电芯测试及下料控制装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种电芯测试及下料控制装置，其包括支架、固定在支架上的防护罩、设于防护罩内的测试叶轮、与测试叶轮传动连接的第一步进电机、滑动机构、固定在滑动机构上的测试探针以及第二步进电机，在支架位于测试叶轮的两侧位置设有与滑动机构配合的滑轨，第二步进电机与滑动机构传动连接，测试叶轮边缘开设有用于容置电芯的凹槽，防护罩下端开放，在防护罩两侧位于凹槽处开设有供测试探针进行探入测试的通孔。本实用新型专利技术可以通过控制第一步进电机的转动速度来控制电芯测试速度以及下料速度，测试时间完全可以根据需要进行控制，而下料速度则可以根据测试时间同步完成，同时测试探针为可移动开放式设计，其更换更为便捷。

【技术实现步骤摘要】
电芯测试及下料控制装置
本技术涉及电芯测试技术，尤其涉及一种电芯测试及下料控制装置。
技术介绍
现有技术中的电芯测试装置以及电芯下料控制装置存在以下缺点:电芯测试速度及下料速度不易控制、电芯测试时间不易根据使用者需求进行控制，而且下料速度难以根据测试时间同步完成，同时用于对电芯电极进行测试的测试探针较易损耗而不易更换。
技术实现思路
本技术旨在解决上述现有技术中存在的问题，提出一种电芯测试及下料控制 目.ο 本技术提出的电芯测试及下料控制装置包括支架、固定在所述支架上的防护罩、设于所述防护罩内的测试叶轮、与所述测试叶轮传动连接的第一步进电机、滑动机构、固定在所述滑动机构上的测试探针以及第二步进电机，在所述支架位于所述测试叶轮的两侧位置设有与所述滑动机构配合的滑轨，所述第二步进电机与所述滑动机构传动连接，所述测试叶轮边缘开设有用于容置所述电芯的凹槽，所述防护罩下端开放，在所述防护罩两侧位于所述凹槽处开设有供所述测试探针进行探入测试的通孔。 优选地，所述第二步进电机通过凸轮与所述滑动机构传动连接。 优选地，所述测试叶轮的转轴所在直线方向与所述滑轨所在直线方向相互平行。 优选地，所述测试探针与内阻测试仪相连接。 优选地，所述测试叶轮上设有四个所述凹槽，所述凹槽在所述测试叶轮上均匀分布。 本技术提出的电芯测试及下料控制装置可以通过控制第一步进电机的转动速度来控制电芯测试速度以及下料速度，测试时间完全可以根据需要进行控制，而下料速度则可以根据测试时间同步完成，同时测试探针为可移动开放式设计，其更换更为便捷。 【附图说明】 图1为本技术一实施例的装备防护罩的电芯测试及下料控制装置结构图； 图2为本技术一实施例的去除防护罩的电芯测试及下料控制装置结构图。 【具体实施方式】 下面结合具体实施例及附图对本技术作进一步详细说明。下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术的技术方案，而不应当理解为对本技术的限制。 在本技术的描述中，术语“内”、“外”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术而不是要求本技术必须以特定的方位构造和操作，因此不应当理解为对本技术的限制。 本技术提供一种电芯测试及下料控制装置，如图1以及图2所示，本技术提出的电芯测试及下料控制装置包括支架7、固定在支架7上的防护罩8、设于防护罩8内的测试叶轮2、与测试叶轮2传动连接的第一步进电机1、滑动机构5、固定在所述滑动机构上的测试探针6以及第二步进电机3。其中，在支架7位于测试叶轮2的两侧位置设有与滑动机构5配合的滑轨71，第二步进电机3与滑动机构5传动连接，测试叶轮2边缘开设有用于容置待测试电芯的凹槽21，防护罩8下端开放，在防护罩8两侧位于凹槽21处开设有供测试探针6进行探入测试的通孔81。