要求2所述的用于光缆的壁厚测量仪，其特征在于:所述保护针头(3)通过螺丝与测量块(5)固定。6.如权利要求1至5任一项所述的用于光缆的壁厚测量仪，其特征在于:所述测量针头⑷为圆柱形，其直径为0.6?Imm07.如权利要求6所述的用于光缆的壁厚测量仪，其特征在于:所述测量针头(4)的直径为0.8_。8.如权利要求1至5任一项所述的用于光缆的壁厚测量仪，其特征在于:所述测量针头(4)通过螺丝与测量块(5)固定。【专利摘要】本技术公开了本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光缆的壁厚测量仪，包括百分表(1)，所述百分表(1)包括表体，表体的底部设置有百分表测杆头(2)，表体的顶部设置有用于控制百分表测杆头(2)移动的挡帽；其特征在于：所述壁厚测量仪还包括支撑座，支撑座包括横向设置的底座(6)和顶板(7)、以及纵向设置的支撑杆(8)，所述顶板(7)通过支撑杆(8)与底座(6)固定；所述百分表(1)设置于顶板(7)的顶部，所述百分表测杆头(2)穿过顶板(7)；顶板(7)的底部设置有测量块(5)，测量块(5)与百分表测杆头(2)相对的一侧设置有测量针头(4)，测量针头(4)位于百分表测杆头(2)的下方；百分表测杆头(2)的中轴线和测量针头(4)的轴向中心线位于同一平面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴忠明，王珑，张刚，沈家明，
申请(专利权)人：烽火通信科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42