用于光掩模刻蚀的终点检测制造技术

技术编号:11457073 阅读:98 留言:0更新日期:2015-05-14 14:12
本发明专利技术提供了用于光掩模刻蚀的终点检测的装置和方法。该装置提供具有衬底支撑构件的等离子体刻蚀腔室。该衬底支撑构件具有用于终点检测的在其中设置的至少两个光学部件。通过使用为在光掩模的不同位置处监控的不同的光测量技术而实现用于光掩模刻蚀的改进的工艺监控。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于衬底刻蚀的装置,包括:等离子体刻蚀腔室;在所述腔室内并配置为保持光掩模版的衬底支撑构件,所述衬底支撑构件具有设置在中心区域的第一窗口以及设置在外围区域的第二窗口,所述中心区域和外围区域对应于所述掩模版的中心和外围区域;在所述外围区域中的第三窗口,并且所述第二窗口和第三窗口分别在所述外围区域的角处、及沿着所述外围区域的侧面设置;以及终点检测系统,其可通过所述第一窗口和第二窗口运动耦合至所述腔室。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:迈克尔·格里伯根
申请(专利权)人:应用材料公司
类型:发明
国别省市:美国;US

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