一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统技术方案

技术编号:11468232 阅读:61 留言:0更新日期:2015-05-18 00:50
本发明专利技术提供了一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,其特征在于:将一段细芯光纤熔接于由泵浦激光器、波分复用器、掺铒光纤、光隔离器、1*2型光纤耦合器和偏振控制器组成的光纤环形激光器谐振腔内。细芯光纤一方面起到弯曲传感的作用,另一方面作为光学滤波器。应用时,将细芯光纤粘附于待测物体表面,利用光纤光谱仪测量光纤环形激光器的输出激光中心波长,即可测定待测物体的弯曲程度。本发明专利技术利用激光谐振腔的选模特性,具有探测信号强、信噪比高、线宽窄、灵敏度高和温度不敏感的特点,可应用于各类实际工程中。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统
本专利技术提供了一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,属于光纤传感

技术介绍
光纤弯曲传感器较之传统的弯曲传感器,具有抗电磁干扰能力强、耐腐蚀、质量轻、体积小和易于远程监测等优点,可用于监测桥梁的弯曲形变、道路的路基沉降和铁路轨道的弯曲变形等,也可用于监测一些高精度的仪器设备和重要建筑结构的弯曲变形等,有着广泛的应用。现有的光纤弯曲传感器主要包括两种:光强调制型和波长调制型。前者,对光源的光强稳定性要求较高,通常需采用参考光路的方式来补偿光源不稳定因素的影响,而这必然增加了系统的复杂性;后者通过检测特定输出光波长的变化解调待测物体的弯曲程度,降低了对光源光强稳定性的要求,具有测量系统稳定、重复性好的优势。进一步,目前波长调制型光纤弯曲传感器主要有光纤光栅型和光纤干涉仪型。光纤光栅传感器基于布拉格波长随被测物体弯曲程度而发生漂移,具有较大的测量范围,广泛应用于结构的健康检测。但是,光纤光栅的制备需使用紫外激光于载氢光纤刻写技术,其设备复杂而昂贵,且布拉格波长的漂移易受环境温度的影响,从而给测量带来误差。光纤干涉仪型弯曲传感器,包括马赫-曾德干涉仪、迈克逊干涉仪和法布里-珀罗干涉仪等,具有结构紧凑、制备简单、成本低的优点,成为近来研究的热点。利用光的相长或相消干涉,通过测量输出光光谱中谐振峰中心波长的变化从而确定被测物体的弯曲程度。由于它们通常使用宽带光源,因此探测信号,即输出光谱中特定的谐振峰,对应的光强很弱。另一方面,干涉仪输出的干涉谱对比度较低,通常为3-20dB,且谐振峰的3dB带宽(FWHM)较大,约几纳米到几十纳米,从而很难准确地确定谐振峰的中心波长,导致被测物体弯曲程度测量误差较大。同时,这些光纤干涉仪往往对环境温度较为敏感,这也一定程度上增大了弯曲测量的误差。将一个单模-细芯-单模结构的光纤干涉仪连接于光纤环形激光器的谐振腔光路中,构成一个基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统。该光纤干涉仪一方面起到弯曲传感的作用,一方面作为光学滤波器,从而使得激光器输出激光的中心波长受弯曲的调制。通过测量激光器输出激光的中心波长即可获得被测物体的弯曲程度。激光器输出激光具有光强大、超窄线宽的特性,为其中心波长的准确确定提供了保证。另一方面,由于单模-细芯-单模结构的光纤干涉仪长度远小于激光谐振腔的长度,因此该弯曲传感测量系统几乎不受光纤干涉仪温度的影响,具有温度不敏感的优点。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,克服现有光纤弯曲传感器存在的探测信号弱、带宽较大,且易受环境温度影响的缺点,通过测量输出激光的中心波长,从而准确地获得被测物体的弯曲程度。该系统具有探测信号强、信噪比高、线宽窄、灵敏度高和温度不敏感的特点。本专利技术通过以下技术方案实现:一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,其特征在于:该系统由泵浦激光器(1)、波分复用器(2)、掺铒光纤(3)、光隔离器(4)、1*2型光纤耦合器(5)、细芯光纤(6)、光纤光谱仪(7)、偏振控制器(8)和连接光纤(9)组成。其中,波分复用器(2)一边的两个端口分别经连接光纤(9)与泵浦激光器(1)以及掺铒光纤(3)相连接,波分复用器(2)另一边的一个端口经连接光纤(9)与偏振控制器(8)的一端相连接;掺铒光纤(3)的另一端与光隔离器(4)的一端相连接,光隔离器(4)的另一端经连接光纤(9)与1*2型光纤耦合器(5)的独立端相连,而1*2型光纤分束器(5)的另一边的两个端口分别经连接光纤(9)与细芯光纤(6)和光纤光谱仪(7)相连;细芯光纤(6)的另一端经连接光纤(9)与偏振控制器(8)的另一端相连接。所述的一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,其特征在于:泵浦激光器(1)的输出波长可为980nm和1480nm,对应波分复用器(2)可采用980/1550nm和1480/1550nm型光纤波分复用器;掺铒光纤(3)的长度为1-10m。所述的一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,其特征在于:光隔离器(4)为1550nm光纤光隔离器。所述的一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,其特征在于:1*2型光纤耦合器(5)的分光比值较小的一端经连接光纤(9)与光纤光谱仪(7)相连,其分光比值大的一端经连接光纤(9)与细芯光纤(6)相连。所述的一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,其特征在于:细芯光纤(6)的芯径为2-4μm,长度为5-200mm;连接光纤(9)可采用G.652、G.653和G.655单模光纤。本专利技术的工作原理是:参见附图1,波分复用器(2)、掺铒光纤(3)、光隔离器(4)、1*2型光纤耦合器(5)、细芯光纤(6)、偏振控制器(8)和若干连接光纤(9)构成光纤环形激光器的谐振腔。腔内掺铒光纤(3)充当激光工作物质,隔离器(4)只允许腔内光朝一个方向传输,1*2型光纤耦合器的分光比较小的一端作为激光器的输出端。泵浦激光器(1)输出的激光经波分复用器(2)耦合进激光谐振腔,泵浦激光工作物质(3),产生C波段激光。细芯光纤(6)与两端相连的连接光纤(9)构成单模-细芯-单模结构的光纤干涉仪。从而使得光纤环形激光器输出激光的中心波长受弯曲的调制。通过测量激光器输出激光的中心波长即可获得被测物体的弯曲程度。本专利技术的有益效果是:将一个单模-细芯-单模结构的光纤干涉仪连接于光纤环形激光器的谐振腔光路中,构成一个基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统。该光纤干涉仪一方面起到弯曲传感的作用,一方面作为光学滤波器,从而使得激光器输出激光的中心波长受弯曲的调制。通过测量激光器输出激光的中心波长即可获得被测物体的弯曲程度。激光器输出激光具有光强大和超窄线宽的特性,有利于其中心波长的准确测定,即为准确测量被测物体的弯曲程度提供了保证。另一方面,由于单模-细芯-单模结构的光纤干涉仪长度远小于激光谐振腔的长度,因此该弯曲传感测量系统几乎不受光纤干涉仪温度的影响,即该弯曲传感测量系统具有温度不敏感的优点。附图说明图1是本专利技术的基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统示意图;图2是本专利技术的典型输出激光光谱图;图3是本专利技术的不同弯曲程度的输出激光光谱图;图4是本专利技术的不同弯曲程度的输出激光中心波长图。图5是本专利技术的不同温度的输出激光光谱图。图6是本专利技术的不同温度的输出激光中心波长图。具体实施方式下面结合附图及实施实例对本专利技术作进一步描述:参见附图1,一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,由泵浦激光器(1)、波分复用器(2)、掺铒光纤(3)、光隔离器(4)、1*2型光纤耦合器(5)、细芯光纤(6)、光纤光谱仪(7)、偏振控制器(8)和连接光纤(9)组成。其中,波分复用器(2)一边的两个端口分别经连接光纤(9)与泵浦激光器(1)以及掺铒光纤(3)相连接,波分复用器(2)另一边的一个端口经连接光纤(9)与偏振控制器(8)的一端相连接;掺铒光纤(3)的另一端与光隔离器(4)的一端相连接,光隔离器(4)的另一端经连接光纤(9)与1*2型光纤耦合器(5)的独立端相连,而1*2型光纤分束器(5)的另一边的两个端口分别经连接光纤(9)与细芯光纤(6)和光纤光谱仪(7)相连;细芯光纤(6)的另一端经连接光纤本文档来自技高网
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一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统

