电容性能检测器制造技术

本发明专利技术公开了一种电容性能检测器，其特征包括：9V直流电源、多谐振荡电路、电平功率放大及显示电路、电容测试接口电路，所述的多谐振荡电路中的六反相器IC1选用的型号为CD4069。专业用的电容测量仪器对于一般电子工作人员或业余电子爱好者均难以配备。为了解决电容测量的一般技术要求，本发明专利技术所述的电容性能检测器的电路使用常见元器件，电路具有结构简单，适用于检测容量在1PF～1μF各种电容的性能，可以检测电容的断路、轻微短路或短路等问题，利用普通发光二极管发光与否来判断电容的大体性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电子元件测量
，是关于一种电容性能检测器。
技术介绍
在设计、制作各种电子装置时，首先要对所有元器件进行检查，其中电容是重点检查的对象之一。用指针式万用表检查电容性能比较麻烦，需要一定的实践经验，否则不易做到正确判断，而专业用的电容测量仪器对于一般电子工作人员或业余电子爱好者均难以配备。为了解决电容测量的一般技术要求，本专利技术所述的电容性能检测器的电路使用常见元器件，电路具有结构简单，适用于检测容量在1PF～1μF各种电容的性能，可以检测电容的断路、轻微短路或短路等问题，利用普通发光二极管发光与否来判断电容的大体性能。以下详细说明本专利技术所述的电容性能检测器在实施过程中所涉及的必要的、关键性
技术实现思路
。
技术实现思路
专利技术目的及有益效果：专业用的电容测量仪器对于一般电子工作人员或业余电子爱好者均难以配备。为了解决电容测量的一般技术要求，本专利技术所述的电容性能检测器的电路使用常见元器件，电路具有结构简单，适用于检测容量在1PF～1μF各种电容的性能，可以检测电容的断路、轻微短路或短路等问题，利用普通发光二极管发光与否来判断电容的大体性能。电路工作原理：电容性能检测器的电路由CMOS六反相器CD4069中的两个反相器G1、反相器G2等元件组成多谐振荡电路，振荡频率决定于电容C1、被测电容CX以及电阻R3的大小，一般频率在几千赫兹。当被测电容CX性能良好时，电路产生振荡，振荡信号由反相器G2输出，经过反相器G3、反相器G4隔离后，使红色发光二极管LED点亮。当被测电容CX内部断路时，电路不起振。由于偏置电阻R1的作用，使反相器G1的两端电压有较大的差别，从而使反相器G2的输出电平较高，达到6.5V左右。经电平两个反相器G3、反相器G4并联功率放大后，其输出为低电平，发光二极管LED不亮。当被测电容CX内部短路或轻微短路时，则反相器G2输出端的较高电平通过开关二极管D1使反相器G1的输入端为高电平，从而反相器G2输出也为高电平，反相器G3、反相器G4输出低电平，发光二极管LED不亮。开关二极管D1是防止测试电容短路时，反相器G1可能输出的高电平通过电阻R3加到反相器G2的输出端，使发光二极管LED发亮而产生误判。技术特征：电容性能检测器，它包括9V直流电源、多谐振荡电路、电平功率放大及显示电路、电容测试接口电路，其特征在于：多谐振荡电路：它由六反相器IC1、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电容C1和开关二极管D1组成，六反相器IC1选用的型号为CD4069，六反相器IC1的第14脚接电路正极VCC，六反相器IC1的第3脚接电阻R1的一端和电阻R2的一端，电阻R1的另一端接电路正极VCC，电阻R2的另一端接开关二极管D1的负极，六反相器IC1的第4脚接六反相器IC1的第5脚和电阻R3的一端，电阻R3的另一端接开关二极管D1的负极和电容C1的一端，开关二极管D1的正极接电容C1的另一端，六反相器IC1的第7脚接电路地GND，六反相器IC1的第6脚接电平功率放大及显示电路；电平功率放大及显示电路：六反相器IC1的第6脚接六反相器IC1的第9脚和六反相器IC1的第11脚，六反相器IC1的第8脚和六反相器IC1的第10脚接电阻R4的一端，电阻R4的另一端接发光二极管LED的正极，发光二极管LED的负极接电路地GND；电容测试接口电路：测试接口端子TX1接六反相器IC1的第9脚和六反相器IC1的第11脚，测试接口端子TX2接开关二极管D1的正极,测试接口端子TX1接被测电容CX的一端，测试接口端子TX2接被测电容CX的另一端；9V直流电源的正极接电路正极VCC，9V直流电源的负极接电路地GND。附图说明附图1是本专利技术提供一个电容性能检测器的实施例电路工作原理图；六反相器IC1的第7脚接电路地GND，六反相器IC1的第14脚接电路正极VCC；测试接口端子TX1接被测电容CX的一端，测试接口端子TX2接被测电容CX的另一端；具体实施方式按照附图1所示的电容性能检测器电路工作原理图和附图说明，并按照发明内容所述的各部分电路中元器件之间连接关系，以及实施方式中所述的元器件技术参数要求和电路制作要点进行实施即可实现本专利技术，以下结合实施例对本专利技术的相关技术作进一步的描述。