【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种闪存存储单元的制备方法，其特征在于，所述制备方法至少包括以下步骤：1）提供一自下而上依次形成有隧穿氧化材料层、浮栅材料层、第一硬掩膜、第二硬掩膜及光刻胶的半导体衬底，去除部分所述光刻胶直至暴露所述第二硬掩膜，以形成包括至少一个条状结构的光刻胶；2）以所述光刻胶为阻挡层，依次刻蚀所述第二硬掩膜及第一硬掩膜，而后去除所述第二硬掩膜，以形成包括至少一个条状结构的第一硬掩膜；3）在所述条状结构的第一硬掩膜两侧形成侧墙结构，而后去除所述第一硬掩膜并保留所述侧墙结构，以使所述浮栅材料层上形成有偶数个侧墙结构；4）以所述侧墙结构为阻挡层刻蚀部分所述浮栅材料层至第一深度，而后去除所述侧墙结构，以形成具有偶数个凸起结构的浮栅材料层；5）在所述浮栅材料层上自下而上依次形成第一硬掩膜及光刻胶，制备隔离结构将所述半导体衬底隔离出有源区，去除部分所述隔离结构直至暴露具有偶数个凸起结构的浮栅，而后去除所述第一硬掩膜，其中，所述有源区表面自下而上依次形成有隧穿氧化层、具有偶数个凸起结构的浮栅及第一硬掩膜；6）在所述步骤5）获得的结构表面形成阻挡氧化层及控制栅。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王成诚，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。