【技术保护点】
一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,其特征在于:该系统由泵浦激光器(1)、波分复用器(2)、掺铒光纤(3)、光隔离器(4)、1*2型光纤耦合器(5)、细芯光纤(6)、光纤光谱仪(7)、偏振控制器(8)和连接光纤(9)组成;其中,波分复用器(2)一边的两个端口分别经连接光纤(9)与泵浦激光器(1)以及掺铒光纤(3)相连接,波分复用器(2)另一边的一个端口经连接光纤(9)与偏振控制器(8)的一端相连接;掺铒光纤(3)的另一端与光隔离器(4)的一端相连接,光隔离器(4)的另一端经连接光纤(9)与1*2型光纤耦合器(5)的独立端相连,而1*2型光纤分束器(5)的另一边的两个端口分别经连接光纤(9)与细芯光纤(6)和光纤光谱仪(7)相连;细芯光纤(6)的另一端经连接光纤(9)与偏振控制器(8)的另一端相连接。

【技术特征摘要】
1.一种基于光纤环形激光器的弯曲传感测量系统,该系统由泵浦激光器(1)、波分复用器(2)、掺铒光纤(3)、光隔离器(4)、1*2型光纤耦合器(5)、细芯光纤(6)、光纤光谱仪(7)、偏振控制器(8)和连接光纤(9)组成;其中,波分复用器(2)一边的两个端口分别经连接光纤(9)与泵浦激光器(1)以及掺铒光纤(3)相连接,波分复用器(2)另一边的一个端口经连接光纤(9)与偏振控制器(8)的一端相连接;掺铒光纤(3)的另一端与光隔离器(4)的一端相连接,光隔离器(4)的另一端经连接光纤(9)与1*2型光纤耦合器(5)的独立端相连,其特征在于:1*2型光纤耦合器(5)的分光比值较小的一端经连接光纤(9)与光纤光谱仪(7)相连,其分光比值大的一端经连接光纤(9)与细芯...

【专利技术属性】
技术研发人员:王东宁徐贲熊辉龚华平倪凯刘红林陈慧芳
申请(专利权)人:中国计量学院
类型:发明
国别省市:浙江;33

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