磁颗粒荧光聚集检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种能够检测磁颗粒聚集荧光的装置。本发明专利技术是利用小磁柱聚集荧光标记的磁颗粒，形成小磁柱圆面积大小且几乎无堆叠的磁颗粒面，利用长工作距离物镜收集由激光激发磁颗粒面发出的荧光，通过光电检测模块测量荧光强度，用计算机记录并处理数据。小磁柱将磁颗粒束缚在较大的区域面积内，由于磁颗粒本身不足以覆盖这个面积，所以减少了磁颗粒的堆叠。而且长工作距离物镜具有较大的收集面积，可以收集到全部磁珠束缚面积的荧光，并保证了倾斜激发光能够照射到样品面。总之，磁颗粒荧光聚集检测装置，既能够利用磁颗粒荧光聚集带来的荧光增强效果，又减少了磁颗粒堆叠带来的损失，又能将较大面积的荧光全部收集，提高了荧光的收集效率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
本专利技术的磁颗粒荧光聚集检测装置包括：1个激光器，1个小磁柱，小磁柱翻转固定装置，盖玻片，1个20x长工作距离物镜，2个凸透镜，1个反射镜，1片滤光片，1个光电倍增管，1个电压采集模块，计算机。装置采用了激光激发荧光，滤光片滤掉激发光，荧光经光电转换后由计算机采集的过程，其主要特征在于：小磁柱将荧光标记的磁颗粒聚集并平铺在其上表面的盖玻片上，形成了与磁柱上表面面积相当的磁颗粒聚集区，磁颗粒不完全覆盖整个小磁柱上表面面积，会以较为分散并无明显堆叠的形式分布在磁颗粒聚集斑内，激光正向斜照射磁颗粒面，长工作距离物镜对激发出的荧光收集，由于其收集面积较大，能够覆盖整个磁颗粒聚焦斑，提高收集效率。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：叶青，邓志超，王槿，孙腾骞，张春平，田建国，
申请(专利权)人：南开大学，
类型：发明
国别省市：天津;12