元器件的技术参数及选择要求IC1为六反相器，选用的型号为CD4069，也可使用TC4069；CD4069芯片内有六个结构完全相同的反相器，共有14个引脚，其封装形式为DIP，本实施例只使用其中的四个反相器，即：反相器G1、反相器G2、反相器G3和反相器G4，它的第7脚接电路地GND，其第14脚接电路正极VCC；D1为开关二极管，选用的型号为1N4148；LED为发光二极管，选用红色高亮发光二极管；电阻均选用RTX-1/8W型碳膜电阻，电阻R1的阻值是3.3MΩ，电阻R2的阻值是100KΩ，电阻R3的阻值是43KΩ，电阻R2的阻值是620Ω；C1为电容，选用瓷介电容，其容量为2200PF；DC为9V为直流电源，因电路耗电量极小，可以使用9V叠层电池。电路制作要点、电路调试及使用方法因电容性能检测器的电路结构比较简单，一般情况下只要选用的电子元器件性能完好，并按照说明书附图1中的元器件连接关系进行焊接，物理连接线及焊接质量经过仔细检查正确无误后，本专利技术的电路基本不需要进行任何调试即可正常工作；由于电容性能检测器电路使用的元件很少，因而可用小尺寸电路板将所有元器件装进塑料盒内；电路接通9V直流电源，调整电阻R1的阻值，使反相器G2的输出端电压约为6.5V，再把电阻R1换固定电阻焊好。用几只性能完好、且容量不同的电容分别接入电容测试接口，如：发光二极管LED能够点亮，则制作完毕；使用电容性能检测器时，若发光二极管LED不闪亮，表示电容内部断线或损坏；若发光二极管LED闪亮后发光亮度仅是变暗，而不是熄灭，表示电容内部存在漏电；若发光二极管LED常亮不熄灭，表示电容内部已短路。本专利技术的电路元器件布局、电路结构设计、它的外观的形状及尺寸大小等均不是本专利技术的关键技术，也不是本专利技术要求保护的
技术实现思路
，因不影响本发明具体实施过程，故不在说明书中一一说明。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容性能检测器，它包括9V直流电源、多谐振荡电路、电平功率放大及显示电路、电容测试接口电路，其特征在于：所述的多谐振荡电路由六反相器IC1、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电容C1和开关二极管D1组成，六反相器IC1选用的型号为CD4069，六反相器IC1的第14脚接电路正极VCC，六反相器IC1的第3脚接电阻R1的一端和电阻R2的一端，电阻R1的另一端接电路正极VCC，电阻R2的另一端接开关二极管D1的负极，六反相器IC1的第4脚接六反相器IC1的第5脚和电阻R3的一端，电阻R3的另一端接开关二极管D1的负极和电容C1的一端，开关二极管D1的正极接电容C1的另一端，六反相器IC1的第7脚接电路地GND，六反相器IC1的第6脚接电平功率放大及显示电路；所述的电平功率放大及显示电路中，六反相器IC1的第6脚接六反相器IC1的第9脚和六反相器IC1的第11脚，六反相器IC1的第8脚和六反相器IC1的第10脚接电阻R4的一端，电阻R4的另一端接发光二极管LED的正极，发光二极管LED的负极接电路地GND；所述的电容测试接口电路，测试接口端子TX1接六反相器IC1的第9脚和六反相器IC1的第11脚，测试接口端子TX2接开关二极管D1的正极,测试接口端子TX1接被测电容CX的一端，测试接口端子TX2接被测电容CX的另一端；所述的9V直流电源的正极接电路正极VCC，9V直流电源的负极接电路地GND。...

【技术特征摘要】
1.一种电容性能检测器，它包括9V直流电源、多谐振荡电路、电平功率
放大及显示电路、电容测试接口电路，其特征在于：
所述的多谐振荡电路由六反相器IC1、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电容C1
和开关二极管D1组成，六反相器IC1选用的型号为CD4069，六反相器IC1的第
14脚接电路正极VCC，六反相器IC1的第3脚接电阻R1的一端和电阻R2的一
端，电阻R1的另一端接电路正极VCC，电阻R2的另一端接开关二极管D1的负
极，六反相器IC1的第4脚接六反相器IC1的第5脚和电阻R3的一端，电阻R3
的另一端接开关二极管D1的负极和电容C1的一端，开关二极管D1的正极接电
容C1的另一端，六反相器IC1的第7脚接电路地GND，...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄宇嵩，
申请(专利权)人：黄宇嵩，
类型：发明
国别省市：安徽;34