本发明专利技术提供了一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法，其中装置包括：全漫反射元件，用于按照预设角度将太阳光漫反射至光学辐射测量仪中；遮光元件设置于预定位置时能遮挡照射全漫反射元件的太阳光；光学辐射测量仪，用于测量全漫反射元件，获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据，和不含全漫反射太阳光的第二响应数据；计算单元，用于计算第一响应数据和第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。本发明专利技术的目的在于准确获知太阳与测量装置形成的测量路径上，光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。
【技术实现步骤摘要】
基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法
本专利技术涉及光学辐射测量和大气测量领域，具体而言，涉及一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法。
技术介绍
利用光学辐射测量仪进行光学测量是常用的测量手段。光学辐射测量仪对距离较远的目标进行可见光光度和红外辐射测量时，需要知道测量路径上光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率，以修正大气对被测目标辐射的衰减作用。现有技术中，通常通过辅助大气参数测量设备获取大气光学参数，再将获取到的大气光学参数输入到大气传输计算软件中，大气传输计算软件通过复杂的计算得到光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率。由于现有技术中计算大气透过率的参数为间接获取，限于大气参数测量设备获取大气参数的完整性和准确性，以及其它直接获取大气透过率的设备，其工作波段与光学辐射测量仪的响应谱段不一致等原因，利用现有技术获得的用于光学辐射测量仪修正被测目标辐射的大气透过率，其可信度需验证、其数据仍需要进一步修正。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法，以准确获知太阳与测量装置形成的测量路径上，光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。为达到上述目的，本专利技术实施例提供了一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置，包括全漫反射元件、光学辐射测量仪，遮光元件和计算单元：所述全漫反射元件，用于按照预设角度将太阳光漫反射至所述光学辐射测量仪中；所述遮光元件设置于预定位置时能遮挡照射所述全漫反射元件的太阳光；所述光学辐射测量仪，用于测量所述全漫反射元件，获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据，和不含所述全漫反射太阳光的第二响应数据；计算单元，用于计算所述第一响应数据和所述第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的所述全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。优选地，在上述装置中，还包括：校正单元，用于根据所述当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率，得到其它路径的所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率的修正系数。优选地，在上述装置中，所述全漫反射元件的漫反射波段覆盖所述光学辐射测量仪的响应波段。优选地，在上述装置中，所述全漫反射元件通过连接杆与所述光学辐射测量仪连接。优选地，在上述装置中，所述遮光元件活动设置于所述光学辐射测量仪的镜筒表面。本专利技术还提供了一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的方法，包括：通过全漫反射元件按照预设角度将太阳光漫反射至光学辐射测量仪中；通过所述光学辐射测量仪测量所述全漫反射元件，获得含有全漫反射太阳光的第一响应数据；遮挡照射所述全漫反射元件的太阳光，通过所述光学辐射测量仪测量所述全漫反射元件，获得不含所述全漫反射太阳光的第二响应数据；计算所述第一响应数据和所述第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的所述全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。优选地，在上述方法中，还包括：根据所述当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率，得到其他路径的所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率的修正系数。优选地，在上述方法中，所述全漫反射元件的漫反射波段覆盖所述光学辐射测量仪的响应波段。优选地，在上述方法中，所述预设角度包括当前测量路径下观测太阳的角度。优选地，在上述方法中，所述当前测量路径为太阳照射所述全漫反射元件的路径。可见，本专利技术实施例中，利用全漫反射元件、光学辐射测量仪、遮光元件的配合使用，按照预设角度测量，根据光辐射叠加原理，能够得到全漫反射太阳光的响应数据，即响应差；在预先获知全漫反射太阳光在大气层外的响应数据时，通过计算单元能够计算得到当前测量路径下的整层大气透过率。由于全漫反射元件能够将太阳光漫反射至光学辐射测量仪中，并满足光学辐射测量仪的响应谱段要求，因此得到的大气透过率是光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。因此通过本专利技术实施例中的装置能够准确获知当前测量路径下光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率，达到了准确获知太阳与测量装置形成的测量路径上，光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率的目的。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术第一实施例提供的基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置的一种结构示意图；图2为本专利技术第一实施例提供的基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置的另一种结构示意图；图3为本专利技术第一实施例提供的基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置的又一种结构示意及测量原理图；图4为本专利技术第二实施例提供的基于光学辐射测量仪测量大气透过率的方法的一种流程示意图；图5为本专利技术第二实施例提供的基于光学辐射测量仪测量大气透过率的方法的另一种流程示意图。附图标记：11-凸面全漫反射元件，12-连接杆，13-光学辐射测量仪镜筒，14-光学系统轴线，15-太阳光，16-光学系统，17-探测器，18-遮挡板，19-整层大气。具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。针对现有技术获得的用于光学辐射测量仪修正被测目标辐射的大气透过率，其可信度仍需验证、其数据仍需要进一步修正的问题，本专利技术实施例提供了一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置。图1为本专利技术第一实施例提供的基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置的一种结构示意图。图1中，双条虚线表示光传播关系，单条实线表示连接关系。如图1所示，一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置100，包括全漫反射元件110、光学辐射测量仪130，遮光元件120和计算单元140。全漫反射元件110，用于按照预设角度将太阳光漫反射至光学辐射测量仪130中。遮光元件120设置于预定位置时能遮挡照射全漫反射元件110的太阳光。光学辐射测量仪130，用于测量全漫反射元件110，获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据，和不含全漫反射太阳光的第二响应数据。计算单元140，用于计算第一响应数据和第二响应数据的响应差，根据响应差和预先获知的全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下光学辐射测量仪130响应谱段的整层大气透过率。可见，本专利技术实施例中，利用全漫反射元件110本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置，其特征在于，包括全漫反射元件、光学辐射测量仪，遮光元件和计算单元：所述全漫反射元件，用于按照预设角度将太阳光漫反射至所述光学辐射测量仪中；所述遮光元件设置于预定位置时能遮挡照射所述全漫反射元件的太阳光；所述光学辐射测量仪，用于测量所述全漫反射元件，获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据，和不含所述全漫反射太阳光的第二响应数据；计算单元，用于计算所述第一响应数据和所述第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的所述全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。
【技术特征摘要】
1.一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置，其特征在于，包括全漫反射元件、光学辐射测量仪，遮光元件和计算单元：所述全漫反射元件，用于按照预设角度将太阳光漫反射至所述光学辐射测量仪中；所述遮光元件设置于预定位置时能遮挡照射所述全漫反射元件的太阳光；所述光学辐射测量仪，用于测量所述全漫反射元件反射的光线，获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据，和不含所述全漫反射太阳光的第二响应数据；计算单元，用于计算所述第一响应数据和所述第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的所述全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：校正单元，用于根据所述当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率，得到其它路径的所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率的修正系数。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述全漫反射元件的漫反射波段覆盖所述光学辐射测量仪的响应波段。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述全漫反射元件通过连接杆与所述光学辐射测量仪连接。5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述遮光元件...
【专利技术属性】
技术研发人员：姜志富，李满良，左亚林，吴亚丽，马峰，孟凡胜，杜芳，麻纪庵，王琳，郭毅，
申请(专利权)人：姜志富，
类型：发明
国别省市：甘肃;62
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