一种X射线衍射用电化学分析原位池及测试方法技术

技术编号:11421648 阅读:101 留言:0更新日期:2015-05-06 23:26
本发明专利技术涉及一种X射线衍射用电化学分析原位池及测试方法,能够实现X射线衍射仪和电池充放电测试仪的联用。该原位池包括:固定连接的上法兰和下法兰,由下法兰中部形成的腔体,伸入腔体内的对电极柱,以及与对电极柱连接的定位装置;上法兰中间开孔,该孔上覆盖铍片,形成铍窗口;腔体内设有电极片、隔膜和对电极片;上法兰接有电极引线,对电极柱接有对电极引线。利用本发明专利技术装置,X射线衍射仪产生的X-光束通过铍窗口,对正极材料的晶体结构进行实时检测分析,有效地解决了电池材料在充放电过程中,晶体结构变化难以实时检测的问题,装置设计巧妙,操作简单,成本低。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种X射线衍射用电化学分析原位池,其特征在于,包括:固定连接的上法兰和下法兰,由下法兰中部形成的腔体,伸入腔体内的对电极柱,以及与对电极柱连接的定位装置;上法兰中间开孔,孔上覆盖铍片,形成铍窗口;腔体内设有电极片、隔膜和对电极片;上法兰接有电极引线,对电极柱接有对电极引线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:庞占永姜晓瑞周恒辉
申请(专利权)人:北大先行科技产业有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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