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阻抗测量的肯内利圆插值法制造技术

技术编号:11424599 阅读:81 留言:0更新日期:2015-05-07 03:29
本发明专利技术涉及阻抗测量的肯内利圆插值法。本发明专利技术的实施方式致力于提供一种对与电子装置相关联的阻抗数据进行插值的系统、方法以及计算机程序产品。本发明专利技术使能更快速进行电子装置阻抗分析,其又对与控制该电子装置的计算系统相关联的存储器分配有影响。一个示例性方法包括以下步骤:接收复阻抗数据;将所述复阻抗数据转换成极坐标阻抗数据,其中,所述极坐标阻抗数据限定了肯内利圆;基于与所述肯内利圆相关联的至少一个参数来归一化所述极坐标阻抗数据;以及针对选定频率来对所述极坐标阻抗数据进行插值。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种对与电子装置相关联的复阻抗数据进行插值的方法,该方法包括以下步骤:利用计算装置处理器来接收所述复阻抗数据;利用计算装置处理器将所述复阻抗数据转换成极坐标阻抗数据,其中,所述极坐标阻抗数据限定了肯内利圆;利用计算装置处理器,基于与所述肯内利圆相关联的至少一个参数来归一化所述极坐标阻抗数据;以及利用计算装置处理器,针对选定频率来对所述极坐标阻抗数据进行插值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:A·埃德格伦赵娜
申请(专利权)人:索尼公司
类型:发明
国别省市:日本;JP

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