【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种接触式CPU芯片生产测试方法，其特征在于：接触式CPU芯片上电后，首先判断该接触式CPU芯片处于何种模式；如果为非测试模式，则直接进入应用模式，此时接触式CPU芯片仍采用内部时钟作为其工作时钟；如果为测试模式，则测试接触式CPU芯片所有功能；此时接触式CPU芯片同样采用内部时钟作为其工作时钟，测试后的结果保存在SRAM中；完成功能测试后，再将接触式CPU芯片的工作频率切换到外部频率，并对测试结果数据进行比对，如果和预期值一致，则通过，否则为失败。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：崔丽华，
申请(专利权)人：上海华虹集成电路有限责任公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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