【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种金属基带上外延CeO2厚膜的电化学沉积方法,其特征在于,具体工艺步骤为:a.配置溶液过程:首先称取定量的无机铈盐作为溶质,然后用二甲基亚砜或含有1~10%无水乙醇的二甲基亚砜试剂作为溶剂,将无机铈盐稀释溶解,通过密封搅拌接近10个小时,形成铈离子浓度为1~5 mmol/L的铈盐溶液;b. 电沉积过程:将在所述步骤a中制备的铈盐溶液倒入沉积反应容器中,将金属基带作为阴极,另外采用辅助电极作为阳极,形成电镀反应装置,金属基带在沉积前依次在丙酮和无水乙醇中超声清洗5 min,沉积过程采用恒流模式,电流密度为0.1~1 mA/cm2, 沉积时间为3 ~ 16 min,通过调整电流密度和沉积时间控制沉积速率和沉积膜的厚度,电化学沉积后将金属基带再依次用无水乙醇漂洗,干燥,获得前驱物膜;c. 高温退火过程:将在所述步骤b中所得前驱物膜放入非真空高温管式炉,在炉内流动的还原气氛中进行退火热处理,从室温以10℃/min的升温速率升至800~950℃,保温1小时后,随炉自然冷却至室温,即在金属基带上得到厚度为60~ 300nm的外延单层CeO2缓冲层厚膜。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:蔡传兵,桑丽娜,鲁玉明,刘志勇,白传易,
申请(专利权)人:上海大学,
类型:发明
国别省市:上海;31
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