分光装置以及磁测定装置制造方法及图纸

技术编号:11479056 阅读:59 留言:0更新日期:2015-05-20 10:01
本发明专利技术提供一种分光装置,其使分支的光的光量变得比较均匀。分光装置具有:导光体,其具有对入射的光进行反射的第一面以及第二面,使所述光在所述第一面与第二面之间传播;分光膜,其设于所述导光体的内部,具有使所述光反射的特性与使所述光透过的特性;以及多个光取出部,其设于所述第一面,使在所述分光膜处透过的光射出。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种分光装置,其中,该分光装置具有:导光体,其具有对入射的光进行反射的第一面以及第二面,使所述光在所述第一面与第二面之间传播;分光膜,其设于所述导光体的内部,具有使所述光反射的特性与使所述光透过的特性;以及多个光取出部,其设于所述第一面,使在所述分光膜处透过的光射出。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:长坂公夫
申请(专利权)人:精工爱普生株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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