一种LED芯粒的筛选方法技术

本发明专利技术公开了一种LED芯粒的筛选方法，特别适用于筛除在光电参数测试后的加工过程中（包括衬底减薄、晶圆切割以及自动分选等）所产生的正向漏电不良的LED芯粒。它通过激发光源和激发滤光片获得固定波段的激发光照射在待测LED芯粒上，然后通过阻断滤光片和光学显微镜观察分析LED芯粒的荧光图像的强度和颜色分布，正常LED芯粒和正向漏电流不良LED芯粒会出现不同的荧光强度和颜色差异，从而可筛除不合格LED的芯粒。这种方法直观、方便、分辨率高、成本低，且无需接触LED芯粒，不会造成芯粒的二次损伤。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种LED芯粒的筛选方法，其特征在于：先通过激发光源发出激发光，在后续光路中置有激发滤光片，激发滤光片过滤激发光以获得固定波段的激发光，再将该激发光照射在待测的LED芯粒上来激发LED芯粒，然后通过LED芯粒正上方的阻断滤光片和光学显微镜观察LED芯粒的荧光图像，即可得正向漏电合格的LED芯粒，筛除正向漏电不合格LED芯粒；向漏电合格即当LED芯粒电极两端的电压为1.8V时，正向电流小于1uA；反之，则正向漏电不合格。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘军林，陶喜霞，江风益，
申请(专利权)人：南昌大学，南昌黄绿照明有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36