【技术实现步骤摘要】
一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法和装置
本专利技术涉及计量仪表领域,特别是一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法和装置。
技术介绍
计量是一款仪表的重要组成部分,如果计量芯片发生错误,仪表的计量功能就受到影响,可能直接导致用户和供货商之间的法律纠纷。而检测计量芯片错误和纠错是仪表必不可少的部分。通常,与计量芯片通讯的通讯接口在环境中容易受到各种环境干扰,导致从计量芯片读取回来的校表参数校验和寄存器的值是错误的,如果这个时候去复位初始化计量芯片就可能造成本来正常运行的计量芯片间断工作,从而计量测试就不准确。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于克服现有技术中的上述缺陷,提出一种能有效可靠的检测计量芯片错误并进行纠错处理的计量芯片抗干扰检测及纠错方法和装置。本专利技术采用如下技术方案:一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法,应用于内设有校表参数校验和寄存器的计量芯片,该计量芯片在校表完成时对该校表参数校验和寄存器的值进行备份,其特征在于:包括如下步骤:1)读取校表参数校验和寄存器的值,并与备份的值进行比较,若相等,则不作处理,若不相等,则进入步骤2);2)再次读取校表参数校验和寄存器的值,与备份的值进行比较,若相等,则不作处理,若不相等,则进入步骤3);3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较,若相等,则复位该计量芯片,若不相等,则不作处理。优选的,所述计量芯片为ATT7053B计量芯片。一种计量芯片抗干扰检测及纠错装置,其特征在于:包括读取装置,用于读取校表参数校验和寄存器的值;比较装置,用于比较读取到的校表参数校验和寄存器的值与备份的值是否相等,并在不等时控制 ...
【技术保护点】
一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法,应用于内设有校表参数校验和寄存器的计量芯片,该计量芯片在校表完成时对该校表参数校验和寄存器的值进行备份,其特征在于:包括如下步骤:1)读取校表参数校验和寄存器的值,并与备份的值进行比较,若相等,则不作处理,若不相等,则进入步骤2);2)再次读取校表参数校验和寄存器的值,与备份的值进行比较,若相等,则不作处理,若不相等,则进入步骤3);3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较,若相等,则复位该计量芯片,若不相等,则不作处理。
【技术特征摘要】
1.一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法,应用于内设有校表参数校验和寄存器的计量芯片,该计量芯片在校表完成时对该校表参数校验和寄存器的值进行备份,其特征在于:包括如下步骤:1)读取校表参数校验和寄存器的值,并与备份的值进行比较,若相等,则不作处理,若不相等,则进入步骤2);2)再次读取校表参数校验和寄存器的值,与备份的值进行比较,若相等,则不作处理,若不相等,则进入步骤3);3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较,若相等,则复位该计量芯片,若不相等,则不作处理。2.如权利要求1所述的一种计量芯片抗干扰检测及纠...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵伟,骆贵泉,
申请(专利权)人:漳州科能电器有限公司,
类型:发明
国别省市:福建;35
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