优选地，如图1所示，第二步进电机3通过凸轮4与滑动机构5传动连接。 下文结合上述实施例对本技术提出的电芯测试及下料控制装置工作原理作进一步阐述:第一步进电机I带动测试叶轮2转动，容置于凹槽21内的待测试电芯随测试叶轮2—齐转动。第二步进电机3通过凸轮4带动滑动机构5在滑轨71上滑动。当需要对待测试电芯进行测试时，可以控制第一步进电机I转动使容置于凹槽21内的待测试电芯两极对齐通孔81并暂停第一步进电机I的工作，再控制第二步进电机3，通过凸轮4带动滑动机构5在滑轨71上滑动，使两侧的测试探针6沿滑轨71相向运动并向容置于凹槽21内的待测试电芯两极夹紧，直到两侧的测试探针6探入通孔81并触碰到容置于凹槽21内的待测试电芯的两极，然后通过与测试探针6相连接的内阻测试仪进行电芯测量。当测量完毕后，控制第二步进电机3，通过凸轮4带动滑动机构5在滑轨71上滑动，使两侧的测试探针6沿滑轨71相互向反方向运动，松开对容置于凹槽21内的待测试电芯两极的测试，再进一步控制第一步进电机I带动测试叶轮2转动，使下一个待测试电芯随测试叶轮2转动并对齐通孔81使得测试探针6可以进行探入测试，并重复上述步骤。完成测试的电芯随测试叶轮2继续转动并从防护罩8的下端开口处掉落至收容槽内。 优选地，测试叶轮2的转轴所在直线方向与滑轨71所在直线方向相互平行，该设计可以使得测试探针6对容置于凹槽21内的待测试电芯进行测试时定位更加精确。测试叶轮2上还可以采用四个所述凹槽的设计，并且所述凹槽在测试叶轮2上均匀分布，该设计可以使得第一步进电机I每转动九十度即可完成对一个待测试电芯进行测试。 本技术提出的电芯测试及下料控制装置可以通过控制第一步进电机I的转动速度来控制电芯测试速度以及下料速度，测试时间完全可以根据需要进行控制，而下料速度则可以根据测试时间同步完成，同时测试探针6为可移动开放式设计，其更换更为便捷。 虽然本技术参照当前的较佳实施方式进行了描述，但本领域的技术人员应能理解，上述较佳实施方式仅用来解释和说明本技术的技术方案，而并非用来限定本技术的保护范围，任何在本技术的精神和原则范围之内，所做的任何修饰、等效替换、变形、改进等，均应包含在本技术的权利要求保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电芯测试及下料控制装置，其特征在于，包括支架、固定在所述支架上的防护罩、设于所述防护罩内的测试叶轮、与所述测试叶轮传动连接的第一步进电机、滑动机构、固定在所述滑动机构上的测试探针以及第二步进电机，在所述支架位于所述测试叶轮的两侧位置设有与所述滑动机构配合的滑轨，所述第二步进电机与所述滑动机构传动连接，所述测试叶轮边缘开设有用于容置所述电芯的凹槽，所述防护罩下端开放，在所述防护罩两侧位于所述凹槽处开设有供所述测试探针进行探入测试的通孔。

【技术特征摘要】
1.一种电芯测试及下料控制装置，其特征在于，包括支架、固定在所述支架上的防护罩、设于所述防护罩内的测试叶轮、与所述测试叶轮传动连接的第一步进电机、滑动机构、固定在所述滑动机构上的测试探针以及第二步进电机，在所述支架位于所述测试叶轮的两侧位置设有与所述滑动机构配合的滑轨，所述第二步进电机与所述滑动机构传动连接，所述测试叶轮边缘开设有用于容置所述电芯的凹槽，所述防护罩下端开放，在所述防护罩两侧位于所述凹槽处开设有供所述测试探针进行探入测试的通孔。...

【专利技术属性】
技术研发人员：乐中化，
申请(专利权)人：深圳迈森自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44