一种太赫兹混频器的准光测试系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及到太赫兹测试领域，涉及一种太赫兹混频器的噪声温度和变频损耗的准光测试系统和测试方法。该系统包括太赫兹噪声信号源、本振链路、分束器、太赫兹准光透镜、BLAS偏置、中频链路和功率计。本发明专利技术采用太赫兹准光透镜作为太赫兹混频器的聚束装置，提高了太赫兹混频器的探测灵敏度，有效地解决了太赫兹噪声信号微弱，难以检测的问题；本发明专利技术采用高温黑体源作为太赫兹噪声信号源，增加了太赫兹噪声信号源的温度变化范围，有效的扩大了测试系统的噪声温度的测试范围；本发明专利技术采用两级低噪声放大器，增大了中频信号的放大倍数，有效的提升力测试系统的整体增益，解决的中频信号微弱，易被噪声淹没的问题。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种太赫兹混频器的噪声温度和变频损耗准光测试系统，其特征在于：该系统包括太赫兹噪声信号源、本振链路、分束器、太赫兹准光透镜、BLAS偏置、中频链路和功率计；BLAS偏置用于太赫兹混频器的供电；本振链路包括倍频链路和微波信号源；中频链路包括第一级低噪声放大器、第二级低噪声放大器和带通滤波器；所述的太赫兹混频器的频段为335GHz‑345GHz；太赫兹噪声信号源发射太赫兹噪声信号，太赫兹噪声信号透过分束器的部分依次进入太赫兹准光透镜和太赫兹混频器；微波信号源发射微波信号，微波信号经过倍频链路倍频到太赫兹频段后形成本振信号，本振信号经过分束器反射的部分依次进入太赫兹准光透镜和太赫兹混频器；进入到太赫兹混频器的太赫兹噪声信号与本振信号进行混频，混频后得到中频信号，得到的中频信号再依次经过第一级低噪声放大器、第二级噪声放大器、带通滤波器和功率计。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：司黎明，于伟华，薄淑华，郭大路，吕昕，李明迅，马朝晖，乔海东，王宝嵩，唐贞，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：北京;11