便于测试的电子装置及测试方法制造方法及图纸

技术编号:11487955 阅读:69 留言:0更新日期:2015-05-21 07:31
一种测试方法,包括步骤:在主板测试阶段时接收扫描输入的序列号、类别号、物理地址在内的扫描信息,而将主板烧录信息与该扫描信息关联存储而烧录至主板;将该扫描信息烧录至该主板的接口对应连接的存储器中;以及在后续测试阶段中从该存储器中读取该扫描信息,而进行后续测试阶段的测试。本发明专利技术还提供一种便于测试的电子装置。本发明专利技术的电子装置及测试方法,无需打开电子装置的外壳进行重新扫描,即可进行后续阶段的测试,便于出厂时的测试。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种便于测试的电子装置,包括一主板以及一处理器,其特征在于,该主板包括一接口用于连接一存储器;该处理器用于在主板测试阶段时接收扫描输入的序列号、类别号、物理地址在内的扫描信息,而将当前测试阶段的包括DMI信息、VPD信息的主板烧录信息与该扫描信息关联存储而烧录至该主板中,同时,该处理器还用于将该扫描信息烧录至该主板的接口对应连接的存储器中;该处理器并在后续测试阶段从该存储器中读取该扫描信息,而进行后续测试阶段的测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:钟阳